ULANGAN TENGAH SEMESTER

KARAKTERISASI MATERIAL
NAMA : AUFA GHINA APRIYANA
NIM : 4311419027
ROMBEL : KIMIA 19A

1. Sebut dan jelaskan prinsip dasar penggunaan XRF dalam analisis material!
Jawab :
Prinsip Kerja XRF
1. Menembakkan radiasi foton elektromagnetik ke material yang diteliti.
➢ Ketika material berinteraksi dengan cahaya yang memiliki energi tinggi (seperti
sinar-X), maka dapat menyebabkan terpentalnya elektron yang berada pada
tingkat energi paling rendah pada suatu atom.
2. Radiasi elektromagnetik yang dipancarkan akan berinteraksi dengan elektron yang
berada di kulit K suatu unsur.
➢ Akibatnya atom akan berada pada keadaan yang tidak stabil.
3. Elektron yang berada di kulit K akan memiliki energi kinetik yang cukup untuk
melepaskan diri dari ikatan inti, sehingga elektron itu akan terpental keluar.
➢ Elektron yang berada pada tingkat (kulit valensi) yang lebih tinggi akan mengisi
posisi kosong yang ditinggalkan oleh elektron yang terpental tadi. Proses
pengisian posisi elektron pada kulit valensi yang lebih rendah dinamakan
deeksitasi. Proses deeksitasi ini akan disertai dengan pemancaran cahaya
dengan energi yang lebih kecil daripada energi yang menyebabkan
tereksitasinya elektron. Energi yang dipancarkan ini dinamakan radiasi
flouresensi. Radiasi flouresensi ini memiliki energi yang khas tergantung dari
elektron yang tereksitasi dan terdeeksitasi pada atom penyusun sebuah material.
Kekhasan karakteristik dari radiasi flouresensi pada setiap unsur ini
memungkinkan dapat dilakukannya analisa kualitatif untuk mengidentifikasi
unsur-unsur yang berbeda. Sementara itu, analisa kuantitatif untuk menentukan
konsentrasi dari unsur yang dianalisis dapat ditentukan berdasarkan intensitas
dari radiasi fluoresensi yang dipancarkan.
2.

Material apa yang dianalisis diatas, komponen apa saja yang terdapat pada material
tersebut!
Jawab :
Material yang biasa dianalisis menggunakan XRF ialah material yang tidak diketahui
komponen atau unsurnya. Komponen yang terdapat dalam material yang diuji yaitu
Rodium(Rh), Kalsium(Ca), Magnesium(Mg), Silikon(Si), Fosfor(P), Uranium(U),
Mangan(Mn), dan Tembaga(Cu).

3. Setiap untuk mendapatkan data yang baik para peneliti selalu mengadakan penelitian
pendahuluan terhadap karakter material yang akan digunakan. Salah satunya menggunakan
analisis termal.
a. Sebutkan tujuan melakukan analisis termal terhadap material awal!
Jawab :
Tujuan dilakukannya analisis termal terhadap material awal yaitu untuk mengetahui
stabilitas termal atau menganalisis faktor termal (karakteristik suhu, suhu awal reaksi,
panas selama proses, kinetika reaksi kimia) yang ada pada sebuah material awal.
Analisis termal termasuk ke dalam analisis yang penting dan merupakan karakterisasi
pertama serta banyak digunakan karena bersifat sederhana dan hasilnya akurat.
 b. Dari grafik tersebut, berikan pendapat saudara tentang sifat yang dimiliki oleh material
tersebut.
Jawab :
Pada kurva DTA/TGA yang dihasilkan menunjukkan adanya pengurangan berat yang
cukup signifikan pada rentang suhu sekitar 150oC – 600oC. Hal ini disebabkan karena
adanya kehilangan massa yang diiringi dengan pelepasan panas atau eksotermal.
Kehilangan massa tersebut terjadi akibat adanya dekomposisi suatu senyawa yang ada
dalam material uji. Sedangkan pada rentang suhu 300oC – 650oC menunjukkan adanya
dua puncak termal yang diikuti dengan penurunan massa. Dari keempat grafik tersebut,
dapat disimpulkan bahwa material uji akan stabil atau tidak lagi kehilangan massa pada
suhu sekitar 650oC – 1000oC.
4.
 • Dari ke dua grafik diatas senyawa apa yang dihasilkan dari ke dua gambar diatas
dan apa perbedaan senyawa tersebut?
Pada grafik sebelah kanan (hitam) menggunakan sumber radiasi kontinu dan
senyawa yang dianalisis merupakan padatan amorf. Sedangkan pada grafik sebelah
kiri (merah) menggunakan sumber radiasi line sources dan senyawa yang dianalisis
merupakan padatan kristalin. Senyawa yang dihasilkan adalah senyawa Quartz.
Quartz adalah senyawa kimia yang terdiri dari satu bagian silikon dan dua bagian
oksigen atau biasa disebut silikon dioksida (SiO2).
Perbedaan dari kedua senyawa tersebut adalah strukturnya yang satu kristalin dan
yang satu merupakan amorf.

• Selain kristalinitas material, informasi apa saja yang bisa kita peroleh dari hasil
analisis XRD?
Jawab :
X-Ray Diffraction (XRD) digunakan untuk mengindentifikasi material kristalit,
seperti identifikasi struktur kristalit (kualitatif) dan fasa (kuantitatif) dalam suatu
bahan. Selain itu juga dimanfaatkan untuk mengetahui rincian lain, seperti susunan
berbagai jenis atom dalam Kristal, kehadiran cacat, orientasi, dan cacat Kristal.

5. Dalam analisis material dengan FTIR syarat apa yang harus dipenuhi oleh sampel agar bisa
diukur/dianalisis baik dengan metode reflektansi dan metode pellet KBr?
Jawab :
Syarat yang harus dipenuhi sampel agar dapat diukur dengan metode reflektansi dan
metode pellet KBr ialah :
• Sampel padat/cair tidak mengandung air (H2O) karena menggunakan metode KBr
yang higroskopis.
• Sampel plastik/rubber dicek menggunakan metode ATR
• Sampel mudah digerus (metode yang digunakan KBr) dan pellet yang dihasilkan
harus transparan agar dapat ditembus oleh sinar infrared.
Berdasarkan gambar tersebut informasi apa saja yang dapat diperoleh dari material
tersebut, ceritakan dengan detail juga gugus fungsi apa saja yang terbaca pada material
tersebut?
Jawab :
Informasi yang diperoleh yaitu gugus fungsi yang menyusun material tersebut.
Gugus fungsi yang menyusun material tersebut :
Pada hasil FTIR yang diperoleh terlihat bahwa muncul peak pada daerah serapan 3642 cm-
1
yang menunjukkan adanya gugus O-H. Gugus O-H ini muncul karena adanya senyawa
Ca(OH)2 pada katalis CaO:SiO2. Penambahan jumlah konsentrasi CaO:SiO2 dari 0,5; 1;
dan 2, mengakibatkan penambahan intensitas gugus OH. Kemudian muncul peak pada
daerah serapan 1000 pada katalis CaO:SiO2 = 0.5 yang menunjukkan vibrasi Si-O-Si ulur
simetris(bilangan gelombang 1130-1000 cm-1). Kemudian muncul peak pada daerah
serapan 1738 cm-1 menunjukkan adanya gugus karbonil (C=O). Gugus karbonil berada
pada rentang bilangan gelombang1820-1600 cm-1. Intensitas gugus karbonil tersebut cukup
sedikit dan semakin berkurang pada konsentrasi CaO:SiO2 = 0,5 dan CaO:SiO2 = 1(gugus
karbonil hilang pada konsentrasi CaO:SiO2=2).