MODUL – VII

KALIBRASI ALAT UKUR MEKANIK

7.1 Tujuan : 1) Mahasiswa memahami cara kalibrasi alat ukur mekanik.

2) Mahasiswa mengetahui alat-alat yang diperlukan dalam
melakukan kalibrasi.
3) Mahasiswa mampu melakukan kalibrasi terhadap alat ukur
mekanik.
4) Mahasiswa dapat melakukan analisa terhadap hasil
kalibrasi untuk menentukan kondisi alat ukur.

7.2 Durasi Waktu : 8 Jam

7.3 Peralatan : A. Obyek Kalibrasi

1) Vernier Caliper
2) Outside Micrometer
B. Alat Ukur Kalibrasi
1) Gauge Block dan perlengkapannya
2) Optical Flatness
3) Optical Parallel
4) Hair Line
C. Alat Ukur Bantu
1) Meja Rata
2) Micrometer Stand
3) Calibration Clamp
D. Perlengkapan
1) Lap Kain (Alas Alat Ukur dan Benda Kerja)
2) Lap Kulit
3) Tissue
4) Kertas HVS 80gr
5) Silicon Oil / Vaselin
6) Alkohol 96%

7.4 Pelaksanaan :
A. Persiapan Kalibrasi :
1) Persiapkan tempat untuk proses kalibrasi.
2) Tuliskan data suhu dan kelembapan ruang pada Tabel 7.1.
3) Tuliskan data alat ukur yang akan dikalibrsai pada lembar kerja, Tabel 7.2.
Data tersebut meliputi: merk, kecermatan dan kapasitas ukur.

B. Kalibrasi Vernier Caliper :

1) Pemeriksaan kesejajaran rahang :
a) Bersihkan rahang Vernier Caliper dengan menggunakan lap kulit.
b) Rapatkan kedua rahang, kemudian arahkan ke cahaya atau lampu untuk
melihat adanya celah di antara kedua rahang.
c) Gambarkan hasil pengamatan tersebut pada Tabel 7.3.
 2) Pemeriksaan kelurusan sisi rahang :
a) Bersihkan rahang Vernier Caliper dan pisau lurus dengan menggunakan
lap kulit.
b) Tempelkan sisi tajam pisau lurus pada sisi rahang ukur.
c) Amatilah kelurusan rahang ukur dengan melihat celah antara permukaan
ukur dengan pisau lurus.
d) Lakukan untuk kedua sisi rahang (rahang tetap dan rahang gerak)
e) Gambarkan hasil pengamatan tersebut pada Tabel 7.3.
f) Tulis kesimpulan hasil pengamatan tersebut.
3) Pemeriksaan kebenaran skala utama :
a) Persiapkan Vernier Caliper dan bersihkan bagian sensor ukur yang akan
dikalibrsai dengan menggunakan lap kulit.
b) Persiapkan beberapa Gauge Block (Blok Ukur Standar) dengan ukuran
sebagai berikut: 5 mm, 10 mm, 15 mm, 20 mm, 25 mm. Bersihkan bagian
muka ukur Gauge Block dengan menggunakan lap kulit.
c) Untuk pemeriksaan sensor ukur luar :
Lakukan pengukuran untuk setiap Gauge Block dan tuliskan kesalahan
yang terjadi pada lembar kerja. Kesalahan yang dituliskan pada Tabel 7.4
adalah perbedaan antara hasil pembacaan skala Vernier Caliper terhadap
nilai dari Gauge Block tersebut.
d) Untuk pemeriksaan sensor dalam :
Letakkan Gauge Block pada Calibration Clamp, lalu lakukan pengukuran
dengan menggunakan sensor ukur dalam. Lakukan pengukuran untuk
setiap Gauge Block dan tuliskan kesalahan yang terjadi pada lembar kerja,
Tabel 7.4.
e) Untuk pemeriksaan sensor ukur kedalaman (Depth- Bar) :
Letakkan Gauge Block di atas meja rata dengan salah satu muka ukurnya
menghadap ke atas. Lakukan pengukuran ketinggian Gauge Block dengan
menggunakan sensor kedalaman pada Vernier Caliper. Lakukan hal yang
sama untuk setiap Gauge Block dan tuliskan kesalahan yang terjadi pada
lembar kerja, Tabel 7.4.
f) Bandingkan hasil pengukuran tersebut dengan batas harga yang diizinkan
JIS B 7507, kemudian tulis kesimpulan hasil kalibrasi yang telah dilakukan.

C. Kalibrasi Micrometer Luar (Outside Micrometer)

1) Pemeriksaan kedudukan nol Micrometer
a) Persiapkan Micrometer Luar yang akan dikalibrasi.
b) Bersihkan kedua landasan ukur dengan lap kulit.
c) Bersihkan kedua landasan ukur dengan kertas bersih dengan cara
menjepit kertas tersebut dengan kedua landasan ukur dengan memutar
Gigi Gelincir (Ratchet) sampai bunyi ”krik” 3 kali. Kemudian tarik kertas
tersebut lalu rapatkan kedua landasan dengan memutar Gigi Gelincir
sampai bunyi ”krik” 3 kali.
d) Pada saat landasan ukur dalam posisi rapat, lakukan pembacaan skala
Micrometer.
e) Bila skala penunjuk tidak pada posisi nol maka lakukan penyetelan dengan
memutar Silinder Skala. Mintalah panduan instruktur dalam melakukan
hal ini.
2) Pemeriksaan kedataran kedua permukaan landasan ukur.
a) Persiapkan Optical Flatness dan sumber cahaya monokromatis, bisa
dengan sinar matahari langsung atau cahaya lampu ruangan.
b) Bersihkan permukaan kedua landasan ukur Micrometer.
c) Tempelkan Optical Flatness pada permukaan landasan tetap (Anvil)
kemudian dekatkan dengan cahaya monokromatis.
d) Hitung dan tuliskan jumlah garis interferensi yang terjadi serta
gambarkanlah sketsa garis interferensi tersebut pada lembar kerja, Tabel
6.5.
e) Lakukan hal yang sama pada permukaan landasan gerak (Spindle).
f) Berdasarkan jumlah garis interferensi tersebut, tentukan harga
ketidakrataan masing-masing permukaan landasan dan tuliskan pada
lembar kerja, Tabel 7.5.

Harga Ketidakrataan = Jumlah Garis Interferensi x 0.32 µm (7.1)

3) Pemeriksaan kesejajaran kedua permukaan landasan ukur.

a) Persiapkan 4 buah Optical Parallel dengan ketebalan: 12.00 mm; 12.12
mm; 12.25 mm; 12.37 mm dan sumber cahaya monokromatis.
b) Bersihkan kedua permukaan yang akan diperiksa.
c) Letakkan salah satu Optical Parallel lalu jepit secara perlahan dan hati-hati
dengan kedua landasan ukur Micrometer. Proses penjepitan landasan
ukur tidak perlu dikencangkan.
d) Hitung dan tuliskan jumlah garis interferensi yang terdapat di kedua
permukaan landasan ukur pada lembar kerja, Tabel 7.6.
e) Dari jumlah garis interferensi tersebut tentukan harga ketidaksejajaran
kedua permukaan landasan ukur tersebut.

Harga Ketidaksejajaran = Jumlah Garis Interferensi x 0.32 µm (7.2)

f) Lakukan hal yang sama dengan Optical Parallel yang lain kemudian
tuliskan harga ketidaksejajaran yang paling besar dari masing-masing
pemeriksaan pada lembar kerja. Tabel 7.6.
g) Tuliskan ulasan tentang hasil pemeriksaan yang dilakukan pada lembar
kerja, Tabel 7.6.

4) Pemeriksaan kebenaran skala Micrometer.

a) Siapkan Micrometer Stand dan beberapa Gauge Block standar. Ukuran
Block Gauge yang dianjurkan sesuai JIS B 7502 untuk hal ini adalah 2.5
mm, 5.1 mm, 7.7 mm, 10.3 mm, 12.9 mm, 15 mm, 17.6 mm, 20.2 mm,
22.8 mm dan 25 mm.
b) Untuk Micrometer 25 - 50 mm gunakan blok ukur sebagai berikut: 27.5
mm, 29.9 mm, 32.3 mm, 34.8 mm, 37.4 mm, 40.1 mm, 42.6 mm, 45.1
mm, 47.7 mm, 50.0 mm. Instruktur diperkenankan mengubah susunan ini
sesuai dengan kebutuhan.
c) Bersihkan muka ukur Gauge Block dengan lap kulit serta susunlah sesuai
dengan ukuran yang diperlukan.
d) Bersihkan Micrometer yang akan dikalibrasi kemudian letakkan pada
Micrometer Stand.
 e) Lakukan pemeriksaan kebenaran skala Micrometer dengan cara
melakukan pengukuran untuk masing-masing ukuran Gauge Block yang
telah ditentukan sebelumnya.
f) Tulis hasil setiap pengukuran (pembacaan skala) tersebut pada lembar
kerja, Tabel 7.7.
g) Tulis pula hasil kesalahan yang terjadi, yaitu perbedaan antara hasil
pembacaan skala Micrometer dengan ukuran Gauge Block yang diukur.
Tulis tanda +/- pada lembar kerja.
h) Bandingkan dengan harga kesalahan terbesar yang diizinkan menurut JIS
B 7502.
i) Tentukan posisi pembacaan skala dengan harga kesalahan maksimum, X1
dan posisi pembacaan skala dengan harga kesalahan minimum, X2.
j) Untuk hasil yang lebih teliti lakukan kalibrasi ulang dengan Gauge Block
yang diset sekitar posisi yang terjadinya kesalahan maksimum dan
minimum dengan ketentuan sebagai berikut :
(1) Pada posisi kesalahan maksimum : Dimulai dari X1 – 0.3 sampai X1 + 0.3
dengan kenaikan 0.1 mm.
(2) Pada posisi kesalahan minimum : Dimulai dari X2 – 0.3 sampai X2 + 0.3
dengan kenaikan 0.1 mm. Tuliskan hasil kalibrasi kedua ini pada Tabel
7.9.
k) Gambarkan hasil kalibrasi tersebut (pertama dan kedua) pada Grafik 7.1.
l) Tentukan kesalahan total Mikrometer yaitu selisih antara kesalahan
maksimum dan kesalahan minimum (dari hasil kalibrasi kedua) dan
tuliskan hasilnya pada Tabel 7.10.
m)Bandingkan hasil yang diperoleh dengan harga kesalahan total maksimum
yang diijinkan oleh JIS B 7502. Ambilah kesimpulan dari hasil kalibrasi ini.

D. Analisa Hasil Pengukuran :

1) Amati hasil kalibrasi.
2) Bila ada hasil kalibrasi yang meragukan mintalah pendapat pada Instruktur,
bila perlu lakukan kalibrasi ulang.
3) Tuliskan kesimpulan pengamatan tersebut pada lembar kerja. Bila terjadi
pengulangan kalibrasi karena terdapat keraguanpada hasil kalibrasi, maka
perlu diulas mengapa kesalahan tersebut terjadi.

E. Perawatan Alat Ukur dan Peralatannya :

1) Lakukan tindakan pemeliharaan pada alat ukur dan peralatan yang
digunakan.
2) Simpan kembali seluruh alat ukur dan peralatan yang digunakan ke tempat
semula.
3) Rapikan dan bersihkan tempat praktikum sebelum meninggalkan tempat.
 LEMBAR KERJA
MODUL – VII
KALIBRASI ALAT UKUR MEKANIK

TABEL 7.1 DATA RUANGAN PENGUKURAN

Hari/Tanggal :
Temperatur Awal : Temperatur Akhir :
Kelembaban Awal : Kelembaban Akhir :

TABEL 7.2 DATA ALAT UKUR

Obyek Kalibrasi ID Inventaris Kecermatan Kapasitas Ukur

Vernier Caliper 0.5 1 – 150 mm

Outside Micrometer 0.01 0 – 25 mm

Nama Alat Ukur Kalibrasi ID Inventaris Kecermatan Kapasitas Ukur

Gauge Block Set
Optical Flatness
Optical Parallel 12.00 – 12.37
Hair Line
Micrometer Stand
Calibration Clamp

Tanda tangan Instruktur

Start

Finish
( )
 TABEL 7.3 HASIL PEMERIKSAAN KESEJAJARAN RAHANG UKUR VERNIER CALIPER

Cara Pemeriksaan Obyek Pemeriksaan Sketsa Hasil Pemeriksaan

Rapatkan kedua rahang kemudian

arahkan ke cahaya untuk melihat Sensor Luar
adanya celah

Ulasan Pemeriksaan :

TABEL 7.4 HASIL PEMERIKSAAN KERATAAN RAHANG UKUR VERNIER CALIPER

Cara Pemeriksaan Obyek Pemeriksaan Sketsa Hasil Pengamatan

Sisi Ukur Tetap

Sisi Ukur Gerak

Ulasan Pemeriksaan :
 TABEL 7.5 HASIL PEMERIKSAAN KEBENARAN SKALA UTAMA VERNIER CALIPER
Kesalahan (mm)
Ukuran Block Penyimpangan yang
Gauge Pengukuran Pengukuran Pengukuran diizinkan JIS B 7507
Sensor Luar Sendor Dalam Sensor Kedalaman
±0.05mm untuk
10
kecermatan 0.1 mm
20 dan 0.05 mm.

40
atau
60

80 ±0.03mm untuk
kecermatan 0.02
100 mm.
Kesimpulan Kalibrasi Vernier Caliper :

TABEL 7.6 HASIL PEMERIKSAAN KERATAAN PERMUKAAN LANDASAN UKUR

MICROMETER LUAR
Penyimpangan
Obyek Sketsa Hasil Jumlah Garis Harga Ketidakrataan
yang diizinkan JIS
Pemeriksaan Pemeriksaan Interferensi (µm)
B 7502

Landasan Tetap

±2µm

Landasan Gerak

Ulasan Pemeriksaan :
 TABEL 7.7 HASIL PEMERIKSAAN KETIDAKSEJAJARAN PERMUKAAN LANDASAN
MICROMETER LUAR
Jumlah Garis
Jumlah Garis
Interferensi Tiap Harga Penyimpangan
Ketebalan Landasan Ukur Interferensi
Ketidaksejajaran yang diizinkan JIS
Optical Parallel Landasan Landasan Kedua
(µm) B 7502
Tetap Gerak Landasan Ukur

12.00

12.12

12.25 ±2µm

12.37

Nilai Terbesar
Ulasan Pemeriksaan :

TABEL 7.8 HASIL PEMERIKSAAN KEBENARAN SKALA MICROMETER LUAR

Ukuran Block Kesalahan Standar Penyimpangan
No Pembacaan Skala
Gauge (µm) JIS B 7502

1 2.500

2 5.100

3 7.700

4 10.300

5 12.900
±2µm
6 15.000

7 17.600

8 20.200

9 22.800

10 25.000
Ulasan Pemeriksaan :
 TABEL 7.9 HASIL PEMERIKSAAN KEBENARAN BLOK UKUR (KALIBRASI KEDUA)

Kesalahan Maksimum Kesalahan Minimum

Kesalahan Kesalahan
Ukuran Blok Ukur Ukuran Blok Ukur
(µm) (µm)

X1 + 0.3 X2 + 0.3
X1 + 0.2 X2 + 0.2
X1 + 0.1 X2 + 0.1
X1 X2
X1 - 0.1 X2 - 0.1
X1 - 0.2 X2 - 0.2
X1 - 0.3 X2 - 0.3

GRAFIK 7.1 KESALAHAN KUMULATIF MIKROMETER

Kesalahan (μm)

Ukuran Blok Ukur

TABEL 7.10 PERHITUNGAN KESALAHAN TOTAL

Kesalahan Maksimum KesalahanTotal Mikrometer

Kesalahan Minimum yang Diizinkan JIS B 7502
3 µm
Kesalahan Total (Untuk kapasitas s.d. 500 mm)
Kesimpulan Kalibrasi Mikrometer :
Kesimpulan :

Catatan Instruktur :

Kategori Penilaian

1. Kelengkapan Data (20)

2. Kedalaman Analisa

a. Analisa – Hasil Pengukuran (20)

b. Analisa – Menjawab Pertanyaan (15)

3. Penyajian Data (5)

4. Ketepatan Waktu Pengerjaan (15)

5. Sikap saat Melakukan Pengukuran (25)