Penentuan Struktur Kristal dan Ukuran Butir Menggunakan Xray

Difreetometer (XRD)

Dia Ditha Rizkiani

Program Studi Tadris Fisika, Universitas Islam Negeri (UIN) Mataram
E-mail : diaditha01@gmail.com

Abstrak
Ukuran kristal (crystallite size) dapat dihitung dengan menggunakan persamaan
Debye Scherrer dengan nilai panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM yang
dihasilkan dari uji XRD. Persamaan Debye Schrerrer menunjukkan bahwa nilai
ukuran kristal yang dihasilkan akan berbanding terbalik dengan nilai FWHM,
sedangkan nilai FWHM dipengaruhi oleh intensitas masing-masing bidang kristal,
dimana semakin tinggi intensitas maka nilai FWHM semakin kecil. Dalam paper
ini perhitungan ukuran kristal dilakukan pada lapisan tipis PZT, hasil perhitungan
diperoleh ukuran kristal sebesar 22,22 nm.
Kata kunci : Ukuran Kristal, persamaan Debye Scherrer, XRD.

Abstract
Crystal size (crystallite size) can be calculated using the Debye Scherrer equation
with wavelength, intensity, 2θ, and FWHM values generated from the XRD test.
Debye Schrerrer's equation shows that the resulting crystal size value will be
inversely proportional to the FWHM value, while the FWHM value is influenced
by the intensity of each crystal plane, where the higher the intensity the smaller
the FWHM value. In this paper the crystal size calculation is carried out on a thin
layer of PZT, the result of the calculation is the crystal size of 22.22 nm.
Keywords: Crystal Size, Debye Scherrer equation, XRD.

Pendahuluan
Kristalisasi adalah proses perubahan struktur material dari fasa amorf
menjadi kristal. Kristalisasi merupakan proses pembentukan kristal yang terjadi
pada saat pembekuan yaitu perubahan dari fasa cair ke fasa padat. Mekanisme
kristalisasi dapat terjadi melalui dua tahap, yaitu pengintian dan pertumbuhan
kristal. Kristalisasi dapat terjadi dengan pengerjaan dingin maupun pengerjaan
panas. Sebagai akibat dari pengerjaan dingin adalah sifat kekerasan, kekuatan
tarik dan tahanan listrik akan naik, sedangkan keuletan akan menurun. Dalam
keadaan cair, atom-atom tidak memiliki susunan yang teratur dan mudah
bergerak. Dengan berkurangnya suhu, maka energi atom semakin rendah,
sehingga atom sulit bergerak, selanjutnya atom mulai mengatur kedudukannya
relatif terhadap atom lain. Hal ini terjadi pada daerah relatif dingin yang
merupakan daerah awal terjadinya inti kristal. Proses pengintian selanjutnya
terjadi pertumbuhan kristal yang berlangsung dari suhu rendah ke suhu yang lebih
tinggi. Energi termal yang terus meningkat dapat mengakibatkan pertumbuhan
kristal yang terus menerus hingga transformasi akhir, yaitu amorf menjadi kristal
(Fatimatul Munawaroh, 2012).
Bidang-bidang atom pada suatu kristal mempengaruhi sifat dan perilaku
bahan. Baik bidang, hal ini diperlihatkan pada kisi bidang yang dinyatakan dalam
indeks miller. 1) Untuk Lambang arah bidang digunakan simbol [h, k, l ]. Contoh
: [ 2, 2, 2 ] 2) Untuk lambang bidang kristal digunakan (h,k,l Contoh : ( 2, 2, 2)
Dalam sistem tiga dimensi,pasangan bidang sejajar akan membentuk kisi kristal
dan berjarak sama yang disebut bidang-bidang kisi. Bidang- bidang kisi inilah
yang akan menentukan arah permukaan dari suatu kristal. Arah suatu bidang dapat
dinyatakan dengan parameter numeriknya. (hkl) = h :k : l = ½ : ½ : 1/3. (hkl) =
(1/2 ½ 1/3 ) atau (3 3 2) (Melinda Wardani , Ratnawulan, 2014).
Dengan meningkatnya keteraturan struktur kristal tetnhedral SiOaa tau
derajat kristalisasinya, mineral silikan on- danm ikokistalin dapatd iurutkan
sebagai hrikut: opd-d opal-CT, opal-C, tridimit, knstobalit, dan kuarsa. Karena
ukurannya yang lebih halus dari 50 prq mineral-mineral ini sulit dibcdakan secan
ptrografi. Salah satu metode yang dapat nembedakannya adalahm etode
difraktometer sinar-X Q(RD = X-rayD ilfraction) yang menganalisis mineral
hrdasarkan struktu kristialnya. Silika non-kristalin, disebut opal-A,m emberikan
pola XRD yang amorf, yaitu menunjukkan sebuah hump (vndvkan) dengan
intensitas maksimum di sekirar 4 A (N.R. Herdranita, Ong ft.L. & Jurusan, 1999).
Analisis pola difraksi XRD dapat mengungkap struktur kristal suatu bahan
superkonduktor dan menghasilkan informasi rinci mengenai: jumlah fase dan
kristalinitas fase dalam sampel, ukuran (parameter kisi) dan bentuk sel satuan
kristal masing-masing fase, grup ruang (simetri penyusunan atom-atom), serta
posisi atom-atom dalam sel satuan. Analisis pola difraksi XRD dapat
menggunakan analisis Rietveld pada refinement struktur kristal dengan metode
least square (Rahardjo, 2014).
Pola difraksi sinar-x (XRD) merupakan akibat dari hamburan oleh atom-
atom yang terletak pada suatu bidang hkl dalam kristal dan pola intensitas difraksi
mengandung informasi penting mengenai struktur kristalografi suatu bahan.
Secara teoritis, pola (kurva) intensitas difraksi dipengaruhi oleh beberapa faktor
sesuai dengan Persamaan (1) :
yc1 = S∑Lk|Fk|2ɸ(2ɵi-2k)PkA + Pyi
keterangan : yci = intensitas teoritis/kalkulasi (cps), S = faktor skala, k = indeks
Miller hkl dari refleksi Bragg, Lk = faktor Lorentz, polarisasi dan multiplisitas, Fk
= faktor struktur refleksi Bragg ke-k, ɸ (2ɵi-2k) = fungsi profil refleksi, Pk =
kecenderungan orientasi (preferred orientation), A = faktor absorpsi dan suhu,y bi
= intensitas latar belakang (background) ke-i (cps)(Irzaman, Y. Sudiana, M.
Hikam, W. Loeksmanto, 2016).

Metode
Karakterisasi struktur kristal lapisan tipis PZT diobservasi dengan XRD
pada sudut 2θ = 15o - 80o, dengan sumber sinar X dari logam tembaga (Cu)
dengan panjang gelombang (λ) Kα1 sebesar 0,15406 nm. Hasil XRD diperoleh
difraktogram yang hasilnya dibandingkan dengan difraktogram PZT standar dari
JCPDS no 33-784 untuk PZT. Perhitungan ukuran kristal dihitung dengan
menggunakan persamaan (1.3) dengan nilai panjang.

Gambar 1 Difraktogram lapisan tipis PZT

Ukuran kristal dapat dihitung dengan menggunakan persamaan (1.3)

dengan nilai panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM yang telah dihasilkan
dari uji XRD. Persamaan Debye Schrerrer menunjukkan bahwa nilai ukuran
kristal yang dihasilkan akan berbanding terbalik dengan nilai FWHM, sedangkan
nilai FWHM dipengaruhi oleh intensitas masing-masing bidang kristal, dimana
semakin tinggi intensitas maka nilai FWHM semakin kecil. Berdasarkan
persamaan 1.3 dibuat grafik hubungan ln (1/cos θ) sebagai sumbu x dan ln β
sebagai sumbu y sehingga diperoleh nilai intersep yang nilainya sama dengan ln
(Kλ/D), maka nilai ukuran kristal (D) = (Kλ /e(nilai intersep)).
 Perhitungan nilai (ln 1/cos θ) dan (ln β) hasil analisis XRD lapisan tipis
PZT pada semua orientasi bidang kristal ditunjukkan pada tabel berikut:
Dari persamaan modifikasi Debye Schrerrer pada tabel 1 dibuat grafik
hubungan ln (1/cos θ) sebagai sumbu x dan ln β sebagai sumbu y sehingga
diperoleh nilai intersep yang nilainya sama dengan ln (Kλ/D) seperti ditunjukkan
pada Gambar 2, dan nilai ukuran kristal (D) didapatkan hubungan D = (Kλ /e(nilai
intersep)). Dari grafik diperoleh nilai intersep sebesar - 5,088 dan nilai K = 0,89
serta λ= 0,15406 nm. Dari hubungan nilai intersep, nilai K dan λ maka dapat
dihitung ukuran Kristal. Hubungan antara ukuran Kristal, nilai intersep, K dan λ
ditunjukkan oleh persamaan di bawah ini:
𝐾𝑥λ
Ukuran Kristal (D) = 𝑒 𝑖𝑛𝑡𝑒𝑟𝑠𝑒𝑝
0,89 𝑥 0,15406𝑐
= 𝑒 −5,088
0,137105
=
0,006170348

= 22,22 nm
Hasil perhitungan ukuran kristal lapisan tipis PZT menunjukkan ukuran kristal
sebesar 22,22 nm.

Gambar 2 Grafik hubungan ln (1/cos θ) versus ln β

Hasil dan Pembahasan

Gambar 1 menunjukkan difraktogram lapisan tipis PZT. Puncak-puncak
yang muncul semua teridentifikasi dan terdapat kesesuaian dengan data standar
dari JCPDS No. 33-784 yang mengindikasikan bahwa struktur perovskit dari PZT
dengan orientasi bidang kristal (001), (110), (111), (200), (201) & (210), (211),
(002), dan (310) yang spesifik untuk struktur kristal perovskit PZT. Munculnya
sebaran orientasi bidang kristal menunjukkan bahwa serbuk PZT yang dihasilkan
memiliki struktur polikristalin.
orientasi
2θ komposisi bidang 1/cos θ FWHM (β) rad ln 1/cos θ (x) ln β (y)
 Zr/Ti
kristal

22,17644 100 1,018421872 0,007679 -4,86928 0,018254

31,20162 110 1,037784671 0,004538 -5,39537 0,037088
38,46446 111 1,058814485 0,006981 -4,96459 0,057150
44,76889 50:50 200 1,079252188 0,011169 -4,49459 0,076268
50,42724 201,210 1,103466935 0,015358 -4,17613 0,098457
55,81587 211 1,128667079 0,006283 -5,06995 0,121037
64,94961 022 1,182987094 0,011169 -4,49459 0,168043

Kesimpulan dan Saran

Sebagai kesimpulan, paper ini telah mendemonstrasikan perhitungan
ukuran kristal dengan menggunakan persamaan Debye Scherrer untuk lapisan
tipis PZT. Nilai panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM dihasilkan dari uji
XRD. Dari persamaan modifikasi Debye Schrerrer dibuat grafik hubungan ln
(1/cos θ) sebagai sumbu x dan ln β sebagai sumbu y sehingga diperoleh nilai
intersep yang nilainya sama dengan ln (Kλ/D), dan nilai ukuran kristal (D)
didapatkan hubungan (D) = (Kλ /e(nilai intersep)). Dari hubungan nilai intersep,
nilai K dan λ maka dapat dihitung ukuran Kristal (D). Hasil perhitungan ukuran
kristal lapisan tipis PZT menghasilkan ukuran kristal sebesar 22,22 nm.
 Daftar Pustaka

Fatimatul Munawaroh, T. (2012). Analisis Fasa Kristal Terbentuk Pada Bahan

Gelas Metalik Berbasis Zirkonium Antara Suhu 440 - 480 ˚ C. Berkala
Fisika Indonesia, 4, 27–32.
Irzaman, Y. Sudiana, M. Hikam, W. Loeksmanto, M. B. (2016). Analisis Struktur
Kristal Dan Full Width Half Maximum (Fwhm) Dengan Metode Rietveld
(Studi Kasus : Kalsit (Caco3)), 2(January 2000).
Melinda Wardani , Ratnawulan, Dan G. (2014). Pengaruh Temperatur Terhadap
Struktur Dunit Jorong Tongar, Nagari Aur Kuning, Kecamatan Pasaman,
Kabupaten Pasaman Barat Sumatra Barat, 4(November), 17–24.
N.R. Herdranita, Ong Ft.L., E. A. S. Dan B. P., & Jurusan. (1999). Pengukuran
Kristalinitas Silika Berdasarkan Metode Difraktometer Sinar-X. Proc. Itb,
31.
Rahardjo, D. T. (2014). Refinement Struktur Kristal Superkonduktor Bscco–2212
Dengan Substitusi Pb. Materi Dan Pembelajaran Fisika (Jmpf, 1(36).