X-ray diffraction (XRD) instruments

X-ray kristalografi adalah alat yang digunakan untuk mengidentifikasi struktur atom dan
molekul kristal, di mana atom kristal menyebabkan seberkas sinar-X untuk menuju ke banyak
arah tertentu. Dengan mengukur sudut dan intensitas ini sampel akan terdifraksi. Salah satu
contoh alatnya adalah X-Ray Diffractrometer (XRD).

Pengguna X-ray kristalografi dapat menghasilkan gambar tiga dimensi dari kepadatan
elektron dalam kristal. Dari kerapatan elektron ini, posisi rata-rata dari atom dalam kristal dapat
ditentukan, serta ikatan kimia mereka dan berbagai informasi lainnya.

Teknik difraksi sinar-X digunakan untuk identifikasi fase kristal berbagai bahan dan
analisis fase kuantitatif setelah identifikasi. Teknik difraksi sinar-X lebih unggul dalam
menjelaskan struktur atom tiga dimensi padatan kristal. Sifat dan fungsi bahan sangat tergantung
pada struktur kristal. Oleh karena itu, teknik difraksi sinar-X telah banyak digunakan sebagai
sarana yang sangat diperlukan dalam penelitian, pengembangan, dan produksi bahan.

Karena banyak bahan dapat membentuk kristal-seperti garam, logam, mineral,

semikonduktor, serta berbagai anorganik, organik dan molekul lainnya. Alat X-ray kristalografi
menjadi penting dan telah mendasar dalam pengembangan berbagai bidang ilmiah.

Dalam dekade pertama penggunaannya, metode ini menentukan ukuran atom, panjang
dan jenis ikatan kimia, dan perbedaan skala atom diantara berbagai bahan, terutama mineral dan
campuran logam. Metode ini juga mengungkapkan struktur dan fungsi dari banyak molekul
biologis, termasuk vitamin, obat-obatan, protein dan asam nukleat seperti DNA.

X-ray kristalografi masih merupakan metode utama untuk mencirikan struktur atom pada
material baru dan bahan spesifik yang muncul mirip dengan eksperimen lainnya. Struktur kristal
X-ray juga dapat menjelaskan sifat elektronik atau elastisitas yang tidak biasa dari material, dan
mampu menjelaskan interaksi kimia dan prosesnya, serta sebagai dasar untuk merancang obat-
obatan terhadap penyakitnya.

Dalam pengukuran difraksi sinar-X kristal tunggal, kristal dipasang pada goniometer.
Goniometer yang digunakan untuk posisi kristal pada orientasi yang dipilih. Kristal diterangi
dengan sinar monokromatik dari sinar-X yang mampu menghasilkan pola difraksi seperti bintik-
bintik dengan jarak teratur yang dikenal sebagai refleksi.

Karena banyak bahan dapat membentuk kristal-seperti garam, logam, mineral,

semikonduktor, serta berbagai anorganik, organik dan molekul lainnya. Alat X-ray kristalografi
menjadi penting dan telah mendasar dalam pengembangan berbagai bidang ilmiah.

Dalam dekade pertama penggunaannya, metode ini menentukan ukuran atom, panjang
dan jenis ikatan kimia, dan perbedaan skala atom diantara berbagai bahan, terutama mineral dan
campuran logam. Metode ini juga mengungkapkan struktur dan fungsi dari banyak molekul
biologis, termasuk vitamin, obat-obatan, protein dan asam nukleat seperti DNA.

X-ray kristalografi masih merupakan metode utama untuk mencirikan struktur atom pada
material baru dan bahan spesifik yang muncul mirip dengan eksperimen lainnya. Struktur kristal
X-ray juga dapat menjelaskan sifat elektronik atau elastisitas yang tidak biasa dari material, dan
mampu menjelaskan interaksi kimia dan prosesnya, serta sebagai dasar untuk merancang obat-
obatan terhadap penyakitnya.

Dalam pengukuran difraksi sinar-X kristal tunggal, kristal dipasang pada goniometer.
Goniometer yang digunakan untuk posisi kristal pada orientasi yang dipilih. Kristal diterangi
dengan sinar monokromatik dari sinar-X yang mampu menghasilkan pola difraksi seperti bintik-
bintik dengan jarak teratur yang dikenal sebagai refleksi.

Persamaan Bragg, nλ = 2dsinθ adalah salah satu kunci untuk memahami

difraksi sinar-X. Dalam persamaan ini, n adalah bilangan bulat, λ adalah panjang
gelombang karakteristik sinar-X yang menimpa sampel kristalisasi, d adalah jarak
antarplanar antara barisan atom, dan θ adalah sudut dari berkas sinar-X
sehubungan dengan ini pesawat. Ketika persamaan ini terpenuhi, sinar-X yang
tersebar oleh atom-atom dalam bidang struktur periodik berada dalam fase dan
difraksi terjadi dalam arah yang ditentukan oleh sudut θ. Pada contoh paling
sederhana, eksperimen difraksi sinar-X terdiri dari satu set intensitas difraksi dan
sudut di mana mereka diamati. Pola difraksi ini dapat dianggap sebagai sidik jari
kimia, dan identifikasi bahan kimia dapat dilakukan dengan membandingkan pola
difraksi ini dengan basis data pola yang dikenal.

Berikut adalah difraksi sinar-X serbuk khas atau pola XRD, dalam hal ini,
sampel semen.