Inductively Coupled Plasma – Mass Spectrometry

(ICP-MS)

Dr. Rosi Ketrin

Christine Elishian

christine@bsn.go.id
Maret 2019
Prinsip Dasar

Peralatan ICP-MS

Gangguan di ICP-MS

Pengendalian Kontaminasi dalam Analisa Trace

Element
 Instrument untuk analisis logam

Kelebihan Kekurangan
FAAS mudah monoelement
ETAAS limit deteksi monoelement
ICP-AES/ICP-OES multielement limit deteksi
ICP-MS multielement matriks sampel

Pemilihan teknik analisis

• Sesuai kebutuhan  Harga instrument
• Spesifikasi  Harga per Analisis
• Sensitivitas  Kemudahan pengerjaan
• Limit Deteksi  Sample Throughput
• Gangguan
Sumber: Perkin Elmer, Guide to selecting the appropriate technique and system
 • GFAAS umumnya baik untuk setiap unsur yang dapat
teratomisasi.
• Limit deteksi untuk unsur-unsur Gol I (Na, K) umumnya
lebih baik dengan FAAS daripada ICP.
• Limit deteksi unsur unsur refraktori seperti B, Ti, V, Al
umumnya lebih baik dengan ICP daripada FAAS.
• Unsur bukan logam seperti sulfur, nitrogen, carbon, dan
• halogen (I, Cl, Br) hanya dapat diukur dengan ICP.

Dr Rosi Ketrin-AAS/ICP training

Limit deteksi
 Operating cost

FAAS GFAAS ICP-OES/-AES ICP-MS

Power Power Power Power
Reagents and Reagents and Reagents and Reagents and
standards standards standards standards
Compressed air
Cooling water Cooling water Cooling water
source
Acetylene/nitrous
Argon gas Argon gas Argon gas
oxide gases
Hollow Cathode Hollow Cathode
Quartz torches Quartz torches
Lamps Lamps
Graphite tubes
- Pump tubing Pump tubing
and cones
Sampling and
- - -
skimmer cones
 Operating cost

Sumber: Perkin Elmer, Guide to selecting the appropriate technique and system
 Analisis logam
FAAS GFAAS ICP-AES ICP-MS
Limit deteksi baik unggul baik unggul
Produktivitas baik rendah Sangat baik unggul
LDR 10 3 10 2 10 6 /10 10 10 9
Presisi 0.1-1 % 1-5 % 0.3-2 % 1-3 %
Gangguan spektral Hampir tidak Sangat sedikit biasa sedikit
ada
Gangguan kimia banyak banyak sedikit sedang
TDS 0.5-3 % < 30 % < 30 % 0.1-0.4 %
Jumlah unsur ~68 ~50 ~73 ~75
Jumlah sampel banyak Sangat sedikit sedang sedikit
Semi kuantitatif tidak tidak ya ya
Analisis isotop tidak tidak tidak ya
Pengerjaan rutin mudah Perlu skill mudah Perlu skill
Pengembangan metode mudah Perlu skill Perlu skill Perlu skill
Running cost rendah sedang tinggi tinggi
Harga instrument rendah sedang tinggi Sangat tinggi
 Perkembangan menuju ICP-MS

• Tahun 1940-an, arc dan high-voltage spark spectrometry mulai banyak

dipakai untuk analisis logam.

• Tahun 1950-an, flame atomic absorption spectrometry mulai

diperkenalkan

• Tahun 1960-an, atomic absorption mulai memasyarakat

• Tahun 1970-an, ICP-AES dan -OES (atomic emission spectrometry,

optical emission spectrometry) mulai berkembang
• Tahun 1984, ICP-MS mulai diperkenalkan (VG/Thermo and PE/Sciex)
dan sejak itu menjadi teknik yang hangat untuk analisis logam
• Sampai sekarang terus dibuat perkembangan dan pembaharuan dari
ICP-MS, khususnya untuk spesiasi
Direct current (DC) plasma, 1971

Alan Gray, Applied Research Laboratories

Thermo (VG) commercialize

the first PlasmaQuad ICP-MS
 Keunggulan dari ICP-MS

• Limit deteksi yang sangat rendah.

• Analisis multi-element secara kuantitatif dengan cepat
• Analisis multi-element secara semi-kuantitatif yang cepat
• Wide dynamic range: hingga 9 order, dari ppt hingga ppm level
• Wide elemental coverage: dapat menganalisis hampir semua unsur
(82 unsur)
• Spektral sederhana
• Dapat digunakan untuk analisis pengukuran isotop
• Dapat digabungkan dengan berbagai macam alat sample
introduction, seperti LA
• Dapat digunakan untuk spesiasi (digabungkan dengan HPLC atau
instrument pemisahan lain)
 Kelemahan dari ICP-MS

• Harga (2x ICP-OES): yang termurah adalah single-quadrupole mass

analyzer systems, di mana memiliki resolusi massa yang rendah
• Perlu dasar pengetahuan untuk dapat menjalankan dan
mengembangkan analisis
• Tidak stabil untuk sampel dengan total dissolved solids yang tinggi.
• Tidak baik untuk sampel dengan matriks yang kompleks karena dapat
membentuk endapan pada permukaan sample dan skimmer cone yang
semakin lama akan menyumbat
• Ultratrace analysis akan terganggu oleh adanya oksida dan doubly-
charged ions.
• Sulit untuk menganalisis unsur Ca dan Fe dengan normal Ar karena
gangguan spectral argida.
• Memerlukan clean room environment untuk ultra-low detection limits.
PRINSIP DASAR ICP-MS
 Prinsip dasar analisis elemental
Excited Atomic absorption: Sinar yang khas dari Lampu (HCL)
State
Atom menyerap sinar dengan panjang gelombang yang khas dan pindah ke tingkat
energi yang lebih tinggi (tereksitasi).
Sinar yang diserap akan sebanding dengan konsentrasi logam
Ground -
e
State
Atomic absorption

Atomic emission: Energi sinar dan panas dari plasma atau nyala
Energi yang besar (sinar dan panas) akan memindahkan atom atau ion ke tingkat
energi yang lebih tinggi. Pada keadaan ini atom atau ion tidak stabil dan akan
kembali ke keadaan dasarnya dengan mengemisikan sinar dengan panjang
e- gelombang yang khas.
Sinar yang diemisikan akan sebanding dengan konsentrasi
Atomic emission

Mass spectrometry: Energi sinar dan panas dari plasma

Energi yang besar (sinar dan panas) akan melepaskan elektron dari orbitnya
(ionisasi) membentuk ion bermuatan positif.
Ion akan ditarik dan langsung diukur dalam mass spectrometer
e-
Mass spectrometry
 Teknik ICP-MS

ICP – Inductively Coupled Plasma MS – Mass Spectrometer

 High temperature ion source  Quadrupole mass analyzer

(sumber pengionisasi)
 Dekomposisi, atomisasi, dan
ionisasi sampel
(mendeteksi ion (m/z))
 Range massa: 2-260 amu (Li – U)
Memisahkan semua elemen dalam
pemindaian yang cepat dan
sequensial

cps : count per second

 Simbol unsur ICP-MS mengukur perbandingan
m/z (rasio massa per muatan). Ion
Nomor
massa
A ( Proton +  Neutron) yang bermuatan +1 akan sama
dengan massanya, sedangkan ion
yang bermuatan +2 akan menjadi
Unsur setengah dari massanya (menjadi
kurang sensitif).
Nomor
atom Z ( Proton)
 Isotop dan Isobar

Isotopes: Atomic number (number of Isobars: Atomic number is different,

protons) is the same, but number of but atomic weight is almost identical
neutrons is different so species appear at same mass

Chemical characteristics are same Chemical characteristics are different

but physical properties are different but physical properties are similar

ISOTOP ISOBAR
+ +
+ + + + + + + +
- - - + + -
+ + + +
+ +
+ + + + + + + +
+
+ + + +

- - - -
-

-
12 13 14 14 12 +
6
C C
6 6
C 7
N C
6
+ Proton 6 6 6 7 6
Neutron 6 7 8 7 6
- Elektron 6 6 6 7 5
 Proses Ionisasi Sampel

Dry Cair padat gas atom ion

aerosol (leleh)

+
Sample
solution Sample
Aerosol

drying vaporization atomization ionization

M(H2O)+X- (MX)n MX M M+
Puncak akan merupakan jumlah isotop dari berbagai unsur yang berbeda
dengan massa yang sama.
Hampir semua unsur memiliki lebih dari satu isotop dengan satu isotop yang
tidak terganggu. Setiap isotop punya massa yang khas. Kelimpahan isotop di
alam ini adalah konstan (kecuali Pb, yang juga berasal dari peluluhan
radioaktif), sehingga tidak akan sulit untuk mengoreksi isotop yang overlap
dengan isotop unsur lain.
Beberapa faktor yang harus dipertimbangkan untuk memilih isotop :
 Konsentrasi analit
 Konsentrasi pengganggu
 Kelimpahan isotop pada massa yang dipilih
 Sebaiknya memilih massa yang ‘bersih’, tanpa overlap dari isotop
atau poliatomik dari unsur lain.
Dr Rosi Ketrin-AAS/ICP training
 Aplikasi
• Analisis kuantitatif dari
mayor hingga ultra-
trace untuk sampel
organik dan anorganik
• Analisis semi-
kuantitatif (survei)
mayor dan ultra-trace
untuk sampel organik
dan anorganik
• Pemetaan unsur-unsur
dalam padatan
menggunakan teknik
sampling laser ablation
• Analisis isotope ratio
 Rangkuman
Guna :
 mendapatkan komposisi unsur dalam suatu sampel
 analisis isotope ratio
 analisis kuantitatif dan semi kuantitatif (survei analisis)

Jenis sampel Akurasi

 padat, cair, gas  1-3 % relative untuk
 padatan besar hingga film tipis analisis kuantitatif
 bahan organik dan anorganik  Hingga 6% untuk analisis
semi-kuantitatif (survey
Limit Deteksi analysis)
 Untuk sebagian besar unsur (Li-U) kurang dari 0.01 μg/L untuk
sampel cair dan kurang dari 10 ng/g untuk sampel padat,
bergantung pada unsurnya

Analytical range
 ultra-trace (ng/g) hingga mayor (%)
PERALATAN ICP-MS
 Peralatan ICP-MS
Terdiri dari:
• Sample Introduction system: pompa peristaltik, nebulizer,
spray chamber
• Plasma: torch, coil, RF power supply
• Interface: skimmer, sample cone dan pompa vakum
• Ion Lenses: collision/
reaction cell technology
• Mass Analyser: quadrupole,
TOF, magnetic sector
• Detector
 Sample ICP Plasma
introduction interface Mass Spectrometer
system
4. Ion-ion akan
3. Sampel
ditarik masuk ke 7. Quadrupole memisahkan Ion berdasarkan
diuapkan dan
plasma oleh rasio mass to charge. Ion yang terpilih akan
diionisasikan di
extraction lenses langsung masuk ke detector
dalam plasma

2. Butiran yang
halus akan
melewati spray 6. Ion lensa dan octopole
chamber dan ion mengarahkan dan
1. Larutan sampel masuk ke dalam menfokuskan ion-ion.
dicampur dengan plasma Lensa Omega 8. Ion-ion diukur
gas argon dan membelokkan emisi sinar menggunakan discrete
dibentuk aerosol 5. Sekat isolasi agar foton tidak mengenai dynode detector
memisahkan daerah high detektor sehingga didapatkan
vacuum region kepekaan yang tinggi.
(spectrometer) dari daerah
sample introduction
 Sample Introduction system

Peristaltic Pump
Mengalirkan sampel secara
Larutan sampel konstan (kecepatan 
1mL/min)

Nebulizer
Merubah larutan menjadi
aerosol

Spray Chamber
Filtering aerosol (5-10 µm)

Aerosol
 Fungsi:
• Untuk membentuk aerosol dengan butiran
halus yang ukurannya seragam.
Jenis:

a. Pneumatic b. Other
– Self-aspirating – Ultrasonic nebulizer

Nebulizer • Concentric
• Cross-flow
– Thermospray
– Spark ablation
• Micro concentric – Laser ablation
• Micro flow

– Non-aspirating c. Specialty
• Babington – HEN, MCN, MicroMist
– V-groove – DIHEN, DIN
– GEM Cone
– MiraMist
– Grid
– Fritted
 Nebulizer

• Pneumatic berarti menggunakan udara atau gas. Pneumatic nebulizer berarti

menggunakan kekuatan aliran gas untuk membentuk aerosol
– concentric : disain sedemikian rupa sehingga pada ujung runcing kapiler
memiliki tekanan rendah yang dapat menyebabkan udara mengalir
dengan cepat ke ujung runcing kapiler. Kombinasi tekanan yang rendah
dan kecepatan aliran udara akan memecah larutan menjadi aerosol tepat
di ujung runcing kapiler yang terbuka. Flow-rate 0.1 - 3 mL/min.
– micro-concentric : sample flow-rate rendah (0.01–0.1 mL/min ) sehingga
dengan penggunaan sampel yang sedikit (hingga 1 mL) dapat dihasilkan
aerosol dengan efisiensi yang tinggi. Limit deteksi setara dengan nebulizer
biasa.
– micro flow : menggunakan tekanan gas tinggi dan sampel flow-rate
rendah.
 Nebulizer

– cross-flow : disain dari dua tabung kapiler yang dipasang pada sudut
tertentu satu-sama lain. Gas Ar dipasang tepat pada ujung runcing pipa
kapiler. Tumbukan aliran keduanya akan membentuk aerosol. Efisiensi
droplet rendah, tapi dapat mengurangi masalah penyumbatan (clogging).
– high solid nebulizer : Babington, V-groove, cone-spray tidak boleh dipakai
di ICP-MS

• Ultrasonik nebulizer menggunakan tenaga ultrasonik dengan frekuensi 200

kHz – 10 MHz. Tekanan yang dihasilkan dapat memecahkan permukaan udara-
air sehingga terbentuk kabut. Kalau kandungan pelarut terlalu tinggi dapat
memadamkan plasma, sehingga pelarut perlu dihilangkan. Dengan demikian
hanya partikel aerosol kering yang masuk ke plasma sehingga sesitifitas dapat
naik hingga 10 kali. Mudah menyimpan memory effect sehingga perlu waktu
lama untuk mencucinya. Harganya sangat mahal.
 Nebulizer
 sampel

Concentric


Ar

Cross-flow

Ultrasonic
 Fungsi:
• Untuk memilih aerosol yang terbentuk dari proses
pengkabutan: butiran kecil akan masuk ke
plasma, butiran besar akan dikeluarkan
• Untuk menstabilkan aliran sampel yang keluar
dari nebulizer
• Untuk menstabilkan suhu sampel

Spray
• Untuk meminimalkan jumlah pelarut yang masuk
ke plasma

chamber Yang terjadi di dalam spray chamber:

• Penghilangan pelarut: meningkatkan butiran yang
sesuai, meningkatkan jumlah yang masuk ke
plasma, menjaga suhu tetap konstan
• Pembentukan kesetimbangan antara cairan dan
uap sehingga mempercepat pengeluaran
buangan
• Spesiasi : volatile akan bergerak lebih cepat
dibandingkan butiran aerosol untuk masuk ke
plasma (kadang untuk pelarut organik perlu
pendinginan)
 Spray chamber

Jenis Cyclonic Scott type Conical

Single pass

Double pass

Cooler
 Spray chamber

• Cyclonic : desain sedemikian rupa sehingga memiliki daya sentrifugal

untuk pemilihan/pembentukan butiran. Kesetimbangan terbentuk dengan
cepat sehingga memiliki efisiensi yang tinggi. Akibatnya sensitifitas naik
1.2-1.5x dengan limit deteksi yang lebih rendah.

• Scott : aerosol ditembakkan ke sentral tube, butiran yang besar akan

bergabung dan turun secara gravitasi. Desain yang memanjang sehingga
memiliki waktu penstabilan yang cukup lama dan volume yang besar.

• Conical : menggunakan tumbukan aerosol dengan bead untuk

memecahkan butiran yang besar.

• Double pass bertindak sebagai penyaring kedua untuk menurunkan luas

tumbukan sehingga dapat menurunkan noise level. Selain itu dapat
mengurangi jumlah pelarut yang masuk ke plasma sehingga plasma stabil.
 Plasma
The four main stages will undergo are:

Aerosol introduction into

the plasma torch

Sumber: Thermo Fisher Scientific

 Plasma

Plasma bukan Flame !!

Tidak ada proses pembakaran gas.

Plasma:
• Gas yang sangat panas, suhu mencapai 10000 K
• Kumpulan awan elektron dan ion dalam bentuk gas
• Bermuatan netral

Terbentuknya plasma
Pada saat RF power dijalankan (750-1500 W) maka pada coil akan terjadi RF osilasi
membentuk medan elektromagnetik di ujung atas torch, yang dapat menyebabkan
terjadinya percikan tegangan tinggi ketika gas argon mengalir di torch sehingga
beberapa elektron akan terlepas dari atom-atom argon. Reaksi ini terus berlanjut
sehingga terbentuk plasma.

Pembentuk plasma : RF generator, RF coil, dan torch

Argon dalam ICP sangat lemah ionisasinya, hanya sekitar 0,1%
terionisasi.
Energi dari plasma Argon didominasi oleh energi ionisasi pertama Ar
(15,76 eV). Sebagian besar unsur memiliki energi ionisasi yang lebih
rendah dari energi ionisasi argon, sehingga hampir semua unsur dapat
terionisasi lebih dari 90% membentuk ion bermuatan +1, dan hanya
beberapa unsur yang kurang dari 50% (misalnya Cl).
Energi ionisasi
kedua sangat
tinggi, dan juga
keberadaan ion ini
tidak diharapkan.
 • Menggunakan radio frequency power pada 27
dan 40 MHz untuk menginduksi coil. Frekuensi
ini sudah diatur sehingga tidak mengganggu
frekuensi radio atau komunikasi.
• Semakin tinggi frekuensi yang dihasilkan maka
semakin tipis plasma yang terbentuk:

RF generator
– Power yang dibutuhkan semakin rendah
– Linearitas semakin besar
– Background semakin kecil
– Signal lebih tinggi untuk beberapa unsur
– Sangat baik untuk pelarut organik
• Dilengkapi dengan air pendingin yang dialirkan
di dalam coil.
 • Coil dibuat dari 2 atau 3 pipa Cu yang diisi dengan air
pendingin.
• Coil dibuat dari bahan tembaga karena sifat
pengantar suhunya.
• Coil ini dipasang pada ujung torch dan dihubungkan
dengan radio-frequency power generator untuk
menghasilkan medan magnet.
• Akan selalu ada perbedaan tegangan beberapa ratus
volt antara RF coil dan plasma yang dapat
menimbulkan secondary discharge antara plasma
dengan interface cone.

RF coil • Dalam ICP-AES hal ini tidak memberikan masalah,

tetapi menjadi masalah serius dalam ICP-MS.
Secondary discharge atau disebut juga sebagai pinch
effect dapat meningkatkan terbentuknya ion
bermuatan +2 atau ion-ion lain dari sample cone yang
dapat mengganggu pengukuran. Selain itu peristiwa
ini dapat menurunkan umur atau masa pakai sample
cone.
• Karena itu coil pada ICP-MS sedikit berbeda dengan
coil pada ICP-AES. Pada ICP-MS, coil harus
dihubungkan dengan grounded untuk sedapat
mungkin menghilangkan perbedaan tegangan
(dijadikan zero potential).
 • Untuk mengubah Ar gas menjadi plasma,
menahan induksi coil dari plasma, mengalirkan
sample secara langsung ke plasma.
• Torch biasanya terbuat dari fused silica dengan
mp 1700oC
• Torch terdiri dari 3 concentric quartz tube:
a. Bagian luar: berisi plasma gas dengan flow
12-18 L/min. Plasma gas merupakan asupan
primer Ar untuk membentuk plasma. Gas ini
juga berfungsi sebagai penstabil plasma dan
Torch pendingin yang melindungi torch
b. Bagian tengah: berisi auxiliary gas dengan
flow 0.75-2 L/min untuk menyalakan plasma.
Juga berfungsi sebagai penyekat panas dan
listrik.
c. Bagian dalam: berisi aliran gas dan butiran
sampel dari nebulizer
• Torch didinginkan oleh plasma dan auxiliary
gas.
 Torch

Auxiliary gas
Nebulizer gas + sample

Plasma gas

Plasma tail 6000 K

Outer tube
6500 K
Analytical zone
7500 K
Inner Initial radiation
tube zone 8000 K

Induction zone 10000 K

Middle tube
Preheating zone
 Torch

Jenis-jenis torch:
• One piece
• Demountable : beberapa bagian dari torch dapat diganti sehingga
dapat dipakai untuk HF, bensin, high dissolved solids, dll.
 Interface
Sample Skimmer
cone cone

3-4 Torr
760 Torr 10-6 Torr
Unit of pressure measurement
Bar psi Torr Pascal
Bar 1 14.5 750 100 000
psi 0.068 9 1 51.7 6895
Torr 0.001 33 0.019 3 1 133
Pascal 0.000 01 0.000 145 0.007 5 1
From CRC, 2000
 Interface
Interface terdiri dari cone dan sistem vakum.

Fungsi interface
• Untuk memindahkan ion secara efisien dan konsisten dari plasma yang
bertekanan udara biasa (760 Torr) ke mass spectrometer yang
bertekanan 10-6 Torr.
• Untuk menghubungkan plasma yang temperaturnya tinggi dengan ion
focusing yang bekerja di temperatur kamar.

Bagaimana membawa ion-ion dari plasma yang bertekanan udara biasa

ke bagian vakum di mana mass spectrometer berada?

Ion tidak akan bergerak jauh pada tekanan udara biasa (760 Torr).
Tekanan harus diturunkan menjadi 10-6 atau 10-8 Torr agar dapat tepat
berada di dalam mass spectrometer.
 Interface

 Panjang “Mean free path” dari ion harus > 1 meter untuk dapat
mencapai mass spectrometer
 “Mean free path” adalah mean atau jarak rata-rata di mana ion dapat
bergerak bebas tanpa menumbuk partikel lain.
 Perlu high vacuum untuk menghilangkan udara dari sistem

Mean Free Path distances as a function of the system pressure

Pressure (Torr) Mean Free Path Note
760 (1 atm) 0.000 000 1 m (0.1 µm) Sample introduction system
1 0.000 05 m ( 0.05 mm)
0.05 0.001 (1 mm)
10-5 5m Optic area
10-6 50 m
10-7 500 m Analyzer area
10-8 5 000 m Mass spectrometer
 Interface:
Sistem vakum
Terdiri dari:
– Mechanical rotary pumps
digunakan untuk menurunkan
tekanan. Pompa ini bekerja
dengan sistem mekanik biasa
untuk mengeluarkan udara dari
tekanan normal hingga <1 Torr.
– Turbo Molecular pump digunakan
untuk meningkatkan vakum.
Pompa ini harus sangat bersih dan
memiliki 10-20 sayap blade (mirip
dengan jet engine turbine blade)
dengan putaran hingga 100 000
rpm.
 Interface: Cone
Cone ditempatkan dalam wadah (interface
housing) berisi air terbuat dari Cu atau Al.
• Diameter lubang
– sample cone 0.8-1.2 mm
– skimmer cone 0.4-0.8 mm
Biasanya cone yang dipakai terbuat dari Ni,
bisa juga dari Pt, Cu atau Al.
Cone harus terbuat dari bahan yang keras,
memiliki konduktivitas termal dan titik leleh
yang tinggi agar tidak meleleh.
 Cone
Design cone:
• two-cone design: memungkinkan untuk melakukan 2 step penurunan
tekanan menghasilkan aliran ion yang tersebar luas. Perlu tambahan alat
untuk memfokuskan ion-ion menuju quadrupole.
• three-cone design:
memungkinkan untuk
melakukan 3 step penurunan
tekanan menghasilkan aliran
ion yang lebih terpusat,
transmisi ion yang lebih
besar, meningkatkan stabilitas
jangka panjang dan
menurunkan maintenance
alat.
 Ion Lens
Aliran dari plasma merupakan campuran dari
• Atom netral (Ar) dan molekul (O2) - -
- - - -
• Ion atau molekul bermuatan positif (Ar+, O2+) - - - - - -
• Ion atau molekul bermuatan negatif
• Foton
• Elektron
-
- -
Ion lensa akan menangkap dan membawa ion - - - - -
- - - -
bermuatan positif ke quadrupole.

Lensa ion adalah pelat elektrostatik yang ditempatkan di bagian tengah,

di antara cone dan mass separator.
 Ion Lens

Fungsinya:
• Memfokuskan aliran ion dan memindahkan sebanyak mungkin ion
analit dari interface ke mass separator
• Membuang sebanyak mungkin ion dari senyawa matriks dan non
analit
• Menghentikan semua spesi netral dan foton karena dapat
meningkatkan noise background sehingga menurunkan
kemampuan deteksi.
• Membuang semua partikulat yang mungkin terbentuk dari plasma
karena dapat membuat sinyal menjadi tidak stabil dan bahkan dapat
mengendap pada lensa.
 Spesi netral
Ion Lens
Lensa ion ditangkap agar tidak
masuk ke high
vacuum chamber.

• Dengan menempatkan lensa bermuatan positif, maka ion-ion akan

berkumpul pada bagian tengah lensa
• Ion dengan massa yang kecil akan mudah difokuskan pada tegangan
rendah, sedangkan ion dengan massa yang besar akan terfokus pada
tegangan tinggi.
• Jika tegangan terlalu tinggi maka ion akan tertolak.
 Ion Lens
Grounded
stop
Lensa ion
tunggal

Keuntungan desain ini adalah digunakan satu tegangan optimum yang

memungkinkan sebanyak mungkin massa dari analit dapat lewat
sedangkan matriks minimum.
• Biasanya berpasangan dengan grounded stop yang berfungsi sebagai
penghalang untuk menghilangkan debu, spesi netral dan foton.
• Memberikan background tinggi tetapi memberikan kestabilan jangka
panjang yang sangat baik.
• Dapat diterapkan untuk semua sampel, khususnya sangat baik untuk
memisahkan unsur analit yang bermassa rendah dari matriks yang
bermassa tinggi.
 Ion Lens

Quadrupole merupakan mass-filtering device, di mana ion akan bergerak di

antara batangan silinder. Pada saat quadrupole ditempatkan pada sudut
yang tepat dari aliran ion, ion akan secara efisien berpindah sedangkan foton
dan molekul netral akan diarahkan ke tempat yang berbeda sehingga dapat
dipisahkan atau dihilangkan.
 Mass Analyzer
Disebut juga sebagai mass separation device.
Fungsi:
• Memisahkan ion berdasarkan mass to charge ratio (m/z).
• Memisahkan ion analit dari semua non-analit, matriks, pelarut dan ion-ion
argon.
• Membuat mass spectrum.
Proses pemilihan dilakukan dengan berbagai cara, bergantung pada alat
mass separation yang digunakan.

Ada tiga macam mass analyzer:

1. quadrupole mass filters,
2. double focusing magnetic sector,
3. time-of-flight.
1. Quadrupole mass filter
Quadrupole
• terdiri dari 4 batang silinder logam dengan
panjang (15–20 cm) dan ukuran diameter yang
sama (1 cm) yang beroperasi pada frekuensi 2-
3 Hz.
• terbuat dari stainless steel atau molybdenum,
kadang-kadang dilapisi keramik agar tahan
korosi.

Memisahkan ion analit dengan menggunakan tegangan dan medan magnet.

• Ion akan bergerak di antara keempat batangan silinder dan disaring
berdasarkan perbedaan massanya.
• Banyak massa ion yang masuk tapi hanya akan ada satu massa yang
dapat lewat sampai ke detektor.
• Resolusi adalah 0.7–1.0 atomic mass units (amu).
 Quadrupole

Ion analit (hitam) dan empat ion lain (warna) memasuki quadrupole.
Pada saat tegangan Rf-DC dinyalakan, batangan silinder positif atau
negatif dari quadrupole akan mengatur ion analit masuk ke tengah-tengah
batang silinder hingga ujung dan masuk ke detektor. Ion lainnya yang
berbeda mass to-charge ratio tidak akan dapat melewati batangan silinder.
Proses scanning ini diulang untuk analit lain sampai semua analit terukur.
Dengan cara ini, semua m/z ratios dari 5 – 260 amu dapat secara
sekuensial terbaca dalam 0.1 detik dengan kecepatan 2500 amu per detik.
Quadrupole
 2. Double focusing magnetic sector

Fokus 2: Perubahan electric field pada arah

Electrostatic medan magnet yang berbeda akan
analyzer akan memiliki efek “stopping” massa yang
menyebarkan melewati analyzer.
ion berdasarkan
energinya dan
menfokuskan ion
analit ke exit slit.

Fokus 1: Medan magnet

akan menyebarkan ion
berdasarkan energi dan
massanya dan menfo-
kuskan ion analit dengan
sudut yang berbeda dari Ion dari plasma dipercepat
entrance slit. oleh accelerated optic
Resolusi dan sensitivitas sangat unggul, untuk 115In dapat mencapai 1 milyar
cps/ppm. Kecepatan untuk full mass scan (0–250 amu) dari magnet adalah
150–200 ms (quadrupole adalah 100 ms), tetapi waktu yang dibutuhkan
magnet untuk slow down dan siap untuk pengukuran berikutnya adalah 30–
50 ms (quadrupole adalah 1–2 ms) membuat modern double focusing
magnetic-sector ICP-MS systems bekerja lebih lambat dari quadrupole
instruments. Sehingga alat ini tidak cocok dipakai untuk analisis rutin.
 Perbandingan resolusi spektra
massa Fe dengan polyatomic
interference 40Ar16O :
a. Quadrupole
b. High resolution magnetic
sector

Perbandingan resolusi
 Low : 300-400
 Medium : 3000-4000
 High : 8000-10000

Dr Rosi Ketrin-AAS/ICP training

 3. Time-of-flight (TOF)
Memiliki 3 keunggulan:
• Rapid multielement determinations menggunakan sampling accessories
seperti laser ablation dan electrothermal vaporization devices
• High-precision untuk teknik ratioing seperti internal standardization dan
isotope ratio analysis
• Rapid multielement measurements, khususnya untuk volume sampel
yang terbatas.
Prinsip dasarnya adalah energi kinetik (Ek) dari ion dihubungkan dengan
mass (m) dan velocity (v), dengan persamaan
Ek = 1⁄2mv2
Dan mass-to-charge ratios akan merupakan
fungsi dari accelerating voltage(U), waktu(t),
dan fixed flight path distance(D)
m/z = 2Ut2/D2
 Dengan TOF, ion-ion
dalam sampel diukur
pada waktu yang
bersamaan tanpa
mengurangi
kualitasnya sehingga
analisisnya akan lebih
cepat dari quadrupole
(yang hanya dapat
mendeteksi satu massa
pada setiap waktu).
Kekurangan:
• Sensitivitas lebih rendah dibandingkan dengan quadrupole
• Background level 20-50 cps yang berarti lebih tinggi dari quadrupole (1-10
cps)
• Efisiensi rendah
• Resolving power rendah yaitu 500–2000, tergantung dari massanya,
sehingga tidak cukup untuk dapat mengatasi gangguan polyatomic.
Sebagai perbandingan, double-focusing magnetic sector memiliki resolving
power sebesar 10.000, dan quadrupole sebesar 300–400.
 Detektor
Spesifikasi yang penting untuk pemilihan detektor dalam ICP-MS adalah:
 High sensitivity (counts per second per unit concentration)
 Wide linear dynamic range (range konsentrasi linear besar)
 Low random background

Detektor pada ICP-MS biasanya menggunakan discrete dynode

multiplier detector yang disebut juga active film multiplier.
• Ion menumbuk dynode pertama, melepaskan elektron
• Elektron diperkuat dengan adanya tegangan yang dipasang pada
multiplier dan menumbuk dynode kedua, melepaskan lebih banyak
elektron, dan selanjutnya
• Hasil akhir adalah sekumpulan besar elektron pada multiplier exit, untuk
setiap ion yang masuk.
 Detektor

Schematic of dual
mode detector – automatic
switching between pulse
counting and analog mode

Conventional pulse
counting digunakan
untuk 6 order
konsentrasi, sedangkan
penambahan sistem
analog memberikan
tambahan 2 hingga 3
order konsentrasi,
dengan total 8 atau 9
order konsentrasi range.
Detektor
 Rangkuman
Tahapan dalam penentuan dengan ICP-MS :
1) Sample introduction untuk membentuk aerosol dan memilih butiran
sampel dengan ukuran yang tepat
2) Proses desolvation, vaporization, atomization dan ionization pada
plasma dengan temperatur tinggi;
3) Sampling ion-ion dari tekanan udara normal ke vacuum di mana
mass spectrometer berada;
4) Focusing dan transmission ion oleh sistem lensa, di mana juga
memisahkan ion dari elektron, neutron, foton dan partikulat;
5) Mass separation (element/isotope selection) dalam quadrupole; dan
6) Detection oleh electron multiplier
GANGGUAN DALAM
ICP-MS
 Gangguan dalam ICP-MS

Spectrum massa deionized water

Gangguan dalam ICP-MS diklasifikasikan menjadi tiga bagian besar:

1. spektral,
2. matriks,
3. fisik.
 Gangguan Spektral
Gangguan spektral merupakan gangguan yang paling
serius dalam ICP-MS.
Sumber utama gangguan spektral adalah:
• Gangguan isobar: overlap langsung dari unsur lain
yang memiliki isotop dengan massa yang sama
114Sn overlap dengan 114Cd
• Gangguan poliatomik: overlap dengan ion yang
terbentuk sebagai kombinasi dengan gas plasma,
pelarut sampel, atau matriks
40Ar16O overlap dengan 56Fe
• Spesi doubly-charged
136Ba2+ overlap dengan 68Zn+
Gangguan Isobar
Dr Rosi Ketrin-AAS/ICP training
 Gangguan Poliatomik
Gangguan poliatomik disebut juga gangguan spektral molekular,
terbentuk karena kombinasi dua atau lebih ion atom dengan
• gas plasma dan nebulizer  membentuk argida
• komponen matriks dalam pelarut (O, H, Cl, N) atau sampel (C, Cl,
S)  membentuk hidroksida dan senyawa lain
• oksigen atau nitrogen dari udara sekitar  membentuk oksida,
nitrida, hidrida
Gangguan Poliatomik
Dr Rosi Ketrin-AAS/ICP training
 Cara mengatasinya
Diatasi dengan:
 Pilih isotop yang bebas dari gangguan.
• 114Cd terganggu dengan adanya 114Sn, jadi gunakan 111Cd yang
bebas gangguan.
• Limit deteksi akan turun karena kelimpahaan isotop 111Cd hanya
12.80%, sedangkan 114Cd adalah 28.73%.
• Beberapa unsur terganggu semua istopnya, misalnya V.
Vanadium memiliki dua isotop yaitu 50 dan 51 amu.
Adanya klorida dalam matriks akan overlap dengan 51V karena
terbentuknya 35Cl16O. Untuk 50V (kelimpahan 0.25%) juga overlap
dengan 50Ti (kelimpahan 5.4%) dan 50Cr (kelimpahan 4.3%)
 Cara mengatasinya

 Melakukan koreksi sinyal dengan persamaan matematika

• Melakukan koreksi untuk 51V dengan mengukur 37Cl16O yang
bebas gangguan.
• Melakukan koreksi untuk 114Cd.

Total count mass 114 = 114Cd + 114Sn

114Cd = total counts mass 114 - 114Sn

Untuk mengetahui nilai 114Sn dilakukan pengukuran pada 118Sn

yang bebas gangguan dan melakukan koreksi untuk mendapatkan
nilai 114Sn.
114Sn = (kelimpahan 114Sn/kelimpahan 118Sn) x count mass 118Sn

= (0.65%/24.23%) x count mass 118Sn

Jadi 114Cd = total counts mass 114 – ((0.65%/24.23%) x count

massa 118Sn)
Polyatomic Correction Interference of Chloride on Arsenic

As hanya punya satu isotop pada 75 amu

Konsentrasi yang tinggi dari klorida bereaksi dengan argon
• 40Ar35Cl mengganggu pada pengukuran 75As (isobaric overlap)
• total counts pada massa 75 = counts dari 75As + counts dari 40Ar35Cl
• 75As = mass 75- 40Ar35Cl
• Lakukan pengukuran dari 40Ar37Cl pada mass 77
• Koreksi kelimpahan 35Cl dari 37Cl = 75.77%/24.23%=3.127
• Koreksi dengan persamaan matematika:
75As = mass 75-3.217*(40Ar37Cl)

Kalau ada Se dalam sampel, maka perlu dihitung koreksi untuk 40Ar37Cl
• 77Se akan isobaric overlap dengan 40Ar37Cl
• Harus dilakukan pengukuran Se pada massa 82
• Koreksi kelimpahan 77Se dari 82Se = 7.63%/8.73% = 0.874
• Koreksi dengan persamaan matematika:
75As = mass 75-3.127*[(mass77-0.874*82Se]
 Cara mengatasinya

 Dengan teknologi Cool/Cold Plasma

• Jika intensitas pengganggu terlalu besar dan intensitas analit terlalu
kecil maka persamaan matematika menjadi tidak tepat.
• Gangguan overlap poliatomik harus sedapat mungkin dikurangi
dengan mengatur kondisi plasma.

Pada normal plasma (Rf power

1000–1400 W dan nebulizer gas
flow 0.8–1.0 L/min), akan terbentuk
40Ar16O.

Dengan cool plasma (Rf power 500–

800 dan nebulizer gas flow1.5–1.8
L/min), kondisi ionisasi plasma
berubah sehingga banyak
pengganggu hilang.
Spectral 100 ppt 56Fe dan deionized water
menggunakan cool plasma.
 Cara mengatasinya

 Teknologi Collision–reaction cell

Reaction mode: gas bereaksi dengan ion pengganggu dan
mengubahnya menjadi spesi lain sehingga tidak mengganggu lagi.
Collision mode: gas bertumbukan dengan ion pengganggu
menyebabkan ion pengganggu kehilangan energi. Karena poliatomik
merupakan spesi yang besar, maka akan mudah untuk bertumbukan
lagi sehingga semakin kehilangan energi. Ion pengganggu yang
berenergi rendah akan dapat dipisahkan dari yang berenergi tinggi oleh
energy discrimination (ED).
Collision-reaction cell yaitu sebuah sel yang mengandung multipole
(quadrupole, hexapole, atau octapole) yang bekerja dengan radio
frequency (Rf), berisi gas seperti hidrogen, helium atau amonia.
Analit dialirkan ke dalam collision-reaction cell sehingga memungkinkan
terjadinya collision dengan gas pengisi.

Reaction cell
Gas pengisi misalnya amonia akan
bereaksi dengan ion penganggu
dan mengubahnya menjadi spesi
yang berbeda sehingga tidak
mengganggu analit.
Cara mengatasinya
Collision-reaction cell
Penggunaan NH3 sebagai gas dalam
cell dapat menghilangkan gangguan
dari argon-oksida (40Ar16O) pada
penentuan 56Fe.
Cara mengatasinya
 Cara mengatasinya

 High Resolution Mass Analyzers

Cara terbaik dan paling efisien untuk mengatasi masalah spectral
overlaps adalah dengan menggunakan high resolution mass
spectrometer.

Pemisahan 75As dari 40Ar35Cl menggunakan high resolving power (10,000)

pada double-focusing magnetic sector instrument.
 Gangguan matriks dan
gangguan fisik
Ada dua macam gangguan dari matriks:
• Sample transport effect
• Physical suppression of the analyte signal

Sample transport effect

Gangguan yang disebabkan oleh perbedaan butiran
kabut, viskositas, dan tegangan permukaan
(perbedaan fisik) yang akan mempengaruhi
perpindahan sampel. Matriks akan mempengaruhi
terbentuknya butiran halus di nebulizer atau spray
chamber. Untuk matriks organik perbedaan viskositas
dari pelarut akan mengganggu.

Physical suppression of the analyte signal

Gangguan yang disebabkan oleh perbedaan
konsentrasi pelarut dalam matriks yang akan
mempengaruhi suhu ionisasi dalam plasma.
 Matrix suppression yang disebabkan oleh peningkatan konsentrasi HNO3,
menggunakan cool plasma (Rf power: 800 W, nebulizer gas: 1.5 L/min).

Gangguan fisik
Pada saat Total Dissolved Solids melebihi 1000 ppm, akan terjadi
perubahan tegangan permukaan, densitas, dan viskositas yang dapat
berpengaruh pada slope kurva kalibrasi.
 Cara mengatasinya
Diatasi dengan:
 Matrix removal
 Standard addition
 Matrix match calibration
Matriks standar dibuat semirip mungkin dengan sampel sehingga segala
pengaruh yang terjadi dalam sampel juga terjadi dalam standar.

 Isotope Dilution
Sample dispike dengan enriched isotope dari unsur analit yang sama.
Enriched isotope berfungsi sebagai standar kalibrasi dan internal standar.
Karena keduanya memiliki sifat fisik dan kimia yang sama dengan analit,
maka segala pengaruh yang dialami analit juga dialami enriched isotope,
sehingga merupakan internal standar yang terbaik.
IDMS merupakan metode primer yang tertelusur ke SI unit.
 Cara mengatasinya

 Penggunaan Internal Standard.

• Sejumlah larutan dari satu atau beberapa unsur (biasanya ppb
level) ditambahkan ke dalam seluruh larutan yang akan diukur:
sampel, standar, blanko.
• Tujuannya :
• Mengoreksi response dari sinyal yang turun karena efek matriks.
• Mengoreksi sinyal karena drift instrument .
 Cara mengatasinya

Syarat dari internal standard:

• Stabil
• Tidak boleh ada dalam sampel
• Tidak bereaksi dengan matriks sampel atau analit
• Tidak mengganggu massa analit
• Bukan pencemar lingkungan
• Memiliki massa yang sedekat mungkin dengan massa analit
• Memiliki potensial ionisasi yang sama dengan analit sehingga
perlakuan di dalam plasma akan sama
• Yang biasa digunakan sebagai internal standar: 9Be, 45Sc, 59Co,
74Ge, 89Y, 103Rh, 115In, 169Tm, 175Lu, 187Re, dan 232Th.
 Cara mengatasinya

Contoh: analisis As dengan ICP-MS

Masing – masing standar As mengandung 10 ppb 74Ge

Intensitas(cps)
(ppb) 75As 74Ge As/Ge
1 112 1347 0,083
3 243 1527 0,159
5 326 1383 0,236
7 355 1135 0,313
10 558 1440 0,388
 Tanpa koreksi IS
600

500

400

cps
300

200

100

0
0 20 40 60 80 100 120
As (ppb)

Dengan koreksi IS
0,500

0,400

0,300
As/Ge

0,200

0,100

0,000
0 20 40 60 80 100 120
As (ppb)
 Cara mengatasinya

Hasil untuk sampel yang ditambahkan 10 ppb Ge

Intensitas(cps)
Replikat 75As 74Ge As/Ge
1 346 1426 0,243
2 297 1229 0,242
3 328 1366 0,240
4 331 1371 0,241
5 324 1356 0,239

Mean 325 1350 0,241

SD 17,8 72,7 0,00144
RSD 5% 5% 1%
 Rangkuman

Gangguan Cara Mengatasi

Spektral:  Pilih isotop yang bebas gangguan

• Isobar  Koreksi sinyal secara matematis

• Poliatomik  Teknologi cold plasma

 Teknologi Collision–reaction cell
• Spesi doubly-charged
 Gunakan HR-ICPMS

Matriks & Fisik  Matrix removal

• Sample transport effect  Standard adisi

• Physical suppression of the  Matrix match calibration

analyte signal  Isotope dilution
 Internal standar
 Pengendalian
kontaminasi dalam
Analisa Trace ElementS
 FAKTOR-FAKTOR DOMINAN DALAM PENGUJIAN

Standard/
Technical grade
reagent Electronic grade
Ultra pure
Clean room
Clean bench
Simple
environment method
Complex

Analytical
result Skill
analyst Knowledge
instrument
Stable
Sensitive
labware Adsorption
Leaching
 Metoda preparasi sampel
Pd2+

Destruksi

Ekstraksi
method
 Metoda preparasi sampel

Destruksi:
- destruksi basah secara terbuka
- destruksi basah secara tertutup (microwave
digestion system)
- destruksi kering

Ekstraksi:
- cair-cair : solvent extraction
- padat cair : SPE, menggunakan resin
 Metoda preparasi sampel

Destruksi
Sampel cair:
 Sampel + asam, dipanaskan atau diuapkan

Sampel padat:
 Sampel + asam (+oksidator), dimicrowave
 dikeringkan untuk menghilangkan asam
 didestruksi kering pada suhu 500oC
 Metoda preparasi sampel
Destruksi-Reagen
HNO3 • Tidak dapat untuk HgS, Au, Pt, Pd, Nb, Ta, Zr, Sn, Sb, dan W
69% 120 C • Pelarutan Al dan Cr sangat lambat.

HCl • Melarutkan garam dari asam lemah: karbonate, fosfat

36% 120 C • Melarutkan oksida dan beberapa sulfida.

H2SO4 • Dipakai untuk destruksi pada T tinggi (bp 300 °C)

95% 330 C • Viscositas tinggi, membentuk endapan sulfat (unfavored di ICP-MS)

HClO4 • Oksidator sangat kuat pada suhu tinggi (bp 203 °C).
70% 200 C • Pelarut yang baik untuk stainless steel dan sulfida.

HF • Untuk sampel yang mengandung silikat

40% 130 C • Dengan HNO3 untuk melarutkan Ti, W, Nb, dan Zr
• Dengan NaOAc untuk ekstraksi pengotor logam

H2O2 • Oksidator kuat

30% 110 C • Tidak merusak (korosif) vessel PTFE
• Tidak merubah matriks sampel

H3PO4 • Untuk sampel zeolite, ferrit, quartz dll

85% 210 C • Membentuk hidroksida dengan elemen
• Viskositas dan titik didih tinggi, membentuk endapan fosfat
 Metoda preparasi sampel

Destruksi
Nitric Acid Hydrochloric Acid

Hydrofluoric Sulfuric Acid

 Metoda preparasi sampel

Ekstraksi Pelarut
Mn+ + n HR  MRn + n H+

Fasa organik : organik-logam (MRn)

Fasa air: sampel yang diekstraksi

Back
extraction Fasa organik : pelarut

Fasa air: Mn+

MRn + n H+  Mn+ + n HR
 Metoda preparasi sampel

Ekstraksi Pelarut
No Zat pengompleks (R) Pelarut organik pH Logam target
CHCl3, CCl4, Ag, Cr, Hg, Pb, Zn,
1 Dithizone Asam
MlBK Fe, Cu, Cd, Co, Ni.
Diethylammonium
Asam s/d
2. diethyldithiocarbamate CCl4, CHCl3 Cu, Ni, Ag.
pH 12
(DDDTC)
Sodium diethyl Lebih Cr, Fe, Cu, Pb, Cd,
3. MlBK
dithiocarbamate dari 3 Zn, Mn, Co.
Cd, Co, Cr, Cu, Fe,
Ammonium pyrrolidine Asam s/d
4. MlBK Mn, Pb, Ni, Zn, As,
dithiocarbamate pH 9
Hg, Se
5. DDDTC – APDC MlBK CHCl3 4–6 Cd, Ni, Pb, Zn, Cu.
 Metoda preparasi sampel

Ekstraksi fasa padat (SPE)

Cu2
+

Na+
SO3-
SO 3-
Na+ Cu2+
+
SO3-Na SO 3- Cu2+ SO 3-
SO3- SO 3-
Na+SO 3-
Na+SO 3-

SO3-
SO 3-
SO3- Na+ SO3- Cu2+
SO 3- SO3-

Resin penukar ion

• Asam kuat: asam sulfonat group
• Basa kuat: kuaterner amino group
• Asam lemah: asam karbiksilat group
• Basa lemah: primer, sekunder, tersier
amino group

Resin pembentuk khelat :

iminodiacetat, aminophosphonik,
thiourea, 2-picolylamine
 Standard/
Reagen dan Pelarut reagent

Grades of Chemicals

Reagent A.C.S. - This designates a high quality chemical for laboratory use. The abbreviation
"A.C.S.," means the chemical meets the specifications of the American Chemical Society. A
Certificate of Analysis is available upon request.
Guaranteed Reagent (GR) - Suitable for use in analytical chemistry, products meet or exceed
American Chemical Society (ACS) requirements where applicable. (EMD trademark)
AR - The standard Mallinckrodt grade of analytical reagents; suitable for laboratory and general
use. If the reagent also meets the requirements of the American Chemical Society Committee on
Analytical Reagent, it will be denoted as an AR (ACS) reagent. (MBI trademark)
Primary Standard - Analytical reagent of exceptional purity that is specially manufactured for
standardizing volumetric solutions and preparing reference standards.
Reagent - The highest quality commercially available for this chemical. The American Chemical
Society has not officially set any specifications for this material.
OR - Organic reagents that are suitable for research applications.(MBI trademark)
Purified - Defines chemicals of good quality where there are no official standards. This grade is
usually limited to inorganic chemicals.
 Reagen dan Pelarut

Practical - Defines chemicals of good quality where there are no official standards.
Suitable for use in general applications. Practical grade organic chemicals may
contain small amounts of isomers of intermediates.
Lab Grade - A line of solvents suitable for histology methods and general laboratory
applications.
USP - Chemicals manufactured under current Good Manufacturing Practices and
which meet the requirements of the US Pharmacopeia.
USP/GenAR - A line of chemicals manufactured under cGMP, meet the requirements
of the 1995 USP 23, meet European Pharmacopeia (PhEur, EP) and British
Pharmacopeia (BP) specifications where designated, and are Endotoxin (LAL) tested
where appropriate. (MBI trademark)
NF - Chemicals that meet the requirements of the National Formulary.
FCC - Products that meet the requirements of the Food Chemical Codex.
CP (Chemically Pure) - Products of purity suitable for use in general applications.
Technical - A grade suitable for general industrial use.
 Reagen dan Pelarut

Acids

OmniTrace Grade Acids - Higher purity than Reagent Grade, suitable for trace metals
analysis. Acids are analyzed for a minimum of 33 different metals. Trace metals are typically in
the ppb range. (EMD trademark)
Tracemetal - Acids manufactured to achieve very low metal contamination in ppb range.
Primarily used in digestion of samples prior to ICP analysis. Each lot is analyzed for 32 metals
by ICP/MS. (Tedia designation)
Tracemetal Plus - For critical trace metal analyses, the acids are manufactured by double
sub-boiling distillation to achieve low metal contamination in ppt range. Each lot is analzed for
32 metals by ICP/MS. (Tedia designation)
Suprapur Grade Acids - High purity grade acid produced by E. Merck. Suitable for sensitive
instrumental methods. Trace metals in low ppb range, frequently less than detection limits.
This grade applies to acids and salts. (EMD trademark)
AR Select - A line of acids specifically developed for trace metal analysis; analyzed for up to
28 metals in the 0.05 to 0.0005 ppm range. (MBI trademark)
AR Select Plus - The purest grade of Mallinckrodt acids. AR Select Plus acids are
manufactured utilizing sub-boiling point, quartz-lined stills and are packaged in fluoropolymer
bottles to maintain purity. These products are tested for 45 elements in the 3.5 to 0.005 ppb
range, ensuring low background interference. (MBI trademark)
Environmental Grade - Extremely high purity acids refined through a single sub-boiling
distillation process. (Anachemia trademark)
Environmental Grade Plus - Acids produced by distilling Environmental Grade acids a
second time. This product is double sub-boiling distilled acid and is of the highest purity
available. (Anachemia trademark)
 Reagen dan Pelarut

Jenis-jenis reagen dan asam:

• High purity: ultra trace, electrical reagent grade
• Standard for trace analysis : standard for AAS or ICP,
acid for poisonous metal
• Analytical reagent grade
• Technical grade
 Reagen dan Pelarut

Konduktivitas Air:
• Air laut: 5 S/m 1.000.000
• Air minum: 5-50 mS/m 1.000
• Air murni (highly purified water): 5.5 μS/m (18 MΩ cm) 1

Macam-macam air murni:

• Ultrapure water (UPW)
• Deionized water atau demineralized water (DI water, DIW)
• Double-distilled water (DDW)
Reagen dan Pelarut
 Labware
Borosilicate Tahan asam LDPE
Tidak bisa untuk HF, H3PO4 panas, basa.
Banyak mengandung kontaminan,
terutama bila dipanaskan pada suhu di
atas 500 oC.

HDPE Tahan terhadap larutan asam encer

hingga 10% v/v
Tutupnya dari PP yang lebih keras
dari PE, tetapi tidak sebersih PE.

PTFE
Tahan semua asam hingga 250 oC
PFA Biasa digunakan untuk digestion
menggunakan microwave.
Tidak bisa untuk HClO4, lelehan
basa, dan F2.
HDPE: High Density Poly Ethylene
LDPE: Low Density Poly Ethylene
PTFE: Poly Tetra Fluoro Ethylene
PFA: Per Fluoro Alkoxy
 Labware

PENCUCIAN / CLEANING PERALATAN

a) Pencucian alat gelas

• HNO3 pekat 60ºC : Rendam selama 6 jam, bilas dan
cuci dengan air murni.
• HNO3 – H2SO4 (pekat) (1 : 1);
• H2SO4 – K2Cr2O7 tak boleh dipakai karena Cr teradsorpsi oleh gelas
dan akan sulit dicuci.

b) Pencucian wadah PE, PP, Teflon

• Detergen non-ionik (misal Triton – 100) hangat (77ºC), bilas dengan air
murni.
• HNO3 pekat (60ºC) : Rendam selama 5 jam (untuk PE), atau < 1 jam
(untuk PP), bilas dan cuci dengan air murni.
• HNO3 1 : 2 ( atau 5M) : Rendam semalam pada suhu biasa.
 Labware

Hal khusus yang perlu diperhatikan:

i. Untuk Hg dan Se gelas borosilikat pada pH = 0 terbaik dan PE tidak
direkomendasikan
ii. Untuk Cr, gelas borosilikat pada pH < 2 terbaik (tidak pada PE/ PP)
iii. Untuk Ag, EDTA atau Na2S2O3 akan mencegah adsorpsi Ag+ oleh gelas
borosilikat maupun PE / PP.

MEMORY EFFECT
Gelas bekas menyimpan larutan logam berkonsentrasi tinggi tidak disarankan
untuk dipakai menyimpan larutan logam berkonsentrasi rendah karena akan
terjadi “Memory Effect”.

Jadi peralatan gelas untuk trace analysis :

i. Harus terpisah dari alat analis lainnya (analisis makro).
ii. Laboratorium analisis air harus terpisah jauh dari analisis geokimia dsb.
iii. Selalu dicuci bersih (dekontaminasi)
 Labware

Konsentrasi ion dalam larutan (1.0 mg/ mL) diukur 24 jam sesudah
larutan dibuat disimpan dalam gelas borosilikat dalam berbagai pH.
Kons awal Konsentrasi (mg/mL) pada pH larutan
Unsur
(mg/mL) 1.5 3.5 5.0 6.5 8.0 9.5 11 12
Al 1.0 1.0 1.0 0.1 0.1 0.1 0.5 0.8 1.0
Mo 1.0 1.0 0.5 0.5 0.6 0.7 1.0 1.0 1.0
Pb 1.0 1.0 1.0 ND ND ND ND ND ND
V 1.0 1.0 0.9 ND ND ND ND 0.7 0.9
Ti 1.0 1.0 ND ND ND ND ND ND ND
Co 1.0 1.0 1.0 1.0 0.9 0.8 0.1 ND ND
Cr 1.0 1.0 1.0 0.2 0.1 0.1 0.2 0.2 0.2
Cu 1.0 1.0 1.0 0.9 0.4 0.2 ND ND ND
Fe 1.0 1.0 1.0 ND ND ND ND ND ND
Mn 1.0 1.0 1.0 1.0 0.9 0.7 0.1 ND ND
Ni 1.0 1.0 1.0 1.0 0.9 0.7 0.1 ND ND
 Environment
Untuk trace analysis diperlukan:
• Clean room
• Clean bench
• Clean-room products: alat-alat
plastik, Teflon, perlengkapan
personel (baju, topi, sepatu,
gloves)

Clean room Class Max. Partikel per kaki kubik udara

100 100 (0,5 μm  Ø < 5 µm)
10.000 (0,5µm ≤ Ø < 5,0 µm)
10.000
65 (Ø ≥ 5.0 µm)
100.000 (0.5 µm ≤ Ø < 5.0 µm)
100.000
700 (Ø ≥ 5.0 µm)
.
 Environment
Clean room

Clean bench

Positive Pressure
Aplikasi : ketertelusuran pengujian
 Aplikasi : ketertelusuran pengujian

y=x
a y

x zx
b z
 Comar database
Dr Rosi Ketrin-AAS/ICP training
 Rangkuman
Cara pengendalian kontaminasi:
1. Labware:
Gunakan air miliQ (18mΩ)
Gunakan pipet berbahan plastic/ metal-free tips
Hindari alat gelas dan gunakan wadah penyimpan berbahan LDPE, HPDE.
2. Environment
Kontrol kondisi lab (suhu, kelembapan)
Minimalisir kontaminasi debu dan udara luar
Gunakan perlengkapan lab yang sesuai (sarung tangan, jas lab, sepatu lab)
3. Standar/reagen
Gunakan standar untuk trace analisis (ICP grade) dan supra/ultrapure acid
Question?
 Pustaka
1. R. Thomas, Practical Guide to ICP-MS, Chapter 14, Marcel Dekker, Inc, 2004

2. ICP-MS Primer, Agilent Technologies, Section 3, Agilent Technologies, Inc. 2005.

3. The 30-Minute Guide to ICP-MS ,PerkinElmer Instruments Application - technical Note , 2004-2011
4. From first principles: An introduction to the ICP-MS technique, technical note, Thermo Fischer
Scientific, 2005
5. P. Gaines, Sample Introduction for ICP-MS and ICP-OES, Spectroscopy 20(1) January 2005
6. A. Mantaser, Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry, Ed. Wiley-VCH, New York, 1998.
7. T. W. May, R. H. Wiedmeyer, A Table of Polyatomic Interferences in ICP-MS, At. Spectrosc. Vol.
19(5), Sep./Oct. 1998

8. US-EPA-METHOD 200.8, Determination of trace elements in waters and wastes by inductively

coupled plasma - mass spectrometry

9. Skoog, et.al., “Fundamental of Analytical Chemistry”, Brooks/Cole-Thomson Learning.

10. http://secure.sciencecompany.com/Chemical-Grade-Designations-W53C665.aspx

11. Atsushi Mizuike, Enrichment Techniques for Inorganic Trace Analysis, Springer-Verlag, 1983

12. Morris Zief, James W. Michell, Contamination Control in Trace Element Analysis, John Wiley &
Sons, 1976