Nama : Naufal Aulia Adam

NRP

: 1113100097
RESUME JURNAL

Selama beberapa tahun terakhir kualitas rekaman X-ray digital telah meningkat. Saat ini,
penelitian lebih lanjut sedang dilakukan dalam bidang prosedur dan program otomatis untuk
menafsirkan informasi gambar digital yang tersedia. Prosedur tersebut sangat menarik untuk
analisis pola difraksi yang dihasilkan selama penyelidikan struktur kristalografi material,
terutama untuk Kossel dan teknik X-ray Rotasi Tilt (XRT). Untuk teknik ini diperlukan keahlian
mendeteksi dan mengevaluasi yang sangat akurat untuk mendapatkan informasi difraksi. Sampai
saat ini, proses yang sesuai yang berasal dari kombinasi teknik yang berbeda telah dikembangkan
dan digunakan. Ini terdiri dari dua bagian utama: deteksi benda yang dihasilkan diikuti dengan
model sub-pixel dari garis refleksi. Pertama sebuah HOUGH tiga dimensi transformasi yang
digunakan dari objek awal parameter yang banyak ditentukan. Atas dasar uraian perkiraan ini
langkah berikutnya dilakukan di mana parameter objek nyata dan tepat dihitung dan masuk ke
dalam model geometris. Dengan hasil tersebut, parameter gambar dan kisi lainnya masingmasing dapat ditentukan. Data yang diperoleh dengan metode ini dari rekaman tunggal cocok
untuk perhitungan strain tensor presisi yang dapat ditransfer menggunakan konstanta elastis
dalam sisa stres tensor. Metode ini sangat baik cocok untuk akurasi tinggi teknik Kossel. Selain
itu, karena evaluasi ini kuantitatif baru ada potensi untuk membuat analisis sistematis fenomena
dasar ilmu material berbasis, seperti dioleskan atau double refleksi maxima dan maxima lokal di
sepanjang refleksi, dan memberikan kepada efek kristalografi.
Untuk memanfaatkan potensi penuh dari metode difraksi sinar-X, seperti presisi tinggi Kossel
dan teknik X-ray Rotasi Tilt (XRT), diperlukan deteksi dan evaluasi proses yang cepat dan
otomatis untuk rekaman digital atau Film digital. Metode yang disajikan memfasilitasi akses
cepat ke database yang memiliki beragam banyak gambar difraksi sinar-X yang dapat dievaluasi
melalui penerapan proses yang otomatis. Metode yang digunakan untuk deteksi kerucut garis
refleksi difraksi berbentuk terdiri dari dua bagian: deteksi kasar objek gambar yang diinginkan
diikuti oleh model sub-pixel selanjutnya garis refleksi. Di satu sisi Database yang dihasilkan

dapat secara keseluruhan digunakan untuk analisis kuantitatif fenomena dasar berbasis ilmu
pengetahuan materi dengan tujuan menghubungkan kelainan refleksi untuk kristalografi cacat.
Di sisi lain, karena registrasi struktur refleksi halus, kumpulan data individu sangat cocok untuk
perhitungan langsung dan output presisi sisa tensor stres.