TUGAS RESUME

MATA KULIAH RISTALOGRAFI DAN MINERALOGRAFI

Teknik Difraksi Sinar-X (XRD)

 Difraksi Sinar-X adalah sebuah metode yang mengandalkan sifat-sifat radiasi

sinar-X untuk mengungkapkan struktur atom dalam bahan kristal. Teknik ini
berguna untuk mengukur jarak antar atom dan sudut antara ikatan kimia dalam
suatu kristal. Ketika sinar-X mengenai sampel kristal, mereka mengalami
difraksi atau pemantulan, menciptakan pola difraksi yang mencerminkan
susunan atom dalam sampel tersebut.

 Aplikasi Utama XRD:

1) Kristalografi: menentukan struktur kristal zat murni, seperti mineral,
senyawa kimia, dan logam. Ini memungkinkan ilmuwan untuk memahami
cara atom-atom dalam kristal tersusun dan bagaimana mereka berinteraksi.
2) Ilmu Material: mengkarakterisasi bahan-bahan padat seperti keramik,
polimer, dan logam. Hal ini membantu dalam pengembangan material baru
dengan sifat-sifat yang diinginkan.
3) Industri: mengontrol mutu dan mengidentifikasi fase-fase dalam bahan
seperti semen, farmasi, dan semikonduktor.
4) Geologi: mengidentifikasi mineral dan batuan, serta memahami sejarah
geologi suatu daerah.
5) Bioteknologi: mengkarakterisasi struktur kristal protein dan biomolekul,
membantu dalam pengembangan obat-obatan dan biokimia.

 Prinsip kerja utama dari XRD

1) Penyinaran Sampel
Sinar-X diarahkan pada sampel kristal yang akan dianalisis. Sinar-X ini
berinteraksi dengan atom dalam kristal.
2) Difraksi
Ketika sinar-X bertemu dengan atom dalam kristal, mereka mengalami
difraksi atau pemantulan. Pemantulan ini disebabkan oleh gangguan dalam
pola gelombang sinar-X ketika mereka bertemu dengan atom dalam
sampel.
3) Pemantulan Bragg
TUGAS RESUME
MATA KULIAH RISTALOGRAFI DAN MINERALOGRAFI

Pemantulan sinar-X mengikuti hukum pemantulan Bragg, yang

dirumuskan oleh William Henry Bragg dan putranya William Lawrence
Bragg. Hukum ini menyatakan bahwa pemantulan sinar-X akan terjadi
dengan sudut tertentu jika panjang gelombang sinar-X, jarak antar atom
dalam kristal, dan sudut pemantulan memenuhi kondisi tertentu. Dalam hal
ini, sudut pemantulan dan panjang gelombang sinar-X yang terukur
digunakan untuk menentukan jarak antar atom dalam kristal.
4) Deteksi Pola Difraksi
Pola difraksi yang dihasilkan oleh interaksi sinar-X dengan sampel diukur
dan direkam oleh detektor. Pola difraksi ini mencerminkan susunan atom
dalam kristal dan memberikan informasi tentang jarak antar atom serta
sudut di antara ikatan kimia.
5) Analisis Data
Data pola difraksi sinar-X kemudian diolah menggunakan perangkat lunak
khusus untuk menentukan struktur kristal sampel. Dengan
membandingkan pola difraksi yang diukur dengan pola yang diharapkan
untuk berbagai struktur kristal yang mungkin, peneliti dapat
mengidentifikasi struktur kristal yang sesuai dengan data eksperimental.