METODE DIFRAKSI

SINAR-X

Analisis
Kimia Non Destructive
Dasar
 Terjadinya difraksi sinar-X oleh bidang
kristal
 Radiasi elektromagnetik : sinar-X
 Jenis interaksi : difraksi
 Materi : molekuler  kristalin
Posisi sinar-X dalam spektrum cahaya
Fungsi masing-masing sinar
Sifat Sinar-X

Karakter Sinar-X Sinar-visibel

Energi (eV) 107 1

(nm) 0,5 – 2,5 350-800

Transisi Elektron inner cell Elektron valensi

Produksi sinar-X
 Di dalam tabung sinar- X- ray generation
X
 Tabung vakum
 Katoda dari kawat
Wolfram yang
dipanaskan sehingga
melepaskan elektron
(electron emitter)
 Anoda : logam target
Proses terbentuknya sinar-X

 Ke dalam tabung dialiri listrik dengan tegangan yang

sangat tinggi 20-50 kV
 Katode melepaskan elektron yang bergerak dengan
kecepatan tinggi
 Berkas elektron mengenai logam target
 Logam target mengemisikan sinar  sinar-X
Proses elektronik pembentukan sinar-X
Pembentukan spektrum sinar-X

 Logam target ditembak oleh berkas elektron dengan

energi potensial tinggi
 Pelepasan elektron dari kulit paling dalam (kulit K)
sehingga terjadi kekosongan.
 Tempat kosong diisi elektron dari kulit yang lebih luar
(kulit L dan M) sambil mengemisikan energi yang disebut
radiasi sinar-X
Spekrum sinar-X :
 Kontinyu :
 Radiasi putih
 Terbentuk karena tumbukan berkas elektron dari
katoda dengan elektron pada logam target
 Untuk kedokteran

 Karakteristik
Spektrum sinar-X

Karakteristik

Kontinyu
Proses pembentukan sinar-X yang karakteristik :
Spektrum sinar-X
 Spektrum setiap unsur karakteristik
 Berkas sinar-X selalu polikromatis
Kα1, Kα2, Kβ1, Kβ2

 Dalam penggunaannya harus

monokromatis
 Agar monokromatis harus disaring :
dengan logam Filter
Daftar logam target dan filter

Logam target λ-Kα1 (Å) Logam filter

Mo (42) 0,711 Zr (40)
Cu (29) 1,542 Ni (28)
Co (27) 1,790 Fe (26)
Fe (26) 1,937 Mn (25)
Cr(24) 2,291 V (23)
Cara kerja logam filter :
Cara kerja logam filter :
 Menyerap sebagian  Hanya radiasi  yang
radiasi  dan seluruh terdifraksi oleh
radiasi  sehingga sampel.
intensitas radiasi 
berkurang dan radiasi   Radiasi  terdiri dari
tidak muncul lagi. 1 dan 2  intensitas
1 > 2
 Radiasi 2 tidak dapat
dihilangkan oleh filter.
Akibatnya, sering
ditemukan puncak
difraksi yang tersplit
JENIS SPEKTROMETRI SINAR-X
 X-Ray Diffraction (XRD) =
Difraksi Sinar-x
 Untuk Analisis Kualitatif/
Jenis
 Untuk Sampel Padat Kristal
 X-Ray Flouresence
(XRF )= Flouresensi
Sinar-x
 Untuk analisis kuantitatif/
Jumlah
 untuk sampel cair dan
padat (Atomik)
DIFRAKSI SINAR-X
 Sinar-x terdifraksi /terpantul hanya oleh suatu zat padat
kristal
  Sinar-x  Jarak antar bidang kristal

 Sinar –X terdifraksi dengan sudut tertentu oleh bidang

kristal yang mempunyai jarak antar bidang tertentu
KRISTAL

Padatan yang terbentuk

oleh molekul sel satuan
yang tersusun secara
berulang dan teratur ke
segala arah

Setiap kristal mempunyai

bidang kristal

Jarak antar bidang/basal

spacing suatu kristal
yang sama adalah
karakteristik
Contoh kristal

kristal karbon
Kristal protein
Hubungan sudut difraksi dengan
jarak antar bidang kristal (d)

Sinar–Xterdifraksi dengan sudut tertentu oleh bidang kristal yang

mempunyai jarak antar bidang (d) tertentu.

2 d sin  = 
d = jarak antar bidang kristal
 = sudut difraksi
 = panjang gelombang

Atau
d = / 2 sin 
d berubah maka  berubah
PROSES DIFRAKSI
Hukum Bragg :
Jika 2 berkas sinar-X yang paralel mengenai bidang kristal yang sama akan
terdifraksi dengan sudut tertentu, dan selisih jarak yang ditempuh oleh ke 2
sinar tersebut sebanding dengan panjang gelombang sinar-X tersebut
 Hubungan matematika :
AP + PC = n λ
dimana AP = OP sinθ
AP = PC
OP = d
n =1
Sehingga 2 OP sinθ = λ
atau 2d sinθ = λ
Jadi d = λ / sinθ
Susunan alat XRD
 Tabung sinar-X Tempat sampel
Goniometer

Detektor
Rekorder Difraktometer
(Scaler + Counter)
Alat XRD
1 unit alat XRD

1 unit komputer
SUSUNAN ALAT

A = Pendingin
B = Tabung sinar-x
C = Tempat sampel
D = Goniometer
E = Silt/celah
F = Detektor
Jenis Sampel :

 Bentuk : serbuk, lembaran, plat

 Jenis : oksida logam. Polimer (plastik, karet,
melaim, resin, dsb), mineral, seny.organik
Perlakuan sampel :

 Sampel padatan dari alam (lempung, zeolit, dsb)

 Dibersihkan dari kerikil, ranting, daun, dsb
 Dikeringkan
 Dihaluskan : 10-250 mesh
 Dimasukkan ke dalam sample holder
 Sampel lembaran :
 Langsung dianalisis
CARA ANALISIS
1. Buat pola difraksi sampel : 2 lawan intensitas
2. Semua harga 2 dari setiap puncak dirubah menjadi harga d sesuai
hukum Bragg
3. Intensitas semua puncak dibuat relatif
4. Tiga harga d dari puncak terkuat dibandingkan dengan data standar
atau data JCPDS. Jika ada kecocokkan, harga d yang lain juga
dicocokkan, berarti jenis sampel sama dengan standar.

2,3,DAN 4 DAPAT diganti dengan langkah :

Pola difraksi sampel dibandingkan dengan pola difraksi standar
DATA DIFRAKSI = POLA DIFRAKSI

Intensitas

Sudut difraksi 2 
APLIKASI METODE XRD

1. Penentuan struktur kristal :

1. Pengideks-an bidang kristal,
2. Bentuk dan ukuran sel satuan kristal,
3. Jumlah atom per-sel satuan
2. Analisis kimia :
1. Identifikasi/Penentuan jenis kristal
2. Penentuan kemurnian hasil sintesis
3. Deteksi senyawa baru
4. Deteksi kerusakan oleh suatu perlakuan
Cara identifikasi suatu senyawa
 Dengan cara membandingkan data 2
dan intensitas relatif sampel dengan standar
 Dengan cara membandingkan pola difraksi sampel
dengan standar
Membandingkan data 2 dan intensitas
relatif sampel dengan standar

Contoh 1 : Sudut 2 d Ir
Data XRD sampel
yang mempunyai 28,857 3,018 5

komponen utama 35,35 2,477 70

unsur Cu :
Jika λ = 1,524 A 41,23 2,136 30

42,06 2,096 100

Tentukan kristal apa
yang terdapat dalam sampel 49,25 1,805 50

60,00 1,504 20

71,047 1,293 10

75,87 1,223 5

87,96 1,803 20
Pembandingan data XRD sampel dengan standar
Cu2O dan Cu

 Jadi 3 harga d sampel  Perbandingan data

dengan intensitas tertinggi d sample (Ir) d Cu2O (Ir) d Cu (Ir)
sesuai dengan Cu2O
dan 3 yang lain sesuai 2,0955 (100) 2,088
dengan Cu (100)
2,4768 (70) 2,465 (100)

1,88048 (50) 1,808 (46)

2,1358 (30) 2,135 (37)

1,5040 (20) 1,510 (27)

1,0803 (20) 1,09 (17)

Dengan cara membandingkan pola difraksi
sampel dengan standar

Pola difraksi sampel

Pola difraksi standar

Deteksi kerusakan oleh suhu
 Bahan : zeolit –Y
 Kenaikkan suhu
menyebabkan
penurunan intensitas
 penurunan
kristalinitas 
kerusakan struktur
Deteksi kerusakan kristal oleh perubahan
pH
 Bahan : zeolit-Y
 Penurunan pH
meningkatkan
kerusakan struktur
kristal zeolit
Deteksi senyawa baru dan
tingkat kemurnian
 Contoh 2 :
 Pembuatan MgAl2O4 : dengan
cara mereaksikan padatan
MgO +Al2O3
 pada suhu 600oC  hasil belum
murni
 Suhu 1400oC kemurnian hasil
tinggi
 Penjelasan :
Pengaruh suhu dan pH terhadap struktur
zeolit alam
Akibat pemakaian sebagai fotokatalis
TiO2
 Deteksi pembentukan
kristal selama proses
Pengembanan :
pengaruh suhu kalsinasi
Deteksi pembentukan
kristal selama proses
pengembanan : pengaruh
kadar TiO2 yang
diembankan pada resin
 Pembuatan grafit :
 Pola kristal, semikristal, dan amorf

c
a b

d e f
 Sintesis kristal pada
kenaikkan suhu
 Contoh soal 3 : Identifikasi mineral lempung

Standar Kaolin Standar Monmorilonit

Jika sampel lempung memberikan data difraksi sinar X (λ = 1,542 A) dengan

intensitas paling tinggi muncul pada :
sudut 2Φ : 11 20 25 38
Intensitas relatif : 100 32 85 34
Tentukan jenis mineral lempung yang ada dalam sampel
 Contoh soal 4 :

Berilah penjelasan
data difraksi tersebut
KESULITAN
 Sampel polimer yang elastis sulit dibuat
serbuk
 Jumlah sampel yang sangat sedikit