Astri Anjani

1706033171
KSK Organik
 OUTLINE
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

ATOMIC FORCE MICROSCOPE

APLIKASI

DAFTAR PUSTAKA
 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

• Ditemukan oleh Mafred von Ardenne (1937) dengan tujuan untuk

• menyempurnakan TEMoleh
Pertama kali ditemukan danMafred
dikembangkan olehpada
von Ardenne ilmuwan dari dengan
tahun 1937 Cambridge
tujuan untuk
Scientific Instrument
menyempurnakan TEMCompany pada 1965
dan dikembangkan (Stereoscan).
oleh ilmuwan dari Cambridge Scientific
• SEM adalahCompany
Instrument mikroskop
padaelektron yang menggunakan tembakan elektron terfokus
1965 (Stereoscan).
• kepada
SEM adalah
suatumikroskop
permukaan elektron
sampelyang menggunakan
padat tembakan elektron
untuk menghasilkan terfokus kepada
suatu sinyal.
suatu permukaan
• Sinyal sampeldapat
yang dihasilkan padat berupa
untuk menghasilkan suatu sinyal.
topografi permukaan Sinyal yang dihasilkan
, morfologi,
dapat berupa topografi permukaan , morfologi, komposisi, dan kristalografi.
komposisi, dan kristalografi
• Dibandingkan dengan mikroskop cahaya biasa, mikroskop elektron ini memiliki resolusi
• Dibandingkan dengan mikroskop cahaya biasa, mikroskop elektron memiliki
yang lebih tinggi karena menggunakan sumber dengan panjang gelombang yang lebih
resolusi yang lebih tinggi karena menggunakan sumber dengan panjang
pendek.
gelombang yang lebih pendek.
• Magnifikasi bisa sampai 2.000.000x
 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Sampel harus cukup kecil untuk dapat

diletakkan di tempat sampel

Sampel harus bersifat konduktif secara

elektrik:
• Sputter coating: Au/Pd alloy

• Spin coating : membuat film polimer di

atas substrat kaca ITO

• Staining : Rutenium tetraoxide (RuO4),

hydrazine (N2H4), and silver sulfide
(Ag2S).

Sampel mikroba membutuhkan fiksasi,

dehidrasi, dan pengeringan untuk
mempertahankan fitur struktural sel dan
untuk mencegah runtuhnya sel ketika masuk
ke alat
 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
Skema Instrumen SEM

solid state Gerakan bolak-balik elektron akibat adanya

scanning coil
The Everhart-Thornley

Sumber: Muhammad & Abdullah, 2019

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

 BSE image

SE image ➔

*gambar yang dihasilkan

berupa tiga dimensi

KELEBIHAN
❑ Preparasinya mudah
❑ Mudah dioperasikan dan interface
nya mudah dipahami
❑ Mudah digunakan di berbagai
aplikasi industri
❑ Analisis cepat (kurang lebih 5
menit)
❑ Jangkauan lihat area sampel luas
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
KEKURANGAN
❑ Harganya sangat mahal
❑ Ruang penyimpanan alat harus
bebas dari getaran dan elemen
elektromagnetik
❑ Alat harus mendapat voltase yang
konstan dan harus ada sistem
pendingin
❑ Magnifikasi dan resolusi
maksimum masih lebih kecil
daripada TEM (500.000x dan
0,5nm)
❑ Coating dapat memengaruhi
permukaan sampel
 T R A N S M I S S I ON E L E C T R O N M I C R O S C OP E

• Ernst Ruska dan Max Knolls mengembangkan TEM pada tahun 1931.
• TEM adalah mikroskop elektron yang mampu menghasilkan gambar dua dimensi
resolusi tinggi dan magnifikasi bisa sampai 50.000.000x
• Informasi yang dapat diberikan diantaranya morfologi, komposisi, dan struktur
kristalin
• Prinsipnya yaitu elektron dilewatkan ke sampel dan terbentuk gambar pada layar
fluorescent yang berasal dari elektron transmisi atau elektron difraksi.
• Preparasi sampel: Sampel harus sangat amat tipis (50-100 nm) agar transparan dan
dapat ditembus elektron. Metode slice sampel: Ultramicrotomy
Skema Instrumen TEM T R A N S M I S S I ON E L E C T R O N M I C R O S C OP E
T R A N S M I S S I ON E L E C T R O N M I C R O S C OP E
 T R A N S M I S S I ON E L E C T R O N M I C R O S C OP E
 Material density determines darkening
of micrograph
◦Darker areas on micrograph indicate
a denser packing of atoms which
correlates to less electrons reaching
the fluorescent screen
 The areas where more electrons made it
through create bright spots on the
screen below, and the areas where
fewer electrons came through create
darker spots. This in turn creates a
magnified, shadow-like, black and
white image of the sample.
 Electrons which penetrate the sample Isotactic polypropylene particle
are collected on a screen/detector and
converted into an image
 T R A N S M I S S I ON E L E C T R O N M I C R O S C OP E

✓Magnifikasinya tinggi
(50.000.000x)
✓Resolusi yang dihasilkan tinggi
✓Preparasi sampel cukup rumit
✓Possible to image individual atoms
✓Jangkauan lihatnya sempit dan
✓Bisa digunakan di berbagai bidang,
dikhawatirkan tidak representative
industri dan edukasi
✓Sampel yang dapat diukur terbatas
✓Gambar yang dihasilkan detail dan
(harus electron transparent)
high-quality

KELEBIHAN KEKURANGAN
 A T O M I C F O R C E M I C R O S C OP E

• Atomic force microscopy (AFM) ditemukan oleh Binnig, Quante, dan Gerber
(1986)
• Atomic force microscopy (AFM) adalah teknik yang memungkinkan
pencitraan hampir semua jenis permukaan, termasuk polimer, keramik,
komposit, kaca, dan sampel biologis.
• AFM merupakan teknologi mikroskopi yang mempelajari sampel diskala
nanoscale dan menghasilkan gambar dalam topografi tiga dimensi serta
resolusi atom tinggi (angstrom) dengan persiapan sampel minimum.
 A T OAMTIOCM FFOORRCCEE MMIICCRROOSSCCOP
OPEE
1. Probe: Merupakan alat pemeriksa yang secara
langsung berinteraksi dengan permukaan sampel
(Tip) dan cantilever.
2. Tip merupakan ujung dari jarum pada ujung
cantilever yang kontak dengan sampel.
3. Cantilever merupakan sebuah penopang dan
merupakan tempat dimana tip menempel.
4. Scaner piezoelectric berfungsi untuk mengontrol
pergerakan tip atau sampel pada arah x, y dan z.
5. Laser : penghasil sinar
6. Photodiode : pendeteksi sinar
 A T OAMTIOCM FFOORRCCEE MMIICCRROOSSCCOP
OPEE
Ketika tip mendekati permukaan sampel, terjadi gaya
tolak antara tip dan permukaan sampel.
Gaya ini akan menyebabkan cantilever bengkok.
Bengkoknya cantilever ini akan terdeteksi dengan
adanya pergeseran posisi laser yang ditangkap oleh
photodioda.
Semakin besar gayatolak antara tip dan permukaan
sampel, pergeseran laser akan semakin besar.
Karena besarnya gaya tolak tergantung pada jarak
antara tip dan permukaan sampel, maka topografi
permukaan sampel dapat diketahui dengan melakukan
scanning tip sepanjang permukaan sampel.
 A T O M I C F O R C E M I C R O S C OP E
• AFM mampu menampilkan gambaran tiga
dimensi ukuran nano partikel sehingga lebih
mendetail.
• AFM mampu menampilkan gambar dengan
ukuran lebih kecil dari 20 nm dan menampilkan
gambar dari kristal yang lunak dan permukaan
polimer.
Kelebihan • AFM digunakan baik untuk bahan konduktor,
isolator, semikonduktor dan insulator.
• Sampel tidak memerlukan perawatan khusus
yang dapat menimbulkan perubahan ireversibel
ataupun kerusakan pada sampel. AFM tidak
membutuhkan kondisi hampa udara (vakum).
• Resolusi AFM > SEM dan HD-AFM = TEM
 A T O M I C F O R C E M I C R O S C OP E

• AFM hanya dapat menangkap gambar dengan

ketinggian maksimum 10-20 mikrometer dan luas
maksimum pengamatan 150 x 150 mikrometer.

• AFM tidak dapat memindai gambar secepat mikroskop

Kekurangan elektron.

• AFM biasanya tidak dapat untuk mengukur dinding

yang curam atau overhang. Maka, dibuat cantilever
khusus sehingga dapat digunakan untuk memodulasi
probe ke samping serta atas dan bawah untuk mengukur
dinding samping.
 APLIKASI
MEDICAL
SCIENCE

NANOWIRES BIOLOGICAL
SOIL AND
FOR GAS ROCK
SENSING SCIENCES
SAMPLING

FORENSIC
INVESTIGATIONS
Fabrication and characterization of Gum A P L I K A S I
arabic-cl-poly(acrylamide) nanohydrogel for
effective adsorption of crystal violet dye
 APLIKASI

AFM image of poly(NIPAM)

brush on the silicon wafer.

3D image of surface morphology

of Teflon film
 DAFTAR PUSTAKA
• Akhtar, K., Khan, S. A., Khan, S. B., & Asiri, A. M. (2018). Scanning Electron Microscopy: Principle
and Applications in Nanomaterials Characterization. Handbook of Materials Characterization,
113–145.
• Kumar, P. S., Pavithra, K. G., & Naushad, M. (2019). Characterization techniques for nanomaterials.
Nanomaterials for Solar Cell Applications, 97–124. doi:10.1016/b978-0-12-813337-8.00004-7
• Libera, Matthew & Egerton, Ray. (2010). Advances in the Transmission Electron Microscopy of
Polymers. Polymer Reviews. 50. 321-339. 10.1080/15583724.2010.493256.
• Mohammed, Azad & Abdullah, Avin. (2019). Scanning Electron Microscopy (SEM): A Review.
• Sharma, G., Kumar, A., Naushad, M., García-Peñas, A., Al-Muhtaseb, A. H., Ghfar, A. A., … Stadler,
F. J. (2018). Fabrication and characterization of Gum arabic-cl-poly(acrylamide) nanohydrogel for
effective adsorption of crystal violet dye. Carbohydrate Polymers.
• Sinha Ray, S. (2013). Techniques for characterizing the structure and properties of polymer
nanocomposites. Environmentally Friendly Polymer Nanocomposites, 74–
88. doi:10.1533/9780857097828.1.74
• https://chem.libretexts.org/