Tugas Laporan

Mata Kuliah Kristalografi Dan Mineralogi

KARAKTERISASI BATUAN DENGAN MENGGUNAKAN MIKROSKOP

OPTIK DAN XRD

Disusun Oleh :
1. Irmawati Amir
2. Munadia
3. Sulfianty
4. Zurnansyah

Jurusan Fisika
Fakultas Matematika Dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Negeri Makassar
Makassar
2018
 BAB 1
PENDAHULUAN
1.1 Latar Belakang
Indonesia memiliki potensi sumber daya mineral yang sangat besar. Sumber daya
mineral terbentuk melalui pembentukan pegunungan, aktivitas magma pada gunung api
danproses sedimentasi yang berlangsung secara terus menerus selama periode waktu
tertentu, serta diikuti dengan proses evolusi geologi. Kondisi geologi mempengaruhi pola
penyebaran endapan sumber daya mineral. Sifat dan komposisi sumber daya mineral
dibedakan menjadi sumber daya mineral logam dan sumber daya nonlogam. Sumber daya
logam meliputi : emas, perak, nikel, besi, tembaga, seng, nikel, timbal dan barang
tambang mineral lain. Sumber daya nonlogam meliputi : lempung, feldsfar, pasir kwarsa,
dolomit, fosfat, batu gamping, zeolit, bentonit dan mineral logam tambang lain. Daerah-
daerah penghasil sumber daya mineral di Indonesia adalah Riau, Kalimantan Tengah,
Jawa Barat, Sumatera, pulau Bangka, dan Sulawesi Selatan. Provinsi Sulawesi Selatan
memiliki potensi sumber daya mineral yang tersebar di daerah Kota maupun Kabupaten.
Salah satu sumber daya mineralnya berasal dari mineral batuan(Harahap, 2015).
Batuan tersusun dari komposisi kimia dan mempunyai sifat-sifat fisik yang
berasal dari berbagai macam mineral di alam. Batuan berawal dari magma, semua magma
yang keluar melalui puncak gunung api dan akan kembali menjadi magma. Subduksi
lempeng membawa magma menuju astenosfer. Magma tersusun dari mineral yang
terbentuk pada waktu yang berbeda ataupun pada kondisi yang berbeda. Pada temperatur
yang berbeda mineral akan mengkristal berbeda dengan mineral lain(Nurdiyanto et al.,
2011). Informasi kandungan mineral pada batuan diketahui dengan memanfaatkan sifat
difraksi gelombang yaitu dengan menggunakan XRD.
XRD (X-Ray Diffraction) merupakan instrumen yang digunakan untuk
mengidentifikasi material kristalit maupun non-kristalit dengan memanfaatkan radiasi
gelombang elektromagnetik sinar-X. Teknik XRD digunakan untuk mengidentifikasi fasa
kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk
mendapatkan ukuran partikel. XRD memberikan datadata difraksi dan kuantisasi
intensitas difraksi pada sudut-sudut dari suatu bahan. Data yang diperoleh dari XRD
berupa intensitas difraksi sinar-X yang terdifraksi dan sudut-sudut 2θ. Tiap pola yang
muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu
(Setyadhani,2012).
Suatu kristal yang dikenai oleh sinar-X berupa material, sehingga intensitas sinar
yang ditransmisikan akan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Berkas sinar-X yang
dihamburkan ada yang saling menghilangkan (interferensi destruktif) dan ada yang saling
menguatkan (interferensi konstrktif) (Grant,1998).
Suatu material dikenai sinar-X maka intensitas sinar yang ditransmisikan akan
lebih rendah dari intensitas sinar datang, disebabkan adanya penyerapan oleh material dan
penghamburan oleh atom-atom dalam material. Berkas sinar-X yang dihamburkan ada
yang saling menghilangkan karena fasenya berbeda dan ada yang saling menguatkan
karena fase yang sama. Berkas sinar-X yang menguatkan dari gelombang yang terhambur
merupakan peristiwa difraksi. Sinar-X yang mengenai bidang kristal akan terhambur ke
segala arah, untuk menguatkan antara sinar yang terhamburbeda jarak lintasnya harus
memenuhi pola (Setyadhani,2012).
 Berdasarkan latar belakang ini maka dilakukan karakterisasi mineral batuan
menggunakan XRD dan analisis menggunakan match dan rietica di Laboratorium
Material Universitas Negeri Makassar.

1.2 Rumusan Masalah

a. Bagaimana cara mengetahui morfologi dari batuan yang dikarakterisasi
menggunakan mikroskop optik
b. Bagaimana cara mengetahui persentase fasa dari batuan tersebut dengan
menggunakan XRD
c. Bagaimana cara mengetahui parameter-parameter kisi menggunakan metode
rietvield

1.3 Tujuan
a. Untuk mengetahui morfologi dari batuan yang dikarakterisasi menggunakan
mikroskop optik
b. Untuk mengetahui persentase fasa dari batuan tersebut dengan menggunakan
XRD
c. Untuk mengetahui parameter-parameter kisi menggunakan metode rietvield
 BAB II
TINJAUAN PUSTAKA
2.1 Kristalografi
Kristalografi adalah ilmu yang mempelajari tentang sifat-sifat geometri dari kristal
terutama perkembangan, pertumbuhan, kenampakan bentuk luar, struktur dalam
(internal) dan sifat-sifat fisis lainnya.
 Sifat Geometri, memberikan pengertian letak, panjang dan jumlah sumbu kristal yang
menyusun suatu bentuk kristal tertentu dan jumlah serta bentuk luar yang
membatasinya.
 Perkembangan dan pertumbuhan kenampakkan luar, bahwa disamping mempelajari
bentuk-bentuk dasar yaitu suatu bidang pada situasi permukaan, juga mempelajari
kombinasi antara satu bentuk kristal dengan bentuk kristal lainnya yang masih dalam
satu sistem kristalografi, ataupun dalam arti kembaran dari kristal yang terbentuk
kemudian.
 Struktur dalam, membicarakan susunan dan jumlah sumbu-sumbu kristal juga
menghitung parameter dan parameter rasio.
 Sifat fisis kristal,sangat tergantung pada struktur (susunan atom-atomnya). Besar
kecilnya kristal tidak mempengaruhi, yang penting bentuk dibatasi oleh bidang-
bidang kristal: sehingga akan dikenal 2 zat yaitu kristalin dan non kristalin.
Suatu kristal dapat didefinisikan sebagai padatan yang secara esensial
mempunyai pola difraksi tertentu. Jadi, suatu kristal adalah suatu padatan dengan
susunan atom yang berulang secara tiga dimensional yang dapat mendifraksi sinar X.
Kristal secara sederhana dapat didefinisikan sebagai zat padat yang mempunyai
susunan atom atau molekul yang teratur. Keteraturannya tercermin dalam permukaan
kristal yang berupa bidang-bidang datar dan rata yang mengikuti pola-pola tertentu.
Bidang-bidang datar ini disebut sebagai bidang muka kristal. Sudut antara bidang-
bidang muka kristal yang saling berpotongan besarnya selalu tetap pada suatu kristal.
Bidang muka kristal itu baik letak maupun arahnya ditentukan oleh perpotongannya
dengan sumbu-sumbu kristal. Dalam sebuah kristal, sumbu kristal berupa garis
bayangan yang lurus yang menembus kristal melalui pusat kristal. Sumbu kristal
tersebut mempunyai satuan panjang yang disebut sebagai parameter (Rinawan,
2002).
2.2Mineralogi
Mineral adalah suatu senyawa anorganik yang terbentuk di alam (secara
alamiah) bersifat homogen, dengan komposisi kimia terbatas dan sifat fisika tertentu
(Cepeda Joseph, 1994).
a. Sifat Fisik Meneral
 Warna Mineral
Warna pada Mineral adalah warna yang kita tangkap dengan mata bila mana
Mineral tersebut terkena sinar. Sebab-sebab yang menimbulkan warna di
dalam mineral bergantung pada bagian hal antara lain, Komposisi kimia,
Srtuktur kristal dan Ikatan atom, Pengotoran pada mineral.
 Kilap (Luster)
Kilap merupakan suatu sifat optis yang mempunyai hubungan yang erat
dengan peristiwa pemantulan dan pembiasan.
  Cerat (Sreak) Cerat atau warna gores, adalah warna yang kita dapatkan
bilamana mineral digoreskan pada keping porselin yang kasar permukaannya
atau warna mineral bila ditumbuk halus.
 Belahan (Cleavage) Belahan adalah kecenderungan suatu kristal/ mineral yang
karena pengaruh mekanis, seperti pemukulan atau penekanan akan terbelah-
belah dan tidak hancur pada arah tertentu, sehingga didapatkan permukaan yang
rata dan licin.
 Pecahan (Fracture) Pecahan adalah keretakan mineral yang didapat tidak
melalui suatu bidang tertentu, sehingga arah pecahan tidak teratur dan tidak
rata.
 Kekerasan ( Hardnes) Kekerasan pada umumnya didefenisikan sebagai daya
tahan suatu mineral terhadap goresan.
 Kekenyalan ( Tenacity) Kekenyalan merupakan sifat dalam dari suatu mineral
yang merupakan daya tahan mineral terhadap usaha pemecahan,
penghancuran, pemotongan, dan lengkungan atau sobekan pendek
 Diapaneaty Diapaneaty merupakan sifat yang dimiliki beberapa mineral, yaitu
kemampuan suatu mineral untuk memindahkan cahaya
 Berat jenis (Density) Berat jenis mineral merupakan perbandingan antara berat
mineral di udara terhadap volumenya didalam air
2.3 Search-Match
Pada langkah ini, akan dilakukan pencocokan pola XRD dari sampel dengan
pola XRD dari database. Database pola XRD ada beberapa, yaitu JCPSD/ICDD,
COD dan lain-lain. Saat pencocokan pola XRD yang menjadi acuan adalah sudut/d
spacing puncak dengan intensitas tertinggi dan komposisi yang sebelumnya
diperoleh dari XRF atau EDS (bila sampel batuan/bahan yang tidak dikenal).
Dari database diperoleh data sistem kristal, space group, parameter kisi, posisi
atom dan hkl dari puncak-puncak pola difraksi. Database ICDD PDF 2 tidak
menyediakan data posisi atom, sehingga diperlukan sumber lain, sedangkan COD
sudah disertakan namun jumlah kartu pola difraksi lebih sedikit dibandingkan ICDD.
Database ICDD yang menyediakan data posisi atom adalah PDF4, namun licensinya
hanya berlaku satu tahun saja, yang berbeda dengan PDF2.

2.4 Rietica
Pola difraksi sinar-X dapat dianalisis dengan cara dengan cara kualitatif dan
kuantitatif. Analisis kualitatif difraksi sinar-X serbuk dapat dilakukan dengan
menggunakan database yang ada pada PCPDFWIN (Powder diffraction file).
Sedangkan untuk pendahuluan analisis dilakukan dengan menggunakan program
komputer yaitu dengan menggunakan metode Le Bail.
Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai macam pemantulan sinar
dihitung dengan menggunakan suatu model acuan struktur yang sesuai. Dalam
metode Le Bail ini dilakukan pergeseran nilai-nilai parameter kisi sehingga
dihasilkan kemiripan struktur yang maksimal antara hasil difraksi sinar-X yang
dihasilkan dengan struktur model acuan yang digunakan. Nilai-nilai parameter kisi
tersebut, hasil dari pergeseran yang dilakukan akan menjadi parameter kisi dari
difraksi sinar-X serbuk hasil eksperimen.
 Berdasarkan hal tersebut, maka dibuatlah suatu petunjuk untuk analisis pola
difraksi sinar-X serbuk dengan menggunakan metode Le Bail pada program Rietica.
Petunjuk ini dibuat bagi siapa saja yang akan menggunakan program Rietica dalam
melakukan refinement pola difraksi sinar-X dengan menggunakan metode Le Bail,
terutama bagi para pemula untuk lebih memahami bagaimana dalam menganalisis
pola difraksi sinar-X.
Rietica adalah salah satu perangkat lunak Rietveld yang disusun oleh B.
Hunter (1998), seorang peneliti diAustralia Nuclear Science and Technology
Organisation (ANSTO), yang mengembangkan program LHPM sehingga dapat
ditampilkan menggunakan platform berbasis graphical user interface (GUI).
Perangkat ini mudah digunakan, karena perintah-perintahnya yang interaktif, dan
dapat didownload dari internet secara cuma-Cuma
Petunjuk refinement metode Le Bail ini, dibagi ke dalam tiga bagian utama
petunjuk yaitu :
1. Bagian pertama yang berisi tentang petunjuk pembuatan data file yang akan
digunakan pada program Rietica
2. Bagian kedua berisi tentang petunjuk pembuatan input file dan Refinement pada
program Rietica
3. Bagian terakhir adalah petunjuk interpretasi data output program Rietica
2.5 XRD
XRD merupakan alat yang digunakan untuk mengkarakterisasi struktur kristal,
ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal
tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak
yang spesifik. Sehingga kelemahan alat ini tidak dapat untuk mengkarakterisasi
bahan yang bersifat amorf (Suharyana, 2012).
Metode difraksi umumnya digunakan untuk mengidentifikasi senyawa yang
belum diketahui yang terkandung dalam suatu padatan dengan cara membandingkan
dengan data difraksi dengan database yang dikeluarkan oleh International Centre for
Diffraction Data berupa PDF Powder Diffraction File (PDF). Karakterisasi XRD
bertujuan untuk menentukan sistem kristal. Metode difraksi sinar-X dapat
menerangkan parameter kisi, jenis struktur, susunan atom yang berbeda pada kristal,
adanya ketidaksempurnaan pada kristal, orientasi, butir-butir dan ukuran butir.
Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yang melalui celah kristal.
Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut
berasal dari radius yang memiliki panjang gelombang yang setara dengan jarak antar
atom, yaitu sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang digunakan berupa radiasi sinar-X,
elektron, dan neutron. Sinar-X merupakan foton dengan energi tinggi yang memiliki
panjang gelombang berkisar antara 0.5 sampai 2.5 Angstrom. Ketika berkas sinar-X
berinteraksi dengan suatu material, maka sebagian berkas akan diabsorbsi,
ditransmisikan, dan sebagian lagi dihamburkan terdifraksi. Hamburan terdifraksi
inilah yang dideteksi oleh XRD. Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang
saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan
karena fasanya sama. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut
sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merumuskan tentang persyaratan yang harus
dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi
(Grant, 1998).
 BAB III
METODOLOGI
3.1 Mikroskop Optik
Pertama, menyiapkan sampel yang akan dikarakterisasi dengan cara
memotong batu menggunakan gurinda sampai diperoleh ukuran 1 x 1 x 1 cm.
Setelah itu seluruh permukaan sampel dihaluskan menggunakan amplas ukuran
500, 1200, 1500, 2000 cc. Kemudian, dilakukan karakterisasi mikroskop optik
digital yang dilengkapi USB dengan cara menempatkan sampel tepat dibawah
corong mikroskop, menyalakan lampu LED, menghubungkana USB mikroskop
ke laptop, mengatur posisi sampel yang akan diamati, membuka aplikasi
Coolingtech. Pengambilan gambar hasil karakterisasi mikroskop optik dilakukan
dengan melihat tampilan gambar pada laptop sambil mengubah-ubah
perbesarannya. Perbesaran masing-masing 40X dan 1000X. Setiap orang
mengamati 1 titik dengan 2 perbesaran sehingga diperoleh 8 gambar mikroskop
otik.

Gambar mikroskop Optik

3.2 X-Ray Difraction (XRD)
Pertama, menyiapkan sampel yang akan dikarakterisasi dengan cara
memotong batu menggunakan gurinda sampai diperoleh ukuran 2 x 2 x 1 cm
disesuaikan dengan ukuran sampel holder. Setelah itu seluruh permukaan sampel
dihaluskan menggunakan amplas ukuran 1000, 1200, 1500, 2000 cc. Sampel
yang sangat harus akan menunjukan pola difraksi yang amorf.
Sampel tersebut dimasukkan kedalam sampel holder yang salah satu
permukaannya dilengkapi dengan plester supaya sampel tidak jatuh ataupun
goyang ketika dimasukkan kedalam alat Rigaku mini flex II.
Adapun langka-langka menggunakan XRD yaitu :
1. Nyalakan Cooler, tunggu selama 15-20 menit untuk menstabilkan mesin
X-ray yang akan digunakan.
2. Nyalakan komputer, mesin X-ray (tombol power warna hijau) ditunggu
selama 5 menit.
3. Memasukkan sampel ke mesin X-ray
4. Membuka Standr Measurement
5. Show measurement condition
6. Menampilkan kolom yang saling berdampingan

7. Mengganti tabel use untuk kedua kolom menjadi tanda Yes

8. Memasukan nama file, sudut running (10-70 derajat ), detail, Operator.

9. Kemudian diklik ikon standar sampel holder
10. Menekan tombol on pada X-ray

11. Running sampel telah berlangsung, tunggu hingga proses running selesai.

12. Klik excucmen, lombol off lalu di close.

13. Tunggu selama 5 menit baru matikan mesin X-ray.
14. Buka aplikasi PDXL 2

9. Klik mene Open projek, lalu mencari nama fila dari sampel yang sudah
dirunning.
10.Klik load, phase data view

11. Klik Peakbar(3)

12.Klik Hide B6, auto search, autosearch, dan inorganik, mineral.

13. Klik elemen filter serta memilih unsur yang mungkin dalam sampel
tersebut.
 14. Memilih unsur yang mungkin dalam sampel tersebut sampai berwarna
hijau, lalu klik execute.

15. Akan muncul kandidat fase dari komputer, scroll untuk pencocokan
pucak. Jika sama dipilih tanda panah keatas, jika tidak abaikan atau
dibuang (tanda panah keatas).
16. Klik set, lalu RIR method untuk mengetahu w% dari unsru/senyawa yang
dipilih.

Analisis dilanjutkan menggunakan aplikasi match 2 untuk mencari semua

fase yang ada pada sampel. Pencarian fase dilakukan dengan memilih puncak
tertinggi dan memiliki unsur yang mungkin ada pada sampel. Selanjutkan
melakukan analisis retika.
 BAB IV
HASIL DAN PEMBAHASAN

4.1 Hasil Analisis Mikroskop Optik

Data yang diperoleh sebanyak 8 gambar (4 titik dengan 2 kali perbesaran).
Seperti pada gambar berikut ini :
 Dari gambar tersebut dapat dilihat bahwa batuan yang kami karakterisasi
mengandung beberapa mineral. Dimana setiap warna mewakili mineral yang
berbeda.
4.2 Hasil Analisis XRD
1. Menggunakan Match

Entry # 96-900-0777

Phase classification
Name
Minera Quartz
l Name
Formul O2Si
a
I/Icor 2.780000
Sample 9000776
Name
Quality C (calculated)

References

Publication
Bibliog Levien L., Prewitt C. T., Weidner D. J., "Structure and elastic properties of
raphy quartz at pressure P = 20.7 kbar", American Mineralogist 65, 920-930 (1980)
Origin of data
Source COD (Crystallography Open Database)
of
entry
Link to 9000776
orig.
entry
 Crystal structure

Crystallographic data
Space P 32 2 1 (154)
group
Crystal trigonal (hexagonal axes)
system
Cell a= 4.8362 Å c= 5.3439 Å
parame
ters
Cell p= 2070000.0 Gpa
meas.
conditi
ons
Atom Ele
Ox
coordin men x y z Bi Focc U11 U22 U33 U12 U13 U23
id.
ates t
Si 0.4 0.0 0.0 1.00 1.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
63 00 00 0000 0000 6200 5000 5000 2500 0200 0400
O 0.4 0.2 0.1 1.00 1.00 0.01 0.00 0.01 0.00 - -
11 80 10 0000 0000 3100 9400 0800 6500 0.00 0.00
3700 3200

Diffraction data

Diffraction lines
d [Å] Int. h k l Mult.
4.1883 929.6 1 0 0 6
3.2965 1000.0 0 1 1 6
2.4181 292.0 1 1 0 6
2.2526 62.1 0 1 2 6
2.2031 159.8 1 1 1 12
2.0941 508.6 2 0 0 6
1.9498 69.0 0 2 1 6
1.7929 269.3 1 1 2 12
1.7813 81.6 0 0 3 2
1.6482 78.3 0 2 2 6
1.6392 71.2 0 1 3 6
1.5830 27.5 2 1 0 12
1.5178 165.1 1 2 1 12
1.4342 98.0 1 1 3 12
1.3961 7.0 3 0 0 6
1.3619 71.2 1 2 2 12
1.3568 303.0 0 2 3 6
1.3508 98.1 0 3 1 6
1.2728 65.6 0 1 4 6
1.2374 16.4 0 3 2 6
1.2091 61.6 2 2 0 6
1.1833 102.1 1 2 3 12
 1.1792 5.3 2 2 1 12
1.1694 8.5 1 1 4 12
1.1616 127.2 3 1 0 12
1.1351 25.5 1 3 1 12
1.1263 0.3 0 2 4 6
1.1015 5.4 2 2 2 12
1.0988 6.8 0 3 3 6
1.0653 42.6 1 3 2 12
1.0471 23.8 4 0 0 6
1.0356 29.8 0 1 5 6
1.0275 19.5 0 4 1 6
1.0210 22.7 1 2 4 12

Experimental

Physical Properties
Calc. 2.76500 g/cm³
density

Remarks

Remarks
Comm - Diffraction pattern calculated by Match!.
ents - I/Icor calculated by Match!.

Entry # 96-210-1057

Phase classification
Name
Formula Al2O3
I/Icor 2.240000
Sample 2101056
Name
Quality C (calculated)

References

Publication
Bibliography Maslen E. N., Streltsov V. A., Streltsova N. R., Ishizawa N., Satow Y.,
"Synchrotron X-ray study of the electron density in \a-Al~2~O~3~",
Acta Crystallographica Section B49(6), 973-980 (1993)
Origin of data
Source of COD (Crystallography Open Database)
entry
Link to orig. 2101056
entry

Crystal structure
Crystallographic data
Space group R -3 c (167)
Crystal trigonal (hexagonal axes)
system
Cell a= 4.7540 Å c= 12.9820 Å
parameters
Z 6
Atom Element Oxid. x y z Bi Focc
coordinates Al 0.000 0.000 0.352 1.000000 1.000000
O 0.694 0.000 0.000 1.000000 1.000000

Diffraction data

Diffraction lines
d [Å] Int. h k l Mult.
3.4767 13.1 0 1 2 6
2.5488 336.8 1 0 4 6
2.3770 9.5 1 1 0 6
2.1637 1000.0 0 0 6 2
1.9622 114.2 2 0 2 6
1.7384 281.0 0 2 4 6
1.6001 0.1 1 1 6 12
1.5132 42.3 1 2 2 12
1.5097 42.7 0 1 8 6
1.4032 179.7 2 1 4 12
1.3724 470.0 3 0 0 6
1.2744 2.2 2 0 8 6
1.2381 43.4 1 0 10 6
1.1885 8.5 2 2 0 6
1.1589 344.7 0 3 6 6
1.1246 0.0 3 1 2 12
1.1232 8.2 1 2 8 12
1.0981 55.5 0 2 10 6
1.0818 23.4 0 0 12 2
1.0772 21.8 1 3 4 12
1.0417 2.3 2 2 6 12
1.0166 2.1 0 4 2 6

Experimental

Physical Properties
Calc. density 3.99500 g/cm³

Remarks

Remarks
Comments - Diffraction pattern calculated by Match!.
- I/Icor calculated by Match!.
 Entry # 96-101-1356

Phase classification
Name Magnesium silicide
Formula Mg2Si
I/Icor 4.630000
Sample Name 1011355
Quality C (calculated)

References

Publication
Bibliography Owen E A, Preston G D, "The atomic structure of two intermetallic
compounds", Proceedings of the Physical Society, London 36, 341-348
(1924)
Origin of data
Source of COD (Crystallography Open Database)
entry
Link to orig. 1011355
entry

Crystal structure

Crystallographic data
Space group F m -3 m (225)
Crystal Cubic
system
Cell a= 6.3910 Å
parameters
Z 4
Atom Element Oxid. x y z Bi Focc
coordinates Mg 2.0 0.250 0.250 0.250 1.000000 1.000000
Si -4.0 0.000 0.000 0.000 1.000000 1.000000

Diffraction data

Diffraction lines
d [Å] Int. h k l Mult.
3.6898 379.0 1 1 1 8
3.1955 110.3 2 0 0 6
2.2596 1000.0 2 0 2 12
1.9270 147.0 3 1 1 24
1.8449 28.5 2 2 2 8
1.5977 147.4 4 0 0 6
1.4662 54.3 3 1 3 24
1.4291 29.4 4 0 2 24
1.3046 259.7 4 2 2 24
1.2299 36.9 3 3 3 8
1.1298 72.6 4 0 4 12
1.0803 35.1 5 3 1 48
 1.0652 8.7 4 2 4 24
1.0105 100.1 6 0 2 24
0.9746 13.6 5 3 3 24
0.9635 4.7 6 2 2 24
0.9225 27.9 4 4 4 8
0.8949 25.0 5 1 5 24
0.8863 3.9 4 6 0 24
0.8540 168.6 6 4 2 48
0.8320 42.2 5 3 5 24
0.7989 29.0 8 0 0 6

Experimental

Physical Properties
Meas. density 1.87900 g/cm³
Calc. density 1.95100 g/cm³

Remarks

Remarks
Comments - Diffraction pattern calculated by Match!.
- I/Icor calculated by Match!.

Entry # 96-150-9489

Phase classification
Name Ag O
Formula AgO
I/Icor 7.360000
Sample Name 1509488
Quality C (calculated)

References

Publication
Bibliography Zeek W.C., Salkind A.J., "The structure of AgO", Journal of the
Electrochemical Society 106, 366-366 (1959)
Origin of data
Source of COD (Crystallography Open Database)
entry
Link to orig. 1509488
entry

Crystal structure

Crystallographic data
Space group C 1 2/c 1 (15)
Crystal Monoclinic
system
Cell a= 5.8520 Å b= 3.4780 Å c= 5.4950 Å β= 107.500 º
parameters
Z 4
Atom Element Oxid. x y z Bi Focc
coordinates Ag 0.250 0.250 0.000 1.000000 1.000000
O 0.000 0.084 0.250 1.000000 1.000000

Diffraction data

Diffraction lines
d [Å] Int. h k l Mult.
2.9518 24.8 1 1 0 4
2.7906 432.2 2 0 0 2
2.7669 1000.0 1 1 -1 4
2.6203 361.2 0 0 2 2
2.4130 894.6 1 1 1 4
2.2833 426.1 2 0 -2 2
2.1355 7.7 -1 1 2 4
1.8211 3.9 1 1 2 4
1.7390 111.3 0 2 0 2
1.6993 263.4 3 1 -1 4
1.6753 139.9 2 0 2 2
1.6505 2.5 0 2 1 4
1.6404 2.4 3 1 0 4
1.6206 219.3 -1 1 3 4
1.5934 2.1 3 1 -2 4
1.4835 1.5 2 2 -1 4
1.4759 150.7 2 2 0 4
1.4591 113.7 3 1 1 4
1.4489 139.9 0 2 2 4
1.4216 45.2 4 0 -2 2
1.4084 98.9 1 1 3 4
1.3953 66.8 4 0 0 2
1.3945 95.1 3 1 -3 4
1.3835 92.4 2 2 -2 4
1.3651 1.0 2 2 1 4
1.3527 37.3 -2 0 4 2
1.3102 51.5 0 0 4 2
1.2751 0.7 -1 1 4 4
1.2494 0.6 3 1 2 4
1.2324 0.6 0 2 3 4
1.2277 0.6 -2 2 3 4
1.2065 54.3 2 2 2 4
1.1889 0.5 -3 1 4 4
1.1417 30.1 4 0 -4 2
1.1351 0.0 1 3 0 4
1.1326 0.4 1 1 4 4
1.1237 56.9 -1 3 1 4
1.1191 0.4 4 2 -1 4
1.1051 39.9 5 1 -1 4
1.1018 17.7 4 0 2 2
 1.1008 0.3 5 1 -2 4
1.1006 48.3 4 2 -2 4
1.0956 34.9 1 3 1 4
1.0883 38.2 4 2 0 4
1.0688 16.2 2 0 4 2
1.0677 44.0 -2 2 4 4
1.0656 0.0 -1 3 2 4
1.0634 43.5 3 1 3 4
1.0628 0.3 5 1 0 4
1.0515 42.2 5 1 -3 4
1.0482 0.3 2 2 3 4
1.0464 34.2 0 2 4 4
1.0413 33.7 -1 1 5 4
1.0396 0.3 4 2 -3 4
1.0191 0.0 1 3 2 4
1.0190 0.3 4 2 1 4
1.0136 38.5 -3 1 5 4

Experimental

Physical Properties
Calc. density 7.71300 g/cm³

Remarks

Remarks
Comments - Diffraction pattern calculated by Match!.
- I/Icor calculated by Match!.

Dari hasil analisis menggunakan match diketahui bahwa fasa dari sampel
yang dikarakterisasi yaitu SiO2 (Quarz), Al2O3, Mg2Si dan AgO dengan
persentasi masing-masing 73,7%, 16,9%, 6,0% dan 3,4%.
2. Menggunakan Rietica (Metode Rietvield)
 BAB V
PENUTUP

5.1 Kesimpulan
1. Batuan yang kami karakterisasi mengandung beberapa mineral, dimana setiap
warna mewakili mineral yang berbeda.
2. Hasil analisis Match diperoleh Fasa dari sampel yaitu SiO2 (Quarz), Al2O3,
Mg2Si dan AgO dengan persentasi masing-masing 73,7%, 16,9%, 6,0% dan
3,4%.
3. Hasil analisis refinement dengan menggunakan rietica yaitu Rp 13,032 ; Rwp
18,195; x2 28,555 dan R-brag 14.42.
 DAFTAR PUSTAKA

C.Cepeda Joseph, 1994, Introduction to Mineral and Rocks,West Texas A&M University,
USA.
Grant, N. M., & Suryanayana, C. (1998). X-Ray Diffraction : A Partical Approach. New
York: Plennum Press.
Harahap, R.S.R., 2015. Aplikasi Penginderaan Jauh Untuk Pemetaan Zonasi Potensi
Keberadaan Emas Epitermal Menggunakan Metode Fuzzy Logic Di Sebagian Kabupaten
Tapanuli Selatan, Sumatera Utara 9.
H.K.Edward, F.H.Walter, S.R.Lewis, 1959, Mineralogy, An Introduction to the Study of
Minerals and Crystals, Fifth Edition, McGRAW-HILL BOOK
Isbandi, D, 1986. Mineralogi. Nur Cahaya, Yogyakarta.
Modul Praktikum Kristalografi & Mineralogi., 2012, Fakultas Teknik
Geologi UPN Veteran Yogyakarta.
Nurdiyanto, B., Hartanto, E., Ngadmanto, D., Sunardi, B., Susilanto, P., 2011. Penentuan
Tingkat Kekerasan Batuan Menggunakan Metode Seismik Refraksi 12, 10.
Rinawan. R, 2002, Modul Kristalografi dan Mineralogi, Bandung.
Setyadhani, R.T., (2012), X-Ray Difraction (XRD). Universitas Negeri Medan.
Suharyana. (2012). Dasar-Dasar Dan Pemanfaatan Metode Difraksi Sinar-X. Surakarta:
Universitas Sebelas Maret.