MIKROSKOP ELEKTRON

TRANSMISI

1. PETRUS PATAS D1121171001

2. M. RIZKY IRVANDI D1121171005
3. MARCHELIUS JONATAN D1121171010
4. FEBYA TRISTINCHIA N. D1121171026
5. KRISTINA DESIDERIA D1121171028

ALLPPT.com _ Free PowerPoint Templates, Diagrams and Charts

Menggabungkan penemuan ini dan
membangun mikroskop transmisi elektron
(TEM) yang pertama pada tahun 1931.
Mikroskop transmisi elektron (Transmission electron microscope-TEM)
adalah sebuah mikroskop elektron yang cara kerjanya mirip dengan
cara kerja proyektor slide, di mana elektron ditembuskan ke dalam
obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil tembusannya pada
layar.
Prinsip kerja dari TEM secara singkat adalah sinar elektron mengiluminasi
spesimen dan menghasilkan sebuah gambar diatas layar pospor.
Pada TEM, sampel yang disiapkan sangat tipis sehingga
elektron dapat menembusnya kemudian hasil dari
tembusan elektron tersebut yang diolah menjadi gambar
.
 Agar pengamat dapat
mengamati preparat dengan
baik, diperlukan
persiapan sediaan dengan
tahap sebagai berikut :

1. melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah strukt
ur sel yang akan diamati. fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa
glutaraldehida atau osmium tetroksida.
2. pembuatan sayatan, yang bertujuan untuk memotong sayatan hingga setipis m
ungkin agar mudah diamati di bawah mikroskop. Preparat dilapisi dengan monom
er resin melalui proses pemanasan, kemudian dilanjutkan dengan pemotongan m
enggunakan mikrotom. Umumnya mata pisau mikrotom terbuat dari berlian karen
a berlian tersusun dari atom karbon yang padat. Oleh karena itu, sayatan yang ter
bentuk lebih rapi. Sayatan yang telah terbentuk diletakkan di atas cincin berpetak
untuk diamati.
3. pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat y
ang akan diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat me
nggunakan logam berat seperti uranium dan timbal.
 Sinyal utama yang dapat ditangkap atau dihasilkan dari
TEM

1. Diffraction Contrast
Dipakai untuk mengkarakterisasi kristal biasa digunakan untuk me
nganalisa defek. endapan, ukuran butiran dan distribusinya.
2. Phase Contrast
Dipakai untuk menganalisa kristalin material (defek, endapan,
struktur interfasa, pertumbuhan kristal)
3. Mass/Thickness Contrast
Dipakai untuk karakterisasi bahan amorf berpori, polimer, material
lunak (biologis)
4. Electron Diffraction
5. Characteristic X-ray (EDS)
6. Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS + EFTEM)
7. Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
 Kelebihan dari analisa
menggunakan TEM
1. Resolusi Superior 0.1~0.2
nm, lebih besar dari SEM (
1~3 nm)
2. Mampu mendapatkan infor
masi komposisi dan kristal
ografi dari bahan uji denga
n resolusi tinggi
3. Memungkinkan untuk men
dapatkan berbagai signal d
ari satu lokasi yang sama.
Kelemahan dari analisa
menggunakan TEM
1. Hanya meneliti area yang
sangat kecil dari sampel (apa
kah ini representatif?)
2. Perlakuan awal dari sampe
l cukup rumit sampai bisa m
endapatkan gambar yang ba
ik.
3. Elektron dapat merusak at
au meninggalkan jejak pada
sampel yang diuji.