PETUNJUK PENGOPERASIAN XRD UNTUK UJI BANDING SAMPEL

STANDAR

1. Ruang Lingkup Akreditasi

Analisis Kualitatif Identifikasi Fasa

2. Nama Sampel
Sampel Silicon Powder

3. Parameter Pengukuran dan Nilai Referensi

Gambar 1. Parameter pengujian yang digunakan dalam verifikasi pengujian XRD

Pengujian XRD dilakukan dengan sumber x-ray tube berupa Cu (40 kV dan 30
mA). Pengukuran dilakukan pada sudut 46.3000-48.2400 deg (step atau
increment 0.01 dan durasi atau time/step 0.40), 93.5400-96.4680 deg (step atau
increment 0.016 dan durasi atau time/step 0.80) dan 126.0000-129.8200 deg (step
atau increment 0.02 dan durasi atau time/step 3.50) dengan pengulangan sebanyak
3 kali.

4. Petunjuk Pengoperasian
Disesuaikan dengan prosedur pengoperasian XRD di laboratorium.
5. Hasil Pengukuran
a. Measurement of angle accuracy (sudut peak)
Tabel 1. Data hasil pengujian untuk angle accuracy (sudut peak) dari Bruker D8 Advance Eco yang dianalisis dengan software EVA

Phase Scan 1 Scan 2 Scan 3

Si (220)
Si (511)
Si (620)

b. Resolution of measured angle accuracy (FWHM)

Tabel 2. Data hasil pengujian untuk resolution of measured angle accuracy (FWHM) dari
Bruker D8 Advance Eco yang dianalisis dengan software EVA
Phase Scan 1 Scan 2 Scan 3
Si (220)
Si (511)
Si (620)

c. Measurement of angle accuracy (sudut peak)

Tabel 3. Data hasil pengujian untuk angle accuracy (sudut peak) dari Bruker D8
Advance Eco yang dianalisis dengan software PDXL2
Phase Scan 1 Scan 2 Scan 3
Si (220)
Si (511)
Si (620)

d. Resolution of measured angle accuracy (FWHM)

Tabel 4. Data hasil pengujian untuk resolution of measured angle accuracy (FWHM) dari
Bruker D8 Advance Eco yang dianalisis dengan software PDXL2
Phase Scan 1 Scan 2 Scan 3
Si (220)
Si (511)
Si (620)