DIFRAKSI SINAR X

David Setyabudi, M.Si.

DIFRAKSI

• Pada dasarnya difraksi merupakan hasil interaksi antar dua

gelombang atau lebih.
• Terdapat sebuah berkas sinar-X yang kita beri nama
berkas 1 seperti pada gambar diatas yang bergerak dari
kiri ke kanan.
• Anggap berkas sinar terpolarisasi bidang sehingga medan
listriknya ,E, hanya berada dalam satu arah.
• Berkas sinar digabungankan dengan dua gelombang,
dalam kasus ini kita gunakan notasi sinar 2 dan sinar 3,
dimana amplitudonya setengah dari berkas 1. Dapat kita
lihat pada gambar, gelombang muka AA’ dikatakan
berada dalam satu fase dimana vektor medan listrik antar
sinar 2 dengan sinar 3 memiliki besar dan arah yang
sama.
•Sebuah eksperimen dimana sinar 3 bergerak
dalam garis yang lurus, sedangkan sinar 2
bergerak dalam jalur yang berbentuk seperti
kurva sebelum bergabung dengan sinar 3.
•Dapat kita lihat dalam gelombang muka BB’,
sinar 2 mencapai titik maksimumnya,
sedangkan sinar 3 berada pada titik nol
sehingga berkas yang dihasilkan hanya
setengahnya saja
• Dua hal yang dapat dirangkum pada peristiwa
diatas adalah 1) Perbedaan panjang jalan yang
ditempuh oleh gelombang dapat menyebabkan
perbedaan fase. 2) Munculnya perbedaan fase
menyebabkan amplitudonya berubah
• Semakin besar perbedaan jalur yang ditempuh
oleh gelombang, maka semakin besar perbedaan
fase. Jika pembelokkan sinar 2 dalam gambar 3.1
memiliki panjang gelombang seperempat kali
lebih panjang dibandingkan dengan yang
ditunjukkan, maka beda fasanya menjadi
setengah panjang gelombang.
Difraksi sinar-x oleh sebuah kristal
• Sebagian Kristal dimana atomatomnya tersusun
dalam bidang parallel A, B, C, D,… dan terpisah
sejauh d.
• Sinar yang datang sejajar secara sempurna, dan
juga sinar-X yang digunakan monokromatik
sempurna dengan panjang gelombang λ
menumbuk Kristal ini pada sudut θ, yang disebut
sebagai sudut Bragg, dimana besarnya θ dihitung
antara sinar pada saat tumbukan dengan bidang
Kristal tertentu.
• Berkas difraksi didefinisikan sebagai sebuah
berkas yang tersusun dari berkas-berkas yang
dihamburkan dalam jumlah besar yang dapat
saling menguatkan satu sama lain.
• berkas difraksi yang terbentuk saja yang diperlihatkan,
yaitu yang membentuk sudut refleksi θ yang besarnya
sebanding dengan sudut datang θ. Pertama-tama akan
kita tunjukan hamburan atom-atom pada bidang
pertama, kemudian hamburan semua atom-atom yang
terdapat dalam Kristal.
• sinar 1 dan 1a, mereka menumbuk atom K dan P yang
terdapat pada bidang pertama dan kemudian
dihamburkan kesegala arah. Hanya pada arah 1΄ dan 1a΄
saja berkas yang dihamburkan berada dalam satu fasa
sehingga dapat saling menguatkan satu sama lain.
Mereka dapat saling menguatkan karena beda jalur yang
mereka tempuh diantara dua gelombang muka XX’ dan
YY’ besarnya sama dengan
• Sinar-sinar yang dihamburkan oleh semua atom
yang terletak pada bidang pertama dimana
arahnya sejajar dengan sinar 1΄ berada dalam satu
fasa dan menambahkan kontribusi terhadap
berkas difraksi. Hal ini berlaku disemua bidang
secara terpisah, dan kita harus menemukan
kondisi yang dibutuhkan untuk penguatan dari
sinar-sinar yang dihamburkan oleh atom pada
bidang yang berbeda. Sebagai contoh, sinar 1 dan
2 yang dihamburkan oleh atom K dan L, maka
beda jalur yang ditempuh untuk sinar 1K1΄ dan
2L2΄ adalah:
•Karena dalam arah ini tidak ada beda jalur
yang ditempuh oleh S dan L atau P dan K,
maka nilai ini juga merupakan beda jalur
yang ditempuh untuk penghamburan sinar
yang tumpang tindih oleh S dan P seperti
yang dapat dilihat dalam gambar 3.2. Sinar
1΄ dan 2΄ yang dihamburkan akan berada
dalam satu fasa jika beda fasa yang
ditempuh nilainya sama dengan bilangan
bulat dari panjang gelombang atau jika
Difraksi dan refleksi secara mendasar berbeda
paling tidak dalam tiga aspek yaitu:
1. Berkas yang didifraksikan oleh Kristal dibangun oleh
penghamburan sinar-X oleh semua atom yang terdapat
dalam Kristal, yang terletak di jalur berkas datang.
Sedangkan refleksi cahaya tampak hanya muncul pada
permukaan lapisan tipis.
2. Difraksi dari sinar-X monokomatik hanya muncul pada
sudut tertentu yang memenuhi hukum Bragg.
Sedangkan refleksi cahaya tampak muncul pada setiap
sudut tumbukan.
3. Refleksi cahaya tampak oleh kaca yang baik memiliki
efisiensi yang besarnya hampir 100%. Sedangkan
intensitas dari berkas sinar-X yang didifraksikan
sangatlah kecil dibandingkan dengan berkas datang.
HUKUM BRAGG

Untuk dapat memahami hukum Bragg, kita harus

mengingat dua fakta geometris yaitu :
a. Berkas datang, garis normal terhadap bidang
refleksi, dan berkas difraksi selalu coplanar
b. Sudut diantara berkas difraksi dan berkas
transmisi selalu bernilai 2θ. Sudut ini dikenal
dengan nama sudut difraksi yang nilainya lebih
dari θ, sudut ini biasanya terukur secara
eksperimen.
• Umumnya difraksi muncul hanya ketika panjang
gelombang dari gelombang bergerak memiliki orde yang
sama dengan jarak pengulangan diantara pusat
penghamburan. Persyaratan ini mengikuti hukum Bragg.
Karena nilai sin θ tidak dapat melebihi satu, dapat kita
tuliskan

• Oleh karena itu, nilai dari nλ harus lebih kecil dari 2d’.
Untuk difraksi, nilai terkecil dari n adalah 1(nilai n = 0
terkait dengan berkas difraksi yang memiliki arah yang
sama dengan berkas transmisi, dan hal ini tidak dapat
diamati). Oleh karena itu, kondisi yang dibutuhkan untuk
difraksi pada sudut 2θ yang teramati adalah
SPEKTROSKOPI SINAR-X

• Secara eksperimen, hukum Bragg dapat diaplikasin

dengan menggunakan dua cara, yaitu dengan
menggunakan sinar-X yang sudah diketahui panjang
gelombangnya λ kemudian mengukur θ, kita dapat
menentukan jarak d dari berbagai variasi bidang yang
terdapat dalam Kristal yang disebut sebagai analisis
struktur.
• Cara lain yang dapat kita gunakan adalah menggunakan
Kristal yang sudah diketahui jarak d kemudian mengukur
θ untuk menentukan panjang gelombang λ dari radiasi
yang digunakan, inilah yang disebut sebagai spektroskopi
sinar-X.
• Fitur-fitur dasar yang terdapat dalam sebuah spectrometer sinar-X ini
dapat dilihat dalam gambar 3-4. Sinar-X dari tabung T ditembakkan ke
sebuah Kristal tunggal C yang dapat diatur sudutnya sesuai dengan
keinginan terhadap berkas datang melalui rotasi disekitar sumbu O
yang merupakan pusat dari lingkaran spectrometer. D merupakan
penghitung (counter) yang mengukur besarnya intensitas dari sinar-X
yang didifraksikan, penghitung ini dapat juga berotasi disekitar O dan
dapat diatur sesuai dengan posisi anguler yang diinginkan.
METODE DIFRAKSI
• Peristiwa difraksi dapat muncul jika hukum Bragg
terpenuhi. Persamaan ini sangat bergantung terhadap
panjang gelombang λ dan θ untuk berbagai jenis Kristal
yang digunakan. Dengan menggunakan radiasi
monokromatik, pengaturan posisi Kristal tunggal yang tak
tentu terhadap berkas datang, umumnya tidak
menghasilkan berkas difraksi apapun. Beberapa cara
harus dipikirkan agar dapat memenuhi hukum Bragg, dan
hal ini dapat dilakukan dengan memvariasikan λ atau θ
secara kontinyu selama eksperimen berlangsung.
• Cara-cara bagaimana kuantitas ini divariasikan dipisahkan
menjadi empat metode difraksi yang utama, yaitu:
Metode Laue, Metode Rotasi Kristal, Metode Serbuk,
Metode Difraktometer
1. METODE LAUE

• Metode Laue merupakan metode diraksi yang pertama kali

digunakan. Dalam metode ini, sebuah berkas radiasi putih
dengan radiasi kontinu yang dihasilkan dari tabung sinar-X
ditembakkan pada sebuah Kristal tunggal yang arahnya
sudah ditentukan, dari peristiwa ini muncul sudut Bragg (θ)
untuk masing-masing bidang yang terdapat dalam Kristal
tunggal.
• Terdapat dua variasi dalam metode Laue, yaitu metode
transmisi Laue (transmission Laue Method) dan metode
refleksi belakang Laue ( Back-reflection Laue Method).
Metode ini diklasifikasikan berdasarkan posisi relative
antara sumber sinar-X, target (Kristal tunggal), dan lapisan
fotografi, dalam kedua metode ini lapisan fotografi yang
digunakan bentuknya datar dan diletakkan tegak lurus
terhadap sinar datang.
Transmission Laue Method

• Dalam metode ini, lapisan fotografi diletakkan dibelakang Kristal

sehingga berkas difraksi direkam dari arah depan, metode ini disebut
metode transmisi karena berkas yang didifraksikan melewati Kristal
yang dapat dilihat dalam gambar berikut.
 Back-reflection Laue Method

• Dalam metode ini, lapisan fotografi diletakkan antara Kristal dan

sumber sinar-X, sinar-X yang dihasilkan dari sumber datang melalui
sebuah lubang yang terdapat dalam lapisan fotografi, sinar-X yang
didifraksikan oleh Kristal direkam dari arah belakang seperti yang
dapat dilihat dalam gambar berikut.
lokasi bintik Laue. (a) pada elips dalam metode
transmisi dan (b) pada hiperbola dalam metode
back-reflection. (C= Kristal, Z.A = daerah aksis)
METODE ROTASI KRISTAL

• Dalam metode rotasi Kristal, sebuah Kristal

tunggal diletakkan di salah satu sumbu, atau
beberapa arah kristalografi yang penting, yang
tegak lurus terhadap berkas sinarX
monokromatik. Sebuah film silinder diletakkan
mengelilingi sampel dan Kristal dirotasikan
disekitar arah yang dipilih, sumbu dari film
bertepatan dengan sumbu rotasi Kristal.
pola rotasi Kristal dari Kristal Quartz (Heksagonal)
yang dirotasikan sekitar sumbu c. radiasi tembaga
yang di filter. (garis-garis yang disebabkan radiasi
putih tidak dihilangkan oleh filter)
3. METODE SERBUK
• Dalam metode serbuk, Kristal yang akan diuji direduksi
ukurannya hingga menjadi serbuk yang sangat halus dan
diletakkan pada sebuah berkas sinar-X monokromatik.
Masing-masing partikel dari serbuk ini merupakan
sebuah Kristal yang sangat kecil sekali, atau merupakan
kumpulan dari Kristal kecil yang diorientasikan secara
acak terhadap berkas datang.
• Beberapa Kristal yang terorientasi dengan tepat,
contohnya Kristal yang memiliki arah bidang (100) dapat
merefleksikan sinar datang. Kristal yang lain akan secara
tepat terorientasi pada bidang (110), dan selanjutnya.
Hasilnya adalah setiap kisi bidang yang disusun dapat
direfleksikan.
metode serbuk Debye Scherrer; penampakan film
secara mendatar
4. METODE DIFRAKTOMETER

Spektrometer sinar-X dapat juga digunakan sebagai

peralatan untuk melakukan analisis difraksi. Peralatan ini
dikenal dengan nama difraktometer yang memiliki fungsi
sebagai berikut:
1. Menentukan jarak bidang Kristal dengan menggunakan
sinar-X yang panjang gelombangnya sudah diketahui
2. Peralatan ini juga dapat berfungsi sebagai spektrometer
jika peralatan ini digunakan untuk menentukan panjang
gelombang yang belum diketahui dengan
menggunakan sebuah Kristal yang sudah diketahui
jarak bidangnya.
Pola serbuk Debye Scherrer (a) tembaga (FCC), (b)
Tungsten (BCC), (c) Zinc (HCP). Menggunakan radiasi
tembaga yang difilter dan diameter kamera = 5.73
cm
DIFRAKSI DIBAWAH KONDISI TIDAK IDEAL

• Anggap bahwa Kristal berada dalam kondisi ideal dimana Kristal

tunggal yang digunakan sangat sempurna dan sinar-X yang digunkan
mempunyai radiasi monokromatik yang sangat sempurna dan sejajar.
Dalam kondisi nyata, keadaan ini tidak pernah muncul sehingga kita
harus menentukan pengaruh difraksi dari berbagai jenis
penyimpangan dari kondisi ideal.
• Agar terjadi peristiwa penguatan intensitas, maka beda jalur yang
ditempuh oleh gelombang haruslah merupakan bilangan bulat dari
panjang gelombang atau dikatakan sefase.
• Pada gambar beda jalur yang ditempuh oleh kedua gelombang
bernilai seperempat dari panjang gelombang, hal ini tidak
mengakibatkan panjang gelombangnya saling menghilangkan satu
sama lain, hanya saja amplitude menjadi lebih kecil dari sebelumnya
sebagai akibat dari penggabungan dua gelombang ini.
efek dari ukuran Kristal dalam difraksi
PERALATAN DIFRAKSI SINAR-X

• Difraktometer sinar-x merupakan suatu alat yang

digunakan untuk mendeteksi unsur atau senyawa
yang terkandung dalam suatu padatan. Alat ini
bekerja berdasarkan difraksi sinar-x oleh unsur
atau senyawa dalam suatu padatan. Setiap unsur
mempunyai intensitas pemantulan sinar-x yang
berbeda jika disinari pada sudut tertentu. Alat ini
memiliki kelemahan yaitu tidak dapat
mengkarakterisasi bahan yang strukturnya
bersifat amorf.
Contoh Alat Difraksi
"Kalau mau menunggu sampai siap, kita akan
menghabiskan sisa hidup kita hanya untuk
menunggu."

"Kalau mau menunggu sampai siap, kita akan

menghabiskan sisa hidup kita hanya untuk
menunggu."