Anda di halaman 1dari 30

Bab

Difraksi Sinar-X
2.

Pendahuluan

1
2.

Prinsip Difraksi Sinar-X

2
2.

Kisi Kristal

3
2.

Interaksi Sinar-X dengan Kristal

4
2.

Teknik Eksperimen Difraksi Serbuk

5
2.5.1 Beberapa tujuan dari penyiapan
spesimen
2.5.2 Beberapa kesalahan yang berasal dari
spesimen
2.5.3 Penghalusan spesimen
2.5.4 Pemuatan spesimen pada sample
2.

holder
Aplikasi Difraksi Sinar-X

2-1

6
2.6.1 Identifikasi fasa
2.6.2 Dinamika fasa sebagai fungsi suhu
2.6.3 Penghalusan struktur (refinement)
2.6.4 Penentuan ukuran kristal

2-2

2.1 Pendahuluan
Difraksi sinar-X adalah sebuah metode analisis menggunakan instrumen yang
digunakan secara luas pada beragam bidang penelitian. Penggunaannya mulai dari
yang paling sederhana seperti penentuan fase untuk mengetahui produk dari suatu
proses pembuatan bahan tertentu yang dilakukan secara rutin hingga penentuan
struktur kristal dan penentuan dinamika struktur yang sangat rumit. Contoh
penggunaan rutin difraksi sinar-X adalah pada analisis fasa penyusun semen pada
pabrik pembuatan semen. Sementara itu aplikasi yang lebih rumit adalah seperti
penentuan struktur suatu protein dan superkonduktor yang dapat bekerja pada suhu
tinggi.
Mengingat luasnya cakupan mengenai metode difraksi sinar-X, maka pada buku ini
ulasan yang disampaikan dibatasi pada aplikasi metode difraksi yang umum
digunakan dalam penelitian-penelitian bidang katalis dan katalisis. Fokus ulasan pada
buku ini lebih dipersempit kepada teknik difraksi fasa serbuk yang fasilitasnya mudah
ditemukan di banyak laboratorium zat padat dan kristalografi di lembaga-lembaga
penelitian maupun di perguruan tinggi atau universitas.
Pada buku ini, ulasan tentang teknik difraksi sinar-X dimulai dari prinsip dasar difraksi
sinar-X yang meliputi proses pembangkitan sinar-X, interaksi sinar-X dengan atom
dan kisi kristal, dan peralatan difraktometer serta contoh sederhana output dari proses
analisis data difraksi. Selanjutnya akan diulas mengenai kisi kristal dan interaksi sinarX monokromatis dengan kisi kristal tersebut kemudian diakhiri dengan contoh-contoh
aplikasi dan penjelasannya pada penelitian bidang katalis.

2.2 Prinsip Difraksi Sinar-X


Sinar-X adalah radiasi elektromagnetik dengan energi foton antara 100 eV sampai 100
keV. Sinar ini digunakan dalam berbagai bidang seperti kedokteran, sipil (bangunan),
keamanan, dan sains. Penggunaan sinar-X dalam bidang kedokteran dikenal sebagai
Rontgen, sama seperti nama penemu radiasi sinar-X, yang digunakan untuk
mendiagnosis suatu penyakit yang ada di dalam tubuh manusia. Pada bidang sipil,
sinar-X digunakan untuk menganalisis kerusakan struktur internal, seperti retakan dari
suatu beton, sehingga dapat mengetahui apakah suatu beton penunjang struktur
masih layak pakai atau tidak. Pada bidang keamanan, sinar-X banyak digunakan
untuk memeriksa apakah pada barang-barang bawaan terdapat barang-barang yang
berbahaya. Pada bidang sains, sinar-X digunakan untuk menganalisis komposisi
unsur-unsur kimia suatu bahan/zat dan juga mineralogi/struktur kristal dari suatu
bahan. Untuk mengetahui mineralogi atau struktur kristal dari suatu bahan, teknik
sinar-X yang digunakan adalah difraksi atau lebih lengkapnya disebut sebagai teknik

2-3

difraksi sinar-X. Teknik ini secara umum lebih dikenal dalam bahasa inggrisnya
sebagai X-Rays Diffraction (XRD).
Pada aplikasi difraksi, hanya panjang gelombang sinar-X yang pendek saja yang
digunakan, yaitu antara beberapa Angstrom sampai 0,1 Angstrom (setara dengan 1
keV sampai 120 keV). Karena panjang gelombang sinar-X setara dengan ukuran
atom, maka sinar-X tersebut sangat ideal digunakan untuk membaca struktur dari
susunan atom-atom di dalam suatu bahan atau material. Sinar-X yang berenergi tinggi
ini dapat menembus hingga ke bagian dalam dari material sehingga dapat memberi
informasi tentang struktur susunan atom-atom dari material itu secara utuh, bukan
hanya pada permukaannya saja.

mangkuk
pemfokus
filamen
vakum
wadah/
pelindung

jendela
anoda

air
pendingin

Gambar 2.1 Generator sinar-X (tabung sinar-X)

Lintasan
elektron
datang

Foton
Bremsstrahlung

(A)

(B)

Gambar 2.2 (A) Interaksi berkas elektron berenergi tinggi dengan atom yang
menyebabkan perlambatan elektron dan menghasilkan foton

2-4

Bremsstrahlung, (B) Bentuk khas radiasi Bremsstrahlung, di mana


Channel setara dengan panjang gelombang dan Counts menunjukkan
intensitas sinar-X
Sinar-X umumnya dihasilkan dari tabung sinar-X (Gambar 2.1) atau radiasi
synchrotron. Di dalam tabung sinar-X, yaitu sumber utama sinar-X yang umum
digunakan di laboratorium instrumen sinar-X, sinar-X dihasilkan ketika berkas elektron
yang dipercepat dengan medan bervoltase tinggi diarahkan untuk menumbuk suatu
target padatan tertentu yang diam atau berputar. Saat elektron berenergi dan
berkecepatan tinggi tersebut menumbuk atom-atom di dalam padatan target maka
elektron-elektron itu mengalami perlambatan sekaligus melepaskan radiasi sinar-X
dengan spektrum kontinu yang disebut radiasi Bremsstrahlung (Gambar 2.2).
Elektron orbital yang terusir
Lintasan
elektron
datang

Elektron datang
setelah interaksi

Emisi
foton
multiple

Emisi
foton
single

(A)

Intensitas

Panjang gelombang

2-5

(B)
Gambar 2.3 (A) Interaksi berkas elektron berenergi tinggi dengan atom target, (B)
Spektrum sinar-X yang dipancarkan oleh tabung sinar-X dengan target
logam tembaga
Elektron-elektron berenergi tinggi dapat pula melontarkan elektron-elektron pada kulit
terdalam pada atom-atom padatan target melalui proses ionisasi (Gambar 2.3). Akibat
terlontarnya elektron di kulit terdalam itu, elektron-elektron bebas yang ada di kulit
lebih luar dapat mengisi tempat yang kosong di kulit terdalam sekaligus melepaskan
sinar-X yang bersifat diskrit dan khas untuk padatan target yang digunakan. Padatan
target yang umum digunakan adalah Cu and Mo yang memancarkan sinar-X dengan
energi berturut-turut 8 dan 14 keV atau sama dengan panjang gelombang 1,54 dan
0,8 . (Energi, E, suatu foton berhubungan dengan panjang gelombangnya
berdasarkan persamaan:

hc

(2.1)

di mana h adalah konstanta Planck dan c adalah laju perambatan sinar di ruang
hampa).
Jika berkas sinar-X monokromatik (sinar-X dengan panjang gelombang tertentu)
menumbuk suatu material, maka sinar-X tersebut dapat dipantulkan oleh atom-atom
penyusun material sesuai dengan hukum pemantulan sinar tampak oleh cermin.
Apabila atom-atom pada material tersebut tersusun dengan rapi dan berulang,
sebagaimana terdapat pada material kristalin, maka akan diperoleh pola pantulan
yang berulang serta mengikuti prinsip difraksi sinar tampak oleh celah sempit. Pola
difraksi adalah pola gelap-terang dari sinar yang dipantulkan akibat interaksi berkas
sinar yang saling melemahkan-menguatkan. Berkas dari dua atau lebih sinar dengan
panjang gelombang dan fasa gelombang yang sama akan menghasilkan pola terang
karena berkas-berkas sinar tersebut saling menguatkan. Sementara itu, berkas dua
atau lebih sinar dengan fasa berbeda, walaupun panjang gelombangnya sama, akan
menghasilkan pola gelap karena terjadi pelemahan. Untuk memenuhi kondisi tersebut,
maka berkas sinar yang dipantulkan oleh dua buah bidang pemantul atau lebih hanya
akan saling menguatkan apabila memenuhi persamaan sebagai berikut:
n = 2d sin

(2.2)

di mana n adalah orde sinar (bilangan bulat, mulai dari 1), adalah panjang
gelombang dari berkas sinar, d adalah jarak antar bidang pemantul, dan adalah
sudut pantulan (sama dengan 90o dikurangi dengan sudut normal berkas sinar
datang). Persamaan 2.2 di atas dikenal dengan Hukum Bragg, sedangkan skema
proses pemantulan sinarnya ditunjukkan oleh Gambar 2.4.
Pada material kristalin, atom-atom penyusunnya tersusun sedemikian rupa sehingga
bentuknya menyerupai bidang-bidang dengan jarak antar bidang yang tertentu dan
tiap atom tersebut dapat memantulkan berkas sinar-X. Susunan atom-atom yang

2-6

teratur seperti itu tidak terdapat pada material yang bersifat amorf, karena pada
material amorf atom-atom penyusunnya tersusun secara acak. Apabila ada
keteraturan susunan pada material amorf, maka keteraturan tersebut hanya
terjadi/ada dalam jarak yang sangat pendek dan daerah yang sangat kecil saja. Oleh
karena itu, hanya material yang bersifat kristalin saja yang dapat menghasilkan pola
difraksi yang menunjukkan struktur kristalinnya, sedangkan fasa amorf tidak dapat.
Bidang gelombang
datang

Interferensi konstruktif
ketika

n = 2d sin
Hukum Bragg

Gambar 2.4 Difraksi


sinar-X
oleh
kisi
kristal
(http://xray0.princeton.edu/~phil/Facility/Guides/XrayDataCollection.html)
Pola difraksi sinar-X dari suatu material kristalin adalah khas, sesuai dengan struktur
kristalnya serta atom-atom penyusunnya. Contoh pola difraksi padatan -Al 2O3, yaitu
suatu padatan kristalin dari oksida alumunium yang dikenal dengan nama corundum,
ditunjukkan oleh Gambar 2.5.

Gambar 2.5 Contoh difraktogram sinar-X material corundum ( -Al2O3)


Pola difraksi seperti ditunjukkan oleh Gambar 2.5 di atas dihasilkan oleh instrumen
difraktometer. Instrumen tersebut terdiri dari generator sinar-X (lampu sinar-X),
goniometer, dan detektor yang dilengkapi dengan pembangkit tegangan tinggi. Contoh
difraktometer modern ditunjukkan oleh Gambar 2.6, sedangkan skema komponen
sebuah difraktogram ditunjukkan pada Gambar 2.7.

2-7

Gambar 2.6 Difraktometer modern

celah detektor
detektor

celah
aperture

celah
soller

tabung
sinar-X
monokromator
sekunder

2 tetha (2)
sampel

tetha ()

Gambar 2.7 Diagram komponen difraktometer yang terdiri dari tabung sinar-X,
spesimen, dan detektor. Tabung sinar-X bersifat stasioner, sementara
spesimen berputar sebesar sudut , dan detektor berputar sebesar
sudut 2

2-8

2.3 Kisi Kristal


Kristal merupakan kumpulan atom-atom, ion-ion atau molekul-molekul yang tersusun
secara berulang dan teratur di dalam suatu ruang. Untuk dapat disebut kristal,
keteraturan susunan tersebut harus menjangkau jarak yang cukup panjang. Susunan
atom, ion atau molekul yang membentuk kristal secara sederhana ditunjukkan oleh
Gambar 2.8.
kristal
molekul

unit sel

Gambar 2.8 Susunan molekul-molekul membentuk sel satuan (unit cell) kemudian
menjadi kristal
Garis-garis pada bidang yang membatasi satu sel satuan dengan sel satuan lainya
disebut dengan kisi kristal (crystal lattice). Misalnya ada sekumpulan atom sejenis
membentuk kristal berbentuk kubus seperti ditunjukkan oleh Gambar 2.9. Garis-garis
berwarna kuning pada satu sel satuan kubus merupakan garis kisi kristal. Titik-titik
sudut yang menghubungkan garis-garis kisi disebut dengan titik kisi (lattice point) yang
berupa atom, ion ataupun molekul. Oleh karena itu, parameter-parameter yang
diperlukan untuk menjelaskan suatu kisi kristal adalah panjang garis kisi dan sudut
antar garis kisi.

Gambar 2.9 Contoh kisi kristal

2-9

Tabel 2.1 Sistem kristal dan kisi kristal yang mungkin


Sistem kristal
dan simetri

Kisi Bravais

triklinik
(tidak ada)
sederhana

berpusat dasar

sederhana

berpusat dasar

sederhana

berpusat badan

sederhana

berpusat badan berpusat muka

monoklinik
(1 diad)

berpusat badan berpusat muka

ortorombik
(3 diads saling
tegak lurus)

heksagonal
(1 hexad)

rombohedral
(1 triad)

tetragonal
(1 tetrad)

kubus
(4 triads)

Karena susunan sel satuan pada kristal harus bersifat teratur dalam jangkauan yang
luas, maka susunan tersebut dibatasi oleh sifat-sifat dan operasi simetri. Dengan
batasan ini, maka hanya terdapat 7 sistem kristal yang mungkin terjadi pada kristal.
Dari ke tujuh sistem kristal ini, hanya ada 14 sistem kisi yang mungkin ada yang

2-10

dikenal dengan sebutan kisi Bravais (Bravais lattice). Ketujuh sistem kristal dan kisi
Bravais yang menyertainya ditunjukkan oleh Tabel 2.1.
Tabel 2.2 Jarak antar bidang pada kisi kristal kubus
Bidang

Jarak antar bidang (d)

(100)

a0

a0

(110)

2
a0

(111)

(hkl)

3
a0
h k2 l2
2

Gambar 2.10 Bidang-bidang kristal pada kisi kristal kubus

2-11

Kumpulan dari atom-atom, ion-ion atau molekul-molekul penyusun kristal yang sama
membentuk bidang-bidang kristal. Jika panjang garis kisi kristal dalam satu unit sel
pada arah x, y, dan z berturut-turut adalah a, b, dan c, maka bidang-bidang kristal
tersebut dapat diwakili oleh indeks Miller (hkl), dengan:

1
a

1
b

1
c

(2.3)

Setiap angka indeks pada indeks Miller adalah bilangan bulat mulai dari 0. Suatu
bidang kristal dengan indeks Miller (100) merupakan bidang kristal yang memotong
sumbu x pada titik a dari pusat koordinat, sedangkan bidang (200) berarti bidang yang
memotong sumbu x pada jarak a dari pusat koordinat. Bidang (111) adalah bidang
yang memotong sumbu x pada jarak a, sumbu y pada jarak b, dan sumbu z pada jarak
c dari pusat koordinat. Oleh karena itu, untuk suatu sistem kubus dengan panjang kisi
sebesar a0 akan memiliki bidang kristal dengan jarak (d) seperti ditunjukkan pada
Tabel 2.2. Contoh dari bidang-bidang kristal yang terdapat pada kristal kubus
ditampilkan pada Gambar 2.10.

2.4 Interaksi Sinar-X dengan Kristal


Bidang-bidang kristal sebagaimana dijelaskan pada sub-Bab 2.3 dalam proyeksi dua
dimensi merupakan bidang pemantul sinar-X seperti yang dilukiskan oleh Gambar 2.4.
Untuk suatu kristal kubus, misalnya kristal garam NaCl, akan terdapat beberapa
bidang dengan jarak antar bidang (d) yang berbeda-beda. Sebagai akibatnya, apabila
seberkas sinar-X dijatuhkan kepada kristal tersebut dengan sudut pantul yang
bervariasi mulai dari sudut kecil sampai sudut besar, maka sesuai dengan hukum
Bragg akan dihasilkan pola terang-gelap yang jika diplotkan dalam grafik dua dimensi
antara sudut datang (2) terhadap intensitas sinar-X yang dipantulkan (counts) akan
membentuk kurva yang disebut difraktogram. Gambar 2.11 menunjukkan pola difraksi
(difaktogram) yang dihasilkan oleh pemantulan sinar-X dengan = 1,54 oleh kristal
kubus garam NaCl.

Gambar 2.11 Difraksi sinar-X yang dihasilkan oleh kubus NaCl


Intensitas puncak-puncak difraksi sebagai hasil pemantulan sinar-X dikontrol antara
lain oleh atom dan sebarannya di dalam sel satuan serta jumlah bidang kristal yang
memantulkan sinar-X tersebut. Pada pemantulan sinar-X, elektron-elektron dari atom
penyusun kristal berperan di dalam memantulkan dan membelokkan sinar-X yang

2-12

menimpa sebuah atom penyusun kristal. Semakin banyak dan rapat elektron yang ada
pada atom penyusun kristal menyebabkan semakin banyak pula berkas sinar-X yang
dipantulkan atau dibelokkan. Oleh karena itu, kristal yang tersusun oleh atom-atom
berelektron banyak (nomor atom besar pada tabel periodik unsur) akan menghasilkan
intensitas pantulan yang lebih kuat daripada kristal yang tersusun oleh atom-atom
ringan.
Selain jenis atom penyusun kristal, intensitas juga ditentukan oleh jumlah bidang
pemantul sinar-X. Semakin besar jumlah bidang yang memantulkan sinar, maka
semakin besar pula intensitas dari sinar-X yang dipantulkan. Suatu bahan dengan
tingkat kekristalan tinggi secara otomatis akan memiliki jumlah bidang pemantul sinarX yang lebih tinggi daripada bahan yang sama dengan tingkat kekristalan yang lebih
rendah. Dengan sifat seperti ini, maka sinar-X dapat digunakan untuk menentukan
tingkat kekristalan (crystallinity) dari suatu bahan.
Secara umum, faktor-faktor yang mempengaruhi intensitas pantulan suatu berkas
sinar-X oleh kisi kristal disajikan pada Tabel 2.3.
Tabel 2.3 Faktor-faktor yang mempengaruhi intensitas pantulan sinar-X
Faktor

Keterangan

Faktor
Polarisasi
Faktor struktur

Ketergantungan sudut sinar yang dipantulkan oleh elektronelektron


Ketergantungan pada pada posisi atom-atom di dalam sel
satuan dan daya pemantulan atom-atom tersebut
Faktor geometris yang bergantung pada jenis instrumen yang
digunakan dan bervariasi terhadap sudut pantul sinar-X (q)
Jumlah pantulan yang memberi kontribusi pada garis pantulan
yang diamati
Getaran termal dari atom-atom mengakibatkan penurunan
intensitas
Penyerapan sinar-X oleh sampel dan bergantung pada bentuk
sampel serta geometri instrumen.
Jika sampel yang digunakan pada analisis difraksi serbuk tidak
memiliki susunan yang acak
Pengurangan daya difraksi pada kristal yang hampir sempurna

Faktor Lorentz
Multiplisitas
Faktor suhu
Faktor absorpsi
Preferred
orientation
Extinction

2.5 Teknik Eksperimen Difraksi Serbuk


Pada buku ini cakupan teknik difraksi yang digunakan dibatasi pada teknik difraksi
serbuk dengan sistem optik Bragg-Brentano. Pada teknik ini sampel yang diamati
berbentuk serbuk halus dan instrumen difraktometer menggunakan sistem optik
Bragg-Brentano, di mana sampel diputar dengan sudut terhadap sudut datang sinarX, sedangkan detektornya diputar dengan sudut 2 dari sudut datang sinar-X.

2-13

Untuk menghasilkan data difraksi yang berkualitas baik, teknik difraksi sinar-X dengan
sistem optik Bragg-Brentano mensyaratkan sampel yang akan diukur harus memenuhi
beberapa persyaratan yaitu:
a. Ukuran partikel sampel harus cukup kecil dan orientasinya bersifat acak agar
diperoleh kebolehjadian yang sama pada semua bidang kisi kristal yang ada untuk
memantulkan sinar-X. Walau demikian, ukuran partikel tidak boleh terlalu kecil
karena akan menyebabkan pelebaran puncak yang mengakibatkan hilangnya
beberapa informasi penting dari struktur kristal.
b. Permukaan sampel yang akan diukur harus rata. Permukaan yang tidak rata akan
menyebabkan distorsi pada berkas sinar-X yang dipantulkan.
c. Struktur sampel harus stabil, minimal tidak berubah selama proses pengambilan
data difraksi berlangsung. Proses pengambilan data difraksi dapat berlangsung
mulai dari beberapa menit sampai beberapa hari, tergantung pada kebutuhan dan
jenis serta sifat bahan yang hendak diukur.
Untuk dapat memenuhi beberapa persyaratan sampel pada eksperimen difraksi
serbuk, ada beberapa pilihan sample holder yang dapat digunakan. Sample holder
yang tersedia mulai dari pelat kaca datar yang bagian tengahnya digosok hingga
cekung sebagai penampung sampel, sampai sample holder yang terbuat dari bahan
logam.

2.5.1 Beberapa tujuan dari penyiapan spesimen


Tujuan dari penyiapan spesimen adalah untuk menyiapkan bahan yang akan
dianalisis dalam pengukuran dengan teknik difraksi sedemikian rupa, sehingga
dimungkinkan untuk menjawab pertanyaan tentang apa yang ingin diketahui tentang
sampel tersebut. Tidak ada cara baku untuk penyiapan sampel, yang penting tujuan
dari pengukuran tersebut dapat dicapai dengan mempertimbangkan waktu dan usaha
yang diluangkan.
Dalam melakukan pengukuran/analisis menggunakan teknik difraksi, ada tiga
parameter yang menjadi perhatian utama yaitu:
Posisi dari puncak-puncak difraksi
Intensitas puncak difraksi
Sebaran intensitas sebagai fungsi sudut difraksi
Seberapa dekat parameter-parameter hasil percobaan difraksi tersebut di atas
terhadap keadaan sesungguhnya dari sampel yang dianalisis akan menentukan
banyaknya informasi yang dapat digali dari data percobaan difraksi. Dalam banyak
hal, kesalahan penyiapan spesimen adalah penyebab utama dari penyimpangan hasil
percobaan difraksi dari keadaan yang sesungguhnya. Semakin sempurna penyiapan
sampelnya, semakin teliti, tepat, dan juga lebih banyak informasi yang diperoleh dari
percobaan difraksi. Dengan demikian, tujuan analisis akan sangat menentukan
bagaimana spesimen untuk percobaan difraksi harus disiapkan.

2-14

2.5.2 Beberapa
spesimen

kesalahan

yang

berasal

dari

Dalam melakukan percobaan analisis difraksi akan banyak dijumpai kesalahankesalahan sistematik. Kebanyakan kesalahan tersebut memiliki kaitan langsung
maupun tidak langsung dengan keadaan spesimen. Beberapa kesalahan sistematik
yang berkaitan dengan spesimen adalah sebagai berikut:
Kesalahan Spesimen Datar (Flat Specimen Error): Terjadi karena permukaan
spesimen yang datar adalah tidak sesuai dengan kelengkungan lingkar fokus.
Perbedaan Komposisi antara Sampel dengan Spesimen: Disebabkan oleh
interaksi sampel dengan lingkungan saat penggerusan atau pengaruh irradiasi.
Specimen Displacement: Bentuk geometris dari peletakkan sampel menyebabkan
penyimpangan posisi pada lingkar fokus.
Specimen Transparency: Daya tembus dari berkas sinar-X ke dalam spesimen yang
tebal menyebabkan perubahan lokasi asal tempat difraksi terjadi.
Ketebalan Spesimen: Spesimen yang tipis cenderung menghasilakn posisi puncak
yang akurat, namun spesimen yang tebal dapat menghasilkan intensitas yang lebih
kuat.
Ketidakhomogenan Partikel: Ketidakhomogenan ukuran partikel-partikel dapat
mengubah intensitas dan puncak yang terlihat.
Preferred Orientation: Orientasi partikel-partikel spesimen yang tidak acak
menyebabkan penyimpangan intensitas dan membatasi jumlah puncak yang tampak.

2.5.3 Penghalusan spesimen


Analisis sinar-X untuk spesimen serbuk mensyaratkan ukuran serbuk yang sangat
halus untuk menghasilkan signal to noise-ratio yang baik (dan menghindari fluktuasi
intensitas), menghindari adanya spot-spot dominan, dan meminimalkan preferred
orientation. Penghalusan serbuk menjadi partikel-partikel yang sangat halus juga
memastikan kecukupan jumlah partikel yang terlibat di dalam proses difraksi. Ukuran
partikel yang terbaik adalah sekitar 1-5 m, khususnya jika diinginkan untuk
melakukan analisis kuantitatif. Walau demikian, untuk analisis kualitatif rutin, spesimen
cukup digerus agar dapat melewati ayakan berukuran 325 mesh (45 m).
Penghalusan dapat dilakukan secara manual ataupun menggunakan peralatan khusus
untuk penghalusan seperi micronizer ataupun ball mill. Akan tetapi, penghalusan yang
berlebihan dapat menyebaban distorsi kisi kristal sampel yang dianalisis dan
memungkinkan terbentuknya lapisan amorf di bagian luar dari partikel serbuk.

2-15

Ketergantungan kualitas hasil analisis difraksi sinar-X dengan ukuran partikel dari
spesimen yang dianalisis disebabkan oleh kenyataan bahwa teknik difraksi sinar-X
didasarkan pada asumsi bahwa:
a. Kristal serbuk spesimen memiliki orientasi yang acak.
b. Terdapat cukup banyak partikel yang memberikan sumbangan terhadap sinar-X
yang terdifraksi.
Gambar 2.12 menunjukkan susunan sampel serbuk yang acak dan terarah pada
sample holder berbentuk bundar.

Gambar 2.12 Serbuk pada sample holder yang memiliki sebaran yang acak (random)
dan tersusun rapi (oriented)
Ukuran partikel yang besar akan menghalangi tercapainya keadaan acak dari
spesimen serbuk. Selain keadaan acak, ukuran partikel juga sangat mempengaruhi
intensitas puncak-puncak difraksi yang akan dihasilkan. Intensitas puncak difraksi
sangat ditentukan oleh jumlah spesimen yang memberikan sumbangan pada puncak
tersebut. Untuk spesimen yang disiapkan pada sample holder bervolume 20 mm3,
kaitan antara jumlah partikel yang memberikan sumbangan kepada intensitas difraksi
terhadap ukuran partikel disajikan pada Tabel 2.4.
Tabel 2.4 Kaitan antara ukuran dengan jumlah partikel pada sample holder bervolume
20 mm3
Diameter partikel

40 m

10 m
-5

V/partikel
3,35 x 10 mm
Partikel/mm3
2,98 x 104
3
Partikel dalam 20 mm 5,97 x 105

1 m
-7

5,24 x 10 mm
1,91 x 106
3,82 x 107

5,24 x 10-10 mm3


1,91 x 109
3,82 x 1010

Tidak semua partikel yang dihitung pada Tabel 2.4 ikut memberikan sumbangan pada
intensitas puncak difraksi, karena sumbangan itu juga ditentukan oleh sistem optik dari
instrumen difraktometer. Untuk sample holder berukuran 20 mm3, telah dilakukan
perhitungan bahwa jumlah partikel yang mungkin menyumbang intensitas puncak
adalah sebagaimana disajikan pada Tabel 2.5.
Jika telah terbiasa melakukan penyiapan spesimen untuk analisis difraksi sinar-X
secara manual, tidaklah terlalu sulit untuk dapat menghasilkan partikel dengan ukuran
sampai 10 m. Akan tetapi, seorang ahli yang terampil sekalipun akan mengalami

2-16

kesulitan apabila ingin melakukan penghalusan spesimen sehingga partikelpartikelnya berdiameter kurang dari 10 m.
Tabel 2.5 Kaitan antara diameter partikel dengan jumlah partikel yang mungkin
memberikan sumbangan terhadap intensitas puncak (Np)
Diameter partikel

40 m

10 m

1 m

NP

12

760

38000

Untuk pengukuran-pengukuran menggunakan difraksi sinar-X yang memerlukan


ketelitian dan ketepatan yang sangat tinggi, yang membutuhkan partikel spesimen
berukuran di bawah 10 m, penghalusan dapat dilakukan dengan menggunakan ball
mill maupun micronizer. Penghalusan dengan menggunakan peralatan ini
memerlukan cairan yang digunakan untuk memastikan bahwa partikel-partikel
spesimen terdispersi secara merata pada saat proses ball milling maupun micronizing.
Cairan yang umumnya digunakan adalah aseton atau alkohol yang keduanya sangat
mudah menguap sehingga memudahkan dalam pengeringan. Contoh spesifik
penggunaan micronizer terhadap ukuran partikel sebagai fungsi waktu dapat dilihat
pada Gambar 2.13.
Distribusi ukuran partikel serbuk setelah dihaluskan di dalam micronizer bergantung
kepada lama penghalusannya. Gambar 2.13 menunjukkan bahwa semakin lama
penghalusan dilakukan, semakin kecil rata-rata ukuran partikelnya, namun sebaran
ukurannya tidak lagi bersifat normal. Untuk analisis rutin difraksi sinar-X, sebaran
ukuran partikel sebagaimana dihasilkan pada proses penghalusan menggunakan
micronizer selama 10 menit sudah cukup memadai.

2.5.4 Pemuatan spesimen pada sample holder


Pemuatan spesimen pada sample holder juga sangat berpengaruh terhadap kualitas
data yang dihasilkan. Selain itu, teknik pemuatan spesimen juga sangat erat kaitannya
dengan sifat dasar (nature) dari spesimen yang akan dianalisis.
Jumlah sampel yang dibutuhkan dalam menyiapkan spesimen umumnya berkisar
antara 1 sampai 2 gram. Untuk bahan spesimen yang dapat memberikan intensitas
difraksi kuat, sampel sebanyak 10 sampai 20 mg yang ditempelkan pada permukaan
double tape sudah cukup untuk dapat menghasilkan data yang cukup baik.

2.6. Aplikasi Difraksi Sinar-X


Difraksi sinar-X (XRD) merupakan teknik terbaik dalam penentuan komponen fasa
penyusun suatu campuran. Hal ini terjadi karena pola intensitas dari masing-masing
komponen bersifat khas dan menunjukan jumlah dari komponen yang ada, sehingga
dalam aplikasinya XRD dapat digunakan untuk:
i. Identifikasi fasa
ii. Dinamika fasa sebagai fungsi suhu

2-17

iii. Penghalusan struktur (refinement)


iv. Penentuan ukuran kristal

Ukuran Partikel m)
(a) tanpa penghalusan

Ukuran Partikel m)
(a) mikronisasi 10 menit

Ukuran Partikel m)
(a) mikronisasi 30 menit

Gambar 2.13 Pengaruh lama proses micronizing terhadap ukuran partikel padatan
serbuk MoO3 (molibdat)

2-18

2.6.1 Identifikasi fasa


Aplikasi difraksi sinar-X dalam mengidentifikasi fasa suatu bahan adalah contoh yang
paling sering digunakan. Pada identifikasi fasa, pola difraksi yang dihasilkan oleh
sampel yang diukur (intensitas vs 2 atau d) dibandingkan dengan database pola
difraksi fasa yang telah diketahui. Hal ini dapat dilakukan karena pola difraksi suatu
fasa tertentu bersifat khas, seperti pola sidik jari manusia.
Proses pembandingan pola difraksi dari sampel yang diukur terhadap pola difraksi
yang sudah terekam di dalam database pada awalnya dilakukan secara manual.
Umumnya empat puncak difraksi dengan intensitas terkuat pada suatu fasa tertentu
dijadikan acuan. Pembandingan mula-mula dilakukan berdasarkan indeks intensitas
terkuat kemudian diikuti oleh pembandingan tiga puncak terkuat berikutnya.
Umumnya, jika keempat puncak difraksi database dan hasil pengukuran adalah sama,
maka hampir dipastikan bahwa fasa dari sampel yang diukur adalah sama dengan
fasa pembandingnya di dalam database tersebut.

Intensitas (counts)

Metode pembandingan fasa secara manual seperti ini sudah ditinggalkan sejak
teknologi komputer sudah sedemikian maju. Dengan teknologi komputer yang
tersedia, proses pembandingan dilakukan dengan program-program Search and
Match yang banyak tersedia. Beberapa contoh program tersebut di antaranya adalah
Philips X'pert High Score dari PANanlytical, Jade(TM) dari MDI Materials Data, dan
Match dari Crystal Impact. Walaupun terdapat beragam program Search and Match,
database fasa yang tersedia untuk sampel serbuk hanya ada dua yaitu yang
disediakan oleh ICDD (International Centre for Diffraction Data) dan JCPDS (Joint
Committee on Powder Diffraction Standards). Database fasa tersebut tersedia dalam
format PDF (Powder Diffaction File) yang tersedia hingga versi 4+ dengan 29.607 data
mineral
dan
341.540
data
zat
organik
(http://www.icdd.com/products/pdf4.htm#organics, 27 November 2008).

Gambar 2.14 Difraksi sinar-X fasa cair sampel Yttrium Aluminum Garnet (Y 3Al5O12 =
2 (derajat)
YAG) pada substrat SiC

2-19

Langkah-langkah yang dilakukan dalam melakukan identifikasi fasa secara ringkas


adalah sebagai berikut:
1. Kumpulkan data difraktogram dari sampel dengan difraktometer yang sesuai.
2. Identifikasi posisi puncak-puncak difraksi dan intensitasnya.
3. Lakukan Search and Match menggunakan program yang tersedia dan database
yang mutakhir.
Contoh berikut adalah identifikasi fasa Yttrium Aluminum Garnet (Y3Al5O12 = YAG)
pada substrat silikon karbida (SiC) dengan menggunakan difraksi sinar-X (Gambar
2.14). Pada difraktogram, adanya -SiC polytype 4H dan 6H ditunjukkan pada puncak
difraksi pada 2 = 43,3 dan 49,8 untuk tipe 4H dan 2 = 34,1 dan 45,3 untuk tipe
6H. Yttrium Aluminum Garnet (Y3Al5O12 = YAG) dapat diamati pada 2 = 27,8 dan
29,7. Dengan teknik difraksi sinar-X yang dilengkapi oleh database fasa dan program
search and match, maka proses identifikasi fasa dapat dilakukan dengan lebih cepat
dan mudah dengan tingkat akurasi yang tinggi.

2.6.2 Dinamika fasa sebagai fungsi suhu


Dalam bidang katalis dan material padat, seringkali dibutuhkan informasi tentang
dinamika struktur kristal bahan padatan yang terjadi pada suhu yang berbeda-beda.
Hal ini terkait dengan sifat dan kereaktifan bahan padatan yang berbeda-beda apabila
berada pada suhu lingkungan yang berbeda pula.

Gambar 2.15 Dinamika struktur kristal -Bi2Mo3O12 sebagai fungsi suhu

2-20

Intensitas (a.u.)
Intensitas (a.u.)

Dua-theta (derajat)

Dua-theta (derajat)

Gambar 2.16 Difraktogram sinar-X selama proses kalsinasi dari (a) 10% Co/ZrO 2 dan
(b) 10% Co-ZrO2. () = ZrO2 monoklinik, () = Co3O4, dan () ZrO2
tetragonal
Sebagai contoh, bahan semikkonduktor YBa2Cu3O7 yang berubah menjadi
superkonduktor pada suhu 90 K yang ditengarai merupakan fungsi dari struktur
kristalnya. Selain itu, suatu fasa dapat berubah menjadi fasa lainnya, baik secara

2-21

dapat balik (reversible) maupun tidak dapat balik (irreversible). Misalnya, orang ingin
mengetahui pada suhu berapa fasa -Al2O3 berubah menjadi fasa -Al2O3?
Untuk aplikasi penentuan dinamika struktur sebagai fungsi suhu maka diperlukan alat
tambahan pada difraktometer yang umum dipakai untuk identifikasi fasa, yaitu
pemanas sampel. Contoh aplikasi dinamika suhu ini ditunjukkan pada Gambar 2.15
yang merupakan data difraktogram mentah dari penentuan kaitan antara struktur Bi2Mo3O10 dengan aktivitasnya sebagai katalis oksidasi parsial (Fansuri et al., 2003).

Intensitas (cps)

Contoh lain yang terkait dengan perubahan struktur sebagai fungsi suhu ditunjukkan
pada katalis Co yang disupport oleh ZrO2. Gambar 2.16a menunjukkan struktur katalis
Co yang disupport oleh ZrO2 yang dikenai pemanasan mulai dari suhu 100 sampai
800 oC. Keberadaan dan struktur support ZrO2 monoklinik ditunjukkan oleh bidangbidang kisi [-111], [111], [-112] yang sesuai dengan puncak difraksi pada 2 = 28,5o;
31,5o; dan 40,7o. Dengan naiknya suhu dari 100 C menjadi 800 oC, partikel Co yang
awalnya terdistribusi merata pada permukaan ZrO2 mulai teroksidasi dan membentuk
kristal Co2O3 sekaligus mengalami peningkatan ukuran. Hal ini ditunjukkan oleh
semakin runcingnya puncak-puncak [311], [222], dan [400] pada garis difraksi 2 =
36,9o; 38,6o; dan 44,9o yang merupakan puncak-puncak difaksi khas fasa Co 2O3.
Sedangkan Gambar 2.16b menunjukkan pola difraksi dari material yang dibuat
dengan mencampurkan Co dan Zirkonia yang keduanya berada dalam fasa amorf
untuk selanjutnya dikalsinasi hingga suhu 700 oC. Campuran masih bersifat amorf
pada suhu kalsinasi sampai 450 C, di mana ZrO2 tetragonal mulai terbentuk.
Selain perubahan struktur fasa sebagai fungsi suhu, teknik difraksi dengan suhu yang
berubah dapat pula digunakan untuk mengikuti reaksi fasa padat yang terjadi seperti
pada pembuatan spinel MgAl2O4 dari campuran padat MgO dan Al2O3 yang dipanasi di
dalam sebuah tungku/furnace seperti pada Gambar 2.17.

Dua-theta (derajat)

Gambar 2.17 Difraktogram hasil reaksi Al2O3 dengan MgO membentuk MgAl2O4

2-22

Gambar 2.17 menunjukan bahwa reaksi antara Al 2O3 dan MgO membentuk MgAl2O4
dapat dimonitor menggunakan difraksi sinar-X. Mula-mula campuran reaksi Al 2O3 dan
MgO menghasilkan pola difraksi sinar-X yang merupakan gabungan dari masingmasing fasa murninya. Selama proses reaksi, terbentuk pola pantulan baru (Gambar
2.17(a) dan Gambar 2.17(b)) yang merupakan gabungan pola Al2O3 dan MgO.

2.6.3 Penghalusan struktur (refinement)


Penghalusan struktur dari data difraksi merupakan metode lanjut dari analisis difraksi
sinar-X. Untuk data difraksi yang dihasilkan dari sampel berupa serbuk, metode yang
banyak digunakan adalah metode Rietveld (Rietveld, 1967; Rietveld, 1969). Pada
metode Rietveld ini diperlukan model struktur untuk dibandingkan dengan struktur
terukur.
Metode pencocokan pola difraksi terhitung (model) dengan pola difraksi terukur (data
eksperimen) pada metode Rietveld dilakukan dengan menghaluskan parameterparameter dalam pola difraksi model (terhitung) yang dinyatakan dalam ekspresi
intensits difraksi (yci) pada Persamaan 2.4.

y ci s LK FK 2 i 2 K PK A y bi
2

(2.4)

dimana, i adalah indeks untuk sebuah titik yang terhitung, s adalah faktor skala, K
merupakan indeks Miller (h, k, l untuk sebuah puncak refleksi Bragg), LK mengandung
faktor polarisasi, Lorentz, dan multiplisitas, FKadalah faktor struktur untuk refleksi
Bragg ke-K, merupakan fungsi profil puncak, 2i dan 2K adalah sudut-sudut
detektor yang berhubungan dengan titik ke-i dan puncak Bragg ke-K, PK adalah fungsi
preferred orientation, A menyatakan faktor absorpsi dan ybi menyatakan intensitas
latar pada data ke-i (Young, 1996).
Penyusunan pola terhitung (model) memerlukan beberapa data masukan. Data
masukan yang diperlukan antara lain informasi struktur (seperti data unit sel, space
group, koordinat atom) dan informasi instrumen yang digunakan selama pengambilan
data terukur (seperti data panjang gelombang, banyaknya cacah (step-scan), fungsi
bentuk, dan lebar puncak). Data informasi struktur dapat diperoleh dari database
ICSD.
Pola difraksi model dalam prosedur penghalusan Rietveld dapat dikatakan optimum
bila besar S dari kudrat selisih antara plot pengamatan dengan pola terhitung
(Persamaan 2.5) berharga paling rendah.

S wi y i y ci
i

(2.5)

dimana wi adalah faktor bobot untuk titik i yang ditetapkan sebagai nilai resiprokal
variansi intensitas terhitung pada titik data ke-i, yi adalah intensitas terukur pada titik
data ke-i, yci merupakan intensitas terhitung pada data ke-i.

2-23

Tahapan analisis Rietveld dilakukan melalui beberapa langkah yang saling


berkesinambungan. Pertama, pengumpulan data difraksi sampel. Kedua,
pengidentifikasian fasa dalam sampel dari data difraksi eksperimen berdasarkan
referensi (data ICDD/PDF) yang sesuai data kimia sampel. Ketiga, penyusunan model
(pola terhitung). Keempat, penghalusan paramater-parameter hingga diperoleh selisih
kuadrat terkecil antara pola difraksi eksperimen dengan pola terhitung. Proses
tersebut dapat diilustrasikan pada sampel rutil (TiO2) seperti pada Gambar 2.18.

(a)

(b)

(c)

(d)

Gambar 2.18 Tahapan analisis Rietveld (a) pola terukur yang diperoleh dari data
difraksi eksperimen sampel, (b) pola difraksi dari referensi untuk
identifikasi fasa dalam sampel dari data difraksi eksperimen, (c) model
(pola terhitung) yang telah disusun berdasarkan informasi data struktur,
data fisika difraksi, dan data instrumen difraksi, (d) penghalusan pola
model hingga didapatkan kecocokan dengan pola terukur, data terukur
ditunjukkan oleh tanda + dan pola model ditunjukkan oleh garis tebal,
sedangkan garis di bawahnya menunjukkan perbedaan profil puncak.

2-24

Indeks keberhasilan atau nilai R banyak digunakan dalam kristalografi untuk menilai
keberhasilan penghalusan dengan metode Rietveld. Kriteria keberhasilannya sebagai
berikut:
1.

R- Profil (Rp)

y y

y
io

RP

ic

(2.6)

io

2.

R-Profil terbobot (Rwp)

RWP

w y

3.

wi yio yic 2

R-Bragg (RB)

io

y y

(2.7)

Ko

RB

Kc

(2.8)

Ko

4.

Indeks GOF (Goodness of Fit), biasa dilambangkan dengan

GOF RWP Rexp

(2.9)

dengan

Rexp

N P

2
wi y io

(2.10)

di mana N adalah jumlah titik data dan P adalah jumlah parameter yang terlibat
dalam penghalusan.
Untuk memperoleh kecocokan dua kurva (pola model dan pola terukur) yang dapat
diterima, dapat digunakan pedoman tiga karakter dasar pola difraksi, yaitu tinggi,
posisi, lebar, dan bentuk puncak difraksi. Posisi puncak difraksi berhubungan dengan
parameter kisi, asimetri, dan parameter instrumen, seperti pergeseran spesimen dan
kesalahan 2. Tinggi puncak adalah pengaruh dari parameter faktor skala, parameter
termal, asimetri, dan preferred orientation. Lebar dan bentuk puncak dipengaruhi oleh
parameter bentuk puncak (U, V, W, dan HL) dan asimetri (Pratapa, 2004). Hal ini dapat
diilustrasikan seperti pada Gambar 2.19.

2-25

(a)

(c)

(b)

Rp = 52,46
Rwp = 61,48
RB = 33,74
2 = 29,89

(e)

(d)

Rp = 89,83
Rwp = 112,22
RB = 36,01
2 = 79,6

Rp = 20,26
Rwp = 26,07
RB = 5,37
2 = 4,3

Rp = 12,89
Rwp = 20,78
RB = 2,69
2 = 2,73

Gambar 2.19 Penghalusan parameter tinggi, posisi, dan lebar, bentuk puncak difraksi,
dan nilai R. (a) Pola difraksi terukur kristal MgO, (b) pola model MgO
yang belum dihaluskan, (c) perubahan posisi puncak model cocok
dengan puncak terukur, (d) tinggi puncak model menyesuaikan dengan
puncak terukur, (e) bentuk, tinggi, dan posisi puncak model sudah
menyesuaikan puncak terukur
Penghalusan dapat dikatakan selesai jika nilai R sudah tidak berfluktuasi.
Penghalusan tidak hanya sekedar mendapatkan nilai R seminimal mungkin, tetapi
perlu diperhatikan apakah struktur yang didapatkan tidak menyalahi arti fisis yang
sebenarnya.
Data keluaran yang didapatkan dari penghalusan berupa data struktur kristal yang
meliputi parameter kisi, koordinat atom, perhitungan panjang ikatan, data parameter
termal, dan parameter faktor skala. Faktor skala yang didapatkan dari penghalusan
Rietveld digunakan sebagai masukan pada penentuan komposisi fasa. Adapun
Persamaan 2.11 berikut digunakan dalam perhitungan persen berat fasa dalam abu
layang dan produk kristalisasinya (Hill dan Howard, 1987).

2-26

%W j 100

S j ZMV j
n

S ZMV
i 1

(2.11)
i

di mana %Wj merupakan persen berat relatif dari fasa j pada campuran yang berisi n
fasa, sedangkan S, Z, M, dan V masing-masing adalah faktor skala Rietveld, jumlah
unit formula per unit sel, massa dari unit formula, dan volume dari tiap unit formula.
Jika ditambahkan internal standar (s) sebanyak Ws ke dalam campuran, maka % berat
absolut dari fasa yang teridentifikasi dihitung dengan Persamaan 2.12 (Howard dan
Hunter, 1997).

%W j 100

Ws S j ZMV j

(2.12)

S s ZMV s

2.6.4 Penentuan ukuran kristal

Intensitas

Intensitas

Sebagaimana telah dijelaskan pada sub bab terdahulu, pola difraksi sinar-X dari suatu
bahan dipengaruhi pula oleh ukuran kristal. Ukuran partikel kristal yang kecil akan
menyebabkan pelebaran puncak difraksi. Perubahan pola difraksi akibat perbedaan
ukuran kristal diilustrasikan oleh Gambar 2.20.

2-27

Gambar 2.20 Pengaruh ukuran kristal terhadap lebar puncak difraksi


Analisis ukuran partikel berdasarkan pelebaran puncak difraksi dapat dilakukan
menggunakan metode Rietveld. Salah satu pendekatan yang dapat digunakan untuk
menaksir ukuran kristal adalah Persamaan 2.13 berikut (Pratapa et al., 2002):

H L H LS

(2.13)

di mana adalah panjang gelombang sinar-X, HL adalah komponen pelebaran puncak


Lorentzian sampel, sedangkan HLS adalah komponen pelebaran puncak Lorentzian
standard bila menggunakan fungsi Voight untuk pencocokan pola difraksi.

Daftar Pustaka
Bish, D.L. dan Post, J.E. (1989), Modern Powder Diffraction. Reviews in Mineralogy,
Vol. 20, Mineralogical Society of America, Washington DC
Brindley, G.W. dan Brown, G. (1980), Crystal structures of Clay Minerals and Their
Identification, Mineralogical Society Monograph No. 5, Mineralogical Society, London
Connolly, R. (2005), Sample Preparation and Systematic Diffractometer Errors
Cullity, B.D. (1978), Elements of X-ray Diffraction, 2nd edition, Addison-Wesley
Publishing Co., Menlo Park, CA
Fansuri, H., Pham, G.H., Wibawanta, S., Zhang, D.K., dan French, D. (2003), The
relationship between structural and catalytic activity of a- and g-bismuth-molybdate
catalysts for partial oxidation of propylene to acrolein, Surface Review and Letters,
Vol 10, No. 1&2, hal. 549-553
Iyengar, S.S. (1997), Sample Preparation for Clays In Preparation of Specimens for Xray Fluorescence and X-ray Diffractuion Analysis, Wiley-VCH, NY
Jackson, M.L. (1979), Soil Chemical Analysis - Advanced Course, 2nd edition, the
Author, Madison, Wis. 53705
http://www.icdd.com/products/pdf4.htm#organics, 27 November 2008
http://xray0.princeton.edu/~phil/Facility/Guides/XrayDataCollection.html
Howard, C.J. dan Hunter, B.A. (1997), LHPM Manual, A Computer Program for
Rietveld Analysis of X-ray and Neutron Powder Diffraction Patterns, Australian Institute
of Nuclear Science and Engineering, Sydney

2-28

Klug H. P. dan Alexander, L.E. (1974), X-ray Diffraction Procedures, John Wiley and
Sons, Inc., New York, 996p
Kunze, G.W. (1965), Pretreatments for mineralogical analysis. In C.A. Black (ed)
Methods of soil analysis. Part I. Physical and mineralogical properties including
statistics of measurement and sampling, American Society of Agronomy, Vol. 9, hal.
568-577
Moore, D.M. dan Reynolds Jr., R.C. (1989), X-ray Diffraction and the Identification and
Analysis of Clay Minerals, Oxford University Press, Oxford
Pratapa, S., O'Connor, B. H., dan Hunter, B. (2002), A comparative study of single line
and rietveld strain-size evaluation procedures using MgO ceramics, Journal of
Applied Crystallography, Vol. 35, hal. 155-162
Rietveld, H.M. (1967), Line profiles of neutron powder-diffraction peaks for structure
refinement, Acta Crystallographica, Vol. 22, No. 1, hal. 151-152
Rietveld, H. (1969), A profile refinement method for nuclear and magnetic structures,
Journal of Applied Crystallography, Vol. 2, No. 2, hal. 65-71
Young, R.A. (1993), The Rietveld Method. The International Union of Crystallography
Monographs on Crystallography, Vol. 5, Oxford University Press, New York

2-29

2-30