“Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer (ICP-MS)”

MAKALAH
Disusun Untuk Memenuhi Tugas Mata Kuliah
KIMIA ANALITIK

Oleh :
1. MUH. EDIHAR (G2L1 15 011)

2. MUHAMMAD ASWAN (G2L1 15 009)

PROGRAM STUDI PASCASARJANA KIMIA

UNIVERSITAS HALU OLEO
KENDARI
2015
 BAB I. PENDAHULUAN

A. Latar Belakang

ICP-MS secara sederhana dapat dipandang sebagai gabungan plasma

induksi (Inductively Coupled Plasma) dengan spektrometer massa. ICP sebagai

sumber pengion telah sukses digunakan selama puluhan tahun pada spektroskopi

optik Emisi (Atomic Emission Spectrometry). Penggabungan ICP dengan

spektroskopi optik Massa (Mass Spectrometry) merupakan terobosan baru dalam

dunia teknik analisis multi unsur dan isotop. Alat ini mempunyai beberapa

keunggulan dibandingkan dengan pendahulunya (AAS dan ICP-AES) yaitu

mempunyai latar lebih sederhana, batas deteksi lebih rendah dan dapat memberi

informasi kelimpahan isotope.

Inductively Coupled Plasma (ICP) adalah sebuah teknik analisis yang

digunakan untuk deteksi dari trace metals dalam sampel lingkungan pada

umumnya. Prinsip utama ICP dalam penentuan elemen adalah pengatomisasian

elemen sehingga memancarkan cahaya panjang gelombang tertentu yang

kemudian dapat diukur. Teknologi dengan metode ICP yang digunakan pertama

kali pada awal tahun 1960 dengan tujuan meningkatkan pekembangan teknik

analisis.

Sejak itu, ICP telah disempurnakan dan digunakan bersama-sama dengan

prosedur preparasi sampel untuk beragam matriks untuk analisis kuantitatif.

Berikut adalah penjelasan komponen, fungsi, cara kerja hingga menghasilkan data

dari instrumentasi ICP dan aplikasinya dalam analisis sampel lingkungan.

B. Masalah

Adapun masalah dari makalah ini adalah sebagai berikut:

1. Apakah yang dimaksud dengan Inductively Coupled Plasma-Mass

Spectrometer?

2. Apakah component dari instrument Inductively Coupled Plasma-Mass

Spectrometer.

3. Bagaimana prinsip kerja dari instrument Inductively Coupled Plasma-Mass

Spectrometer

C. Tujuan

Adapun tujuan dari makalah ini adalah sebagai berikut:

1. Unutuk mengetahui tentang Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer.

2. Untuk mengetahui component dari instrument Inductively Coupled Plasma-

Mass Spectrometer.

3. Untuk mengetahui prinsip kerja dari instrument Inductively Coupled Plasma-

Mass Spectrometer.

D. Manfaat

Adapun manfaat dari makalah ini adalah sebagai berikut:

1. Unutuk mengetahui tentang Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer.

2. Untuk mengetahui component dari instrument Inductively Coupled Plasma-

Mass Spectrometer.

3. Untuk mengetahui prinsip kerja dari instrument Inductively Coupled Plasma-

Mass Spectrometer.
 BAB II. PEMBAHASAN

A. Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer

Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer adalah seperangkat alat

untuk menentukan unsur dan isotop secara simultan yang terkandung dalam

berbagai jenis cuplikan. Alat ini adalah gabungan plasma (ICP = Inductively

Coupled Plasma) sebagai sumber ionisasi dengan spektrometer massa (MS =

Mass Spectrometer) sebagai pemilah dan pencacah ion. Metode analisis ini

dikenal dan lazim disebut metode ICP-MS.

Gambar 1. The Agilent Technologies 7700x ICP-MS

Semula ICP banyak digunakan sebagai sumber eksitasi untuk spektrometri

emisi, sebagaian besar unsur dapat diionisasi dengan efisien dalam ICP. Dengan

alasan inilah ICP digunakan sebagai sumber ion dalam ICP-MS. Bila
 dibandingkan terhadap Inductively Coupled Plasma-Emission Spectrometry (ICP-

ES), spektra massa lebih sederhana dari pada spektra emisi optik. Kebanyakan

unsur berat memperlihatkan ratusan garis emisi, tetapi unsur berat tersebut hanya

mempunyai 1 – 10 spektrum massa yang berasal dari isotop alam. Parameter

sistem ICP-MS adalah: argon ICP (argon plasma, auxiliary dan nebulizer);

spektrometer massa (sampler dan skimmer); kevakuman (interface region dan

mass spectrometer chamber); lens voltages (photon stop, bassel box barrel, einzel

lenses, dan a.c. rods) (Rukihati dan Saryati, 2006).

B. Prinsip Kerja ICP-MS

ICP-MS menggabungkan ICP suhu tinggi (induktif Ditambah Plasma)

sumber dengan spektrometer massa. ICP sumber mengubah atom dari unsur-unsur

dalam sampel untuk ion. Ion ini kemudian dipisahkan dan dideteksi oleh

spektrometer massa. Sebuah gambaran singkat tentang bagaimana ICP-MS

analisis sampel diberikan di bawah ini:

Gambar 2: Rangkaian ICP-MS

(Anonim, 2010).

Skematik sederhana peralatan ICP-MS diperlihatkan pada Gambar 2.

Seperti terlihat pada Gambar 1, ICP-MS mempunyai beberapa komponen utama

di antaranya adalah ICP, interface, lensa, mass analyzer dan detektor. ICP

berfungsi sebagai sumber pengion. Larutan sampel dengan bantuan pengemban

gas argon disemprotkan oleh nebulizer ke dalam plasma. Oleh nebulizer larutan

sampel berubah berupa butiranbutiran halus (aerosol). Proses yang terjadi dalam

ICP adalah penguapan, penguraian, eksitasi dan ionisasi. Proses perjalanan larutan

dari wadah sam pel sampai masuk ke dalam plasma Energi yang diperlukan untuk

mengubah sam pel menjadi bentuk yang terionisasi adalah relatif besar. Biasanya

temperature ionisasi berkisar 7500 -8000oK. Ekstraksi ion dari ICP melalui ion

interface. Karena adanya perbedaan tekanan (pada satu sisi tekanan atmosfir dan

sisi lain tekanan rendah) maka gas mengalir membawa ion-ion. Ion-ion masuk ke

kuadrupol massa, melalui beberapa tahap yang berbeda tekanannya. Pertama dari

plasma tekanan atmosfir masuk ke daerah tekanan 2 mbar. Daerah ini adalah

antara sample dan skimmer. Tekanan 2 mbar dapat dijaga oleh pompa mekanik.

Ke dua, dari tekanan 2 mbar masuk ke kuadrupol massa, tekanannya 10-4 mbar.

Tekanan tersebut dilakukan oleh pompa kriogenika. Sistem lensa ion, fungsinya

untuk menyeleksi ion-ion yang menuju ke detektor. Selanjutnya ion-ion

dipisahkan oleh mass analyzer berdasarkan massa-massanya. Ada beberapa tipe

mass analyzer namun yang umum digunakan adalah magnetic analyzer dan

quadrupole analyzer (Syarbaini, 2015).

C. Proses Pendispersian Cahaya Pada ICP

Berikut Gambar skema proses ICP:

Gambar 3: Rangkaian ICP

Sampel yang telah mengalami preparasi diantarkan pada plasma melewati

nebulizer dan spray chamber. Nebulizer berfungsi untuk mengubah cairan sampel

menjadi aerosol. Sedangkan spray chamber berfungsi untuk mentransportasikan

aerosol ke plasma, pada spray chamber ini aerosol mengalami desolvasi atau

volatisasi yaitu proses penghilangan pelarut sehingga didapatkan aerosol kering

yang bentuknya telah seragam. Proses terbentuknya aerosol dapat dilihat pada

ganbar 4.
Gambar 4. Nebulizer pembentukan aerosol

RF generator adalah alat yang menyediakan tegangan (700-1500 Watt)

untuk menyalakan plasma dengan Argon sebagai sumber gas-nya. Tegangan ini

ditransferkan ke plasma melalui load coil, yang mengelilingi puncak dari Torch.

Saat sampel gas masuk ke dalam plasma terjadi eksitasi atom, Atom yang

tereksitasi kembali ke keadaan dasar dengan memancarakan energi pada panjang

gelombang tertentu. Panjang gelombang setiap unsur memiliki sifat yang khas.

Intensitas energi yang dipancarkan pada panjang gelombang sebanding dengan

jumlah (konsentrasi) dari unsur dalam sampel yang dianalisis. Selanjutnya

panjang gelombang tersebut masuk ke dalam monokromator, dan diteruskan ke

detektor. Lalu diubah menjadi sinyal listrik oleh detektor dan masuk ke dalam

integrator untuk diubah ke dalam sistem pembacaan data.

Sebuah ICP mensyaratkan bahwa unsur-unsur yang harus dianalisis adalah

larutan. Larutan dalam bentuk pelarut air lebih disukai daripada pelarut organik,

Untuk larutan organik memerlukan perlakuan khusus sebelum injeksi ke dalam

 ICP. Sampel padat juga tidak diperbolehkan, karena dapat terjadi penyumbatan

pada instrumentasi.Nebulizer yang mengubah larutan menjadi aerosol.Cahaya

yang dipancarkan oleh unsur atom-atom dalam ICP harus dikonversi ke sinyal

listrik yang dapat diukur secara kuantitatif. Hal ini dilakukan dengan memecahkan

cahaya menjadi komponen radiasi (hampir selalu melalui suatu kisi difraksi) dan

kemudian mengukur intensitas cahaya dengan tabung photomultiplier pada

panjang gelombang yang spesifik untuk setiap baris elemen. Cahaya yang

dipancarkan oleh atom atau ion dalam ICP diubah menjadi sinyal-sinyal listrik

oleh photomultiplier dalam spektrometer. Setiap elemen akan memiliki panjang

gelombang tertentu dalam spektrum yang dapat digunakan untuk analisis.

D. Interface

Peran Interface, yang ditunjukkan pada Gambar 5, adalah untuk

mengangkut ion efisien, konsisten dan dengan integritas listrik dari plasma, yang

dilakuakan pada tekanan atmosfir (760 Torr) ke spektrometer massa analyzer

 .

Gambar 5. Interface dari ICP-MS (Anonim, 2016)

Setelah ion diproduksi dalam plasma kemudian diarahkan ke spectrometer

massa melalui daerah interface (antar muka), yang dipertahankan pada vakum 1-2

torr dengan sebuah pompa mekanik. Daerah antar muka ini terdiri dari dua

kerucut logam (biasanya nikel) yang disebut sampler cone dan skimmer cone,

masing-masing dengan lubang kecil (0,6-1,2 mm) untuk memungkinkan ion dapat

melewati ke optik ion, dimana mereka dipandu ke dalam perangkat pemisahan

massa. Daerah antarmuka merupakan salah satu daerah yang paling penting dari

sebuah spektrometer massa ICP, karena ion harus diangkut secara efektif,

konsisten, dan dengan integritas listrik dari plasma, yang mana pada tekanan

atmosfer (760 torr) ke daerah penganalisa spectrometer massa pada sekitar

10-6 torr.
 Sampler cone

skimmer cone

Gambar 6: Regional Interface

Efeknya pada energi kinetik ion yaitu penyebaran energi dari ion

memasuki spektrometer massa harus serendah mungkin untuk memastikan ion-ion

dapat difokuskan secara efisien dan dengan penuh integritas listrik oleh optik ion

dan perangkat pemisahan massa. Ketika ion muncul dari argon plasma, mereka

semua akan memiliki energi kinetik yang berbeda, berdasarkan rasio ion-ion

massa-muatan. Kecepatan ion-ion harus sama, karena ion-ion akan dikendalikan

oleh ekspansi yang cepat dari sebagian besar plasma, yang akan bersifat netral

dipertahankan pada potensial nol. Sebagain sinar ion melewati kerucut melalui

sampler ke dalam skimmer cone, ekspansi akan berlangsung, tetapi komposisi dan

integritas akan dipertahankan, dengan asumsi plasma adalah netral. Hal ini dapat

dilihat pada Gambar 7.

Gambar 7. Komposisi sinar ion dipertahankan saat melewati Interface, dengan
asumsi plasma netral.

Electrodynamic forces ion-ion tidak memiliki peran sebagai ion masuk

sampler atau skimmer, karena jarak di mana ion memberikan pengaruh satu sama

lain (dikenal sebagai panjang Debye) sangat kecil (biasanya 100-3-10-4 mm)

dibandingkan dengan diameter lubang (0,5-1,0 mm), seperti yang ditunjukkan

pada Gambar 8.

Oleh karena itu jelas bahwa mempertahankan neutral plasma adalah sangat

penting untuk menjamin integritas listrik dari sinar ion saat lewat melalui wilayah

interface. Jika ada dua buah ion yang dihadirkan,pada perubahan karakteristik

listrik dari plasma yang akan mempengaruhi energi kinetik ion-ion tersebut.
 Gambar 8. Electrodynamic forces tidak mempengaruhi komposisi sinar
ionmemasuki sampler atau skimmer cone

E. Sistem Fokus Ion Lensa Optik

Berikut adalah gambar 9. Proses ion-ion dari aerosol plasma yang

difokuskan oleh ion lensa optic menuju quardpole. Setelah ion berhasil diekstraksi

dari daerah antarmuka, ion-ion tersebut diarahkan ke dalam ruang vakum utama

dengan serangkaian lensa elektrostatik yang disebut optik ion. Kekosongan yang

beroperasi di wilayah ini dipertahankan pada sekitar 10-3 torr dengan pompa

turbomolecular. Ion optik secara elektrostatis memfokuskan sinar ion ke arah

perangkat pemisahan massa atau terkadang disebut penganalisis massa, sementara

menghentikan foton, partikulat, dan spesies netral mencapai detektor.

Sinar ion yang mengandung semua ion analitik dan matriks keluar optik

ion kemudian masuk ke dalam spektrometer massa yaitu pada perangkat

pemisahan massa yang dijaga pada pengoperasian vakum sekitar 10-6 torr dengan
pompa turbomolecular kedua. Perangkat pemisah massa berfungsi memisahkan

ion-ion berdasarkan massanya terhadap rasio muatan (m/z) tertentu ke detektor.

Gambar 9. Sistem Fokus Ion Lensa Optik (Philips, 2009)

Optik ion, yang ditunjukkan pada Gambar 9, diposisikan antara skimmer

cone dan perangkat pemisahan massa dan terdiri dari satu atau lebih komponen

lensa elektrostatis yang dikendalikan dan memiliki tekanan vakum sekitar 10-3

Torr dengan pompa turbomolecular. Fungsi dari sistem ion optik adalah untuk

mengambil ion dari plasma pada tekanan atmosfer melalui kerucut inteface dan

mengarahkan ion-ion ke analyzer massa, yang berada di dalam vakum bertekanan

tinggi. Nonionik yang spesies seperti partikulat, spesies netral, dan foton dicegah

dari mencapai detektor baik dengan menggunakan beberapa jenis penghalang fisik

dan dengan posisi analyzer massa off axis relatif terhadap sinar ion atau dengan

menekuk ion dengan mencermikan ke sudut 900 yang disebabkan adanya energy

elektrostatis sehingga ion-ion menuju analyzer massa. Ion yang berbeda-beda

akan dibelokkan secara berbeda pula oleh medan magnet. Besarnya pembelokan
yang dialami oleh sebuah ion tergantung pada: Massa ion tersebut. Ion-ion yang

bermassa ringan akan dibelokkan lebih daripada ion-ion yang bermassa berat.

Muatan ion. Ion yang mempunyai muatan +2 (atau lebih) akan dibelokkan lebih

daripada ion-ion yang bermuatan +1. Dua faktor diatas digabungkan ke

dalam Perbandingan Massa/Muatan. Perbandingan ini mempunyai simbol m/z

(atau m/e). Partikel-partikel yang tidak bermuatan (netral) tidak dibelokkan.

Gambar 10. Ion sistem fokus yang menggunakan cermin ion berongga untuk
membelokkan ion beam 90o ke analyzer massa, sementara
memungkinkan foton, netral, dan padat partikel untuk melewati.

Untuk memahami sepenuhnya peran dari optik ion di ICP-MS, penting

untuk mendapatkan gambaran dinamika aliran ion dari plasma melalui wilayah

interface ke dalam spektrometer massa. Ketika ion yang dihasilkan oleh plasma

muncul dari skimmer cone, ada ekspansi yang cepat dari ion sebagain tekanan

berkurang dari 760 Torr (tekanan atmosfer) ke sekitar 10- 3

sampai 10- 4
Torr
dalam lensa dengan turbomolecular sebuah pompa. Panjang (jarak di mana ion

memberikan pengaruh satu sama lain) adalah kecil dibandingkan dengan diameter

lubang dari sampler atau skimmer cone. Karena itu, ada interaksi listrik kecil

antara sinar ion dan kerucut, dan relatif sedikit interaksi antara ion individu.

Dengan cara ini, integritas komposisi dari sinar ion dipertahankan sepanjang

wilayah antarmuka. Dengan penurunan cepat dalam tekanan di dalam ruang lensa,

elektron berdifusi keluar dari sinar ion. Karena ukuran electron relative lebih kecil

terhadap ion yang bermuatan positif, elektron berdifusi jauh dari ion bermuatan

positif.

Gambar 11. Extreme pressure-drop dalam ruang ion optik menghasilkan difusi
elektron, menghasilkan beam ion bermuatan positif.`

Berikut adalah gambar 12, dimana ion-ion dari lensa optic akan dibelokan

menuju filter Quadropole (Thomas R., 2008).

 Filter

Quadropole

Gambar 12. Aliran ion-ion menuju Quadropole

F. Filter Quadropole

Terdapat beberapa jenis perangkat pemisahan massa yang cocok

digunakan yaitu teknologi filter quadrupole, sektor magnetik, dan time of

flight. Sebagian besar ICP-MS menggunakan filter quadropole. Quadrupole

terdiri dari empat buah batang logam silinder dengan panjang dan diameter sama.

Quadrupole yang digunakan dalam ICP-MS yaitu dengan tipe panjang 15-25 cm,

diameter 1 cm, dan beroperasi pada frekuensi 2-3MHz. Prinsip kerja filter

qudropole adalah sebagai filter massa dan hanya meneruskan ion-ion dengan rasio

massa/muatan (m/z) tertentu melewati celah massa sempit. Dengan mengubah

tegangan yang digunakan terhadap batang quadrupole, posisi celah dapat

dideteksi. Analisis massa dapat dilakukan dengan scanning, memilih daerah massa
tertentu sesuai dengan yang diukur maupun dengan mengamati intensitas sinyal

analit.

Gambar 13. Skema prinsip kerja pemisahan massa menggunakan

filter quadrupole

Analyzer ini terdiri dari empat batang silinder ke yang diterapkan baik RF

dan medan listrik DC. Empat batang diatur sedemikian rupa sehingga mereka

membentuk dua pasang, satu pasang di pesawat X dan satu di Y.

Ion masuk dalam quadrupole akan mulai terombang-ambing di kedua

sudut X dan Y. Dalam sistem tersebut, ion m / e yang lebih rendah menjadi tidak

stabil di quadrupole setiap kali komponen dibelokkan dari medan listrik melebihi
langsung komponen. Dalam hal ini, ion m / e yang lebih rendah akan cepat

dibuang dari quadrupole dan tidak akan mencapai detektor. Mode operasi

membuat filter massa efektif rendah.

Tinggi m/ion e menjadi tidak stabil sementara ion m lebih rendah / e

distabilkan oleh adanya komponen alternative. Hal ini membuat filter massa

efektif tinggi.

Dalam quadrupole itu, analisa massa dibuat dengan menghubungkan dua

pasang batang sedemikian rupa X sebagai filter massa rendah dan Y bertindak

sebagai filter massa yang tinggi. Dengan hati-hati mencocokkan dua bidang,

hanya ion massa tertentu mampu beresonansi pada frekuensi yang tepat dan

melewati quadrupole pada setiap titik waktu. Analyzer massa quadrupole adalah

sistem yang sangat cepat dan efisien (Murr,2008)

Proses akhir adalah mengubah ion menjadi sinyal listrik dengan detektor

ion. Desain yang paling umum digunakan saat ini disebut detektor dynode diskrit,

yangberisi serangkaian dynodes logam sepanjang detektor. Dalam desain

ini, ketika ion muncul dari filter massa, mereka menimpa pada

dynode pertama dan diubah menjadi elektron. Karena elektron tertarik ke dynode

berikutnya, penggandaan elektron berlangsung, yang mana menghasilkan aliran

yang sangat tinggi dari elektron yangmuncul dari dynode akhir. Sinyal elektronik

ini kemudian diproses oleh sistempenanganan data dengan cara konvensional dan

diubah menjadi konsentrasi analit menggunakan standar kalibrasi ICP-MS.

Kebanyakan sistem deteksi dapat menangani sampai delapan

perintah rentang dinamis, yang berarti dapat digunakan untuk menganalisis

sampel dari tingkat ppt sampai beberapa ratus ppm.

Setiap elemen memiliki karakteristik isotop dan massa sehingga akan

menghasilkan massa spektrum setelah melewati quadrupole yang

ion mencapai detektor khusus. Quadrupole berisi dua tahap untuk memungkinkan

simultan pengukuran sinyal tinggi dan rendah. Sehingga memungkinkan deteksi

secara simultan komponen utama dan ultra-jejak unsur, yang membuat ICP-MS

sebagai alat yang sempurna untuk menganalisis sampel yang tidak diketahui.

Spektrum ICP-MS adalah plot dari intensitas ion(y-axis)

versus rasio massa dengan muatan (x-axis). Dalam plasma argon, terutama

ion yang bermuatan tunggal diproduksi. Hal ini berarti dalam praktek bahwa rasio

massa dengan muatan dapat digantikan dengan massa dalam spektrum (dalam

amu).

Sebagian besar unsur memiliki lebih dari satu isotop dan setiap isotop

memiliki massa tertentu. Tembaga (Cu), misalnya, memiliki dua isotop: 63Cu

dengan 34 neutron dan 65Cu dengan 36 neutron dalam inti. Dengan demikian,

spektrum massa tembaga terdiri dari dua puncak, massa 63 dan massa

65. Rasio alami perbedaanisotop dari sebuah unsur konstan di alam. Oleh karena

itu tidak sulit untuk mengoreksi tumpang tindih isotop dari elemen yang berbeda.

Selain itu, sebuahnoninterfered isotop hadir untuk hampir semua elemen.

Gambar 14. Spektrum massa menunjukkan isotop tembaga dengan
menggunakan ICP-MS
 Gambar 15. Unsur yang dapat ditentukan oleh ICP-MS dan perkiraan kemampuan
deteksinya (PerkinElmer)

G. Proses Yang Terjadi pada Alat Spectrometer Massa

Atom dapat dibelokkan dalam sebuah medan magnet (dengan anggapan

atom tersebut diubah menjadi ion terlebih dahulu). Karena partikel-partikel

bermuatan listrik dibelokkan dalam medan magnet dan partikel-partikel yang

tidak bermuatan (netral) tidak dibelokkan.

Gambar 16. Rangkaian Spektofotometer Massa (MS)

Urutannya adalah sebagai berikut:

1. Ionisasi

Atom di-ionisasi dengan mengambil satu atau lebih elektron dari atom

tersebut supaya terbentuk ion positif. Ini juga berlaku untuk unsur-unsur yang

biasanya membentuk ion-ion negatif (sebagai contoh, klor) atau unsur-unsur yang
 tidak pernah membentuk ion (sebagai contoh, argon). spektrometer massa ini

selalu bekerja hanya dengan ion positif.

2. Percepatan

Ion-ion tersebut dipercepat supaya semuanya mempunyai energi kinetik

yang sama. Ion-ion positif yang ditolak dari ruang ionisasi yang sangat positif itu

akan melewati 3 celah, dimana celah terakhir itu bermuatan 0 V. Celah yang

berada di tengah mempunyai voltase menengah. Semua ion-ion tersebut

dipercepat sampai menjadi sinar yang sangat terfokus.

3. Pembelokan

Ion-ion tersebut dibelokkan dengan menggunakan medan magnet,

pembelokan yang terjadi tergantung pada massa ion tersebut. Semakin ringan

massanya, akan semakin dibelokan. Besarnya pembelokannya juga tergantung

pada besar muatan positif ion tersebut. Dengan kata lain, semakin banyak elektron

yang diambil, semakin besar muatan ion tersebut, pembelokan yang terjadi akan

semakin besar. Dua faktor diatas digabungkan ke dalam Perbandingan

Massa/Muatan. Perbandingan ini mempunyai simbol m/z (atau m/e)

4. Pendeteksian

Sinar-sinar ion yang melintas dalam mesin tersebut dideteksi dengan

secara efektif, Pada gambar 17 dibawah, hanya sinar satu jenis ion isotope yang

bisa terus melaju sampai ke pendetektor ion. Ion-ion lainnya bertubrukan dengan

dinding dimana ion-ion akan menerima elektron dan dinetralisasi. Pada akhirnya,

ion-ion yang telah menjadi netral tersebut akan dipisahkan dari spektrometer

massa oleh pompa vakum.

Gambar 17. Tubrukan ion pada kotak logam

Ketika sebuah ion menubruk kotak logam, maka ion tersebut akan

dinetralisasi oleh elektron yang pindah dari logam ke ion. Hal ini akan

menimbulkan ruang antara elektron-elektron yang ada dalam logam tersebut, dan

elektron-elektron yang berada dalam kabel akan mengisi ruang tersebut.

Aliran elektron di dalam kabel itu dideteksi sebagai arus listrik yang bisa

diperkuat dan dicatat. Semakin banyak ion yang datang, semakin besat arus listrik

yang timbul.

Bentuk output dari spektrometer massa adalah hasil dari pencatat diagram

disederhanakan menjadi diagram garis. Ini menunjukkan arus listrik yang timbul

oleh beragam ion yang mempunyai perbandingan m/z masing-masing.

 Gambar 18. Bentuk Output Data Spektroskopi Massa (MS)

Garis tegak lurus itu menunjukkan besarnya arus listrik yang diterima oleh

alat pencatat arus yang berarti banyaknya ion datang ke detector (Anonim, 2011).

H. Kelebihan dan kekurangan ICP-MS

Yang paling penting dari keuntungan ICP-MS termasuk kemapuan

pembacaan multi-element, sensitivitas tinggi, dan kemungkinan untuk

memperoleh informasi mengenai isotopic elemen bisa ditentukan. Kekurangan

pada ICP-MS site, isobaric adanya gangguan yang dihasilkan oleh polyatomic

yang timbul dari plasma gas dan udara yaitu isotopes dari Argon, oksigen,

nitrogen, dan hidrogen dapat menggabungkan diri atau bersama dengan unsur

lainnya untuk menghasilkan isobaric gangguan. ICP-MS tidak berguna dalam

deteksi dari nonmetals.

I. Aplikasi ICP-MS dalam Kimia Lingkungan

 Matriks sampel lingkungan, yang mungkin berisi konsentrasi rendah dan

mengandung unsur campur, sehingga pada sejarahnya ada kesulitan dalam

menentukan analit dalam sampel yang dianalisis. ICP-MS dikembangkan di tahun

1980-an dan telah digunakan dalam bidang lingkungan karena sensitivitas yang

tinggi dan kemampuan multi unsur. ICP-MS menawarkan penetapan langsung

dari beberapa elemen di tanah, seperti boraks, fosfor, dan molybdenum, pada

tingkat tidak dapat diakses oleh metode lain.

 BAB III. KESIMPULAN

Adapun kesimpulan dari makalah ini adalah sebagai berikut:

1. Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer adalah seperangkat alat untuk

menentukan unsur dan isotop secara simultan yang terkandung dalam berbagai

jenis cuplikan. Alat ini adalah gabungan plasma (ICP = Inductively Coupled

Plasma) sebagai sumber ionisasi dengan spektrometer massa (MS = Mass

Spectrometer) sebagai pemilah dan pencacah ion.

2. Komponen utama instrumen Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer

yaitu ICP, interface, lensa, mass analyzer dan detektor

3. Prinsip kerja Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer adalah untuk

menalisis senyawa anorganik. Proses yang terjadi dalam ICP adalah

penguapan, penguraian, eksitasi dan ionisasi.

 DAFTAR PUSTAKA

Rukihati dan Saryati , 2006, Analisis Cuplikan Lingkungan Dan Bahan Geologi
Dengan Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry, Indonesian
Journal of Materials Science , ISSN : 1411-1098: Vol. 8 No. 1

Syarbaini, 2015, Teknologi ICP-MS dan Aplikasinya Untuk Studi Radioaktivitas

Llngkungan, Pusat Pengembangan Pengelolaan Limbah Radioaktif,
BATAN.

Anonim, 2010, Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry (ICP-MS),

Central Facilities for Research and Development, Osman University,
http://14.139.82.43/cfrd/ICP-MS.html, Diakses pada tanggal 5 januari
2016.

Anonim, 2016, What is ICP-MS? and more importantly, what can it do?,
http://crustal.usgs.gov/laboratories/icpms/What_is_ICPMS.pdf,
Diakses pada tanggal 6 januari 2016.

Anonim, 2011, Inductively Coupled Plasma (ICP), https://titrasi.wordpress.com,

diakses pada tanggal 6 januari 2016.

Murr, 2008, ICP-MS - The Quadrupole Mass Analyzer, University of Missouri

Research Reactor Center,
http://www.murr.missouri.edu/ps_analytical_ICP_quadrupole.php,
diakses pada tanggal, 7 januari 2016.

Philips. (2013). Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry (ICP-

MS), http://www.innovationservices.philips.com/sites/default/files/mat
erials-analysis-icp-ms.pdf. Diakses pada tanggal 6 januari 2016.

Thomas R., 2008, Pratical Guide To ICP –MS, A Tutorial for Beginners Second
Edition. USA: CRC Press.