PANDUAN PRAKTEK

ELEKTRONIKA DASAR

Oleh :
TIM PENYUSUN

LABORATORIUM TEKNIK ELEKTRO

JURUSAN PENDIDIKAN TEKNIK ELEKTRO
FAKULTAS TEKNIK
UNIVERSITAS NEGERI MEDAN
 KATA PENGANTAR

Puji syukur kita panjatkan ke hadirat Tuhan Yang Esa, karena atas berkat dan karunia
penyusunan buku ini dapat terselesaikan atas hasil kerjasama tim penyusun dari civitas
akademika Jurusan Pendidikan Teknik Elektro.
Elektronika merupakan salah satu mata kuliah dan ilmu pengetahuan dasar yang harus
dikuasai oleh mahasiswa teknik elektro, yaitu sebagai bekal untuk menguasai bidang keelektroan
lainnya. Semakin lama perkembangan elektronika semakin pesat dan aplikasinya semakin meluas
yang menuntut dasar pondasi yang cukup kuat.
Kehadiran panduan praktek ini diharapkan menjadi penunjang dan pelengkap mata kuliah
elektronika dasar yang harus ditempuh mahasiswa. Tanpa adanya praktikum dirasakan
penguasaan mata kuliah bidang keteknikan akan tidak sempurna malah akan tidak berarti sama
sekali.
Untuk menjalankan praktikum diperlukan panduan agar pelaksanaan praktikum dapat
berjalan secara teratur dan terarah. Sehingga nantinya akan diperoleh hasil penguasaan belajar
yang maksimal baik dari segi penguasaan teori maupun pegalaman belajar.
Tidak ada gading yang tidak retak, tim penyusun menyadari panduan ini masih jauh dari
sempurna. Oleh karenanya diharapkan masukan sehingga ke depan panduan ini dapat disusun
dengan lebih sempurna demi berhasilnya tujuan dan kompetensi pembelajaran sebagai salah satu
upaya mencerdaskan kehidupan bangsa.
Terima kasih kepada berbagai pihak atas andilnya dalam penyusunan panduan. Semoga
buku ini dapat bermanfaat bagi kita semua.

Wassalam,

Tim Penyusun

i
 DAFTAR ISI

KATA PENGANTAR .................................................................................................................... i

DAFTAR ISI .................................................................................................................................. ii
PENDAHULUAN ......................................................................................................................... iii
PERCOBAAN I DIODA ............................................................................................................... 1
1.1. Percobaan karakteristik Dioda .......................................................................................... 1
1.2. Percobaan Penyearah Setengah Gelombang..................................................................... 3
1.3. Percobaan Penyearah Gelombang Penuh dengan Jembatan ............................................ 4
Pertanyaan ................................................................................................................................... 6

PERCOBAAN II TRANSISTOR BIPOLAR ............................................................................. 8

2.1. Percobaan Pengetesan Transistor Bipolar ........................................................................ 8
2.2. Percobaan Karakteristik Input ........................................................................................ 10
2.3. Percobaan Karakteristik Output ..................................................................................... 11
2.4. Percobaan Transistor Bipolar sebagai Saklar ................................................................. 13
Pertanyaan ................................................................................................................................. 15

PERCOBAAN III JUNCTION FIELD-EFFECT TRANSISTOR (JFET) ........................... 16

3.1. Percobaan Pengetesan JFET ........................................................................................... 16
3.2. Percobaan Cara Kerja JFET ........................................................................................... 17
3.3. Percobaan Karakteristik Arus dan Tegangan JFET........................................................ 19
3.4. Percobaan Common-Source Amplifier .......................................................................... 21
3.5. Percobaan Common-Drain (Source-Follower) Amplifier .............................................. 22

PERCOBAAN IV OPERATIONAL AMPLIFIER (OP-AMP) .............................................. 24

4.1. Percobaan Basic Op-Amp Operation ............................................................................. 24
4.2. Percobaan Op-Amp Inverting Amplifier ........................................................................ 25
4.3. Percobaan Op-Amp Noninverting Amplifier ................................................................. 28
4.4. Percobaan Filter Aktif .................................................................................................... 31

PERCOBAAN V SILICON-CONTROLLED RECTIFIER (SCR) ....................................... 34

5.1. Percobaan Pengetesan SCR dengan Ohmmeter ............................................................. 34
5.2. Percobaan Karakteristik SCR dengan Sumber Tegangan Searah .................................. 35
5.3. Percobaan Karakteristik SCR dengan Sumber Tegangan Bolak-Balik .......................... 37
5.4. Percobaan Aplikasi SCR ................................................................................................ 38

PERCOBAAN VI OSILATOR .................................................................................................. 40

6.1. Osilator Colpitts.............................................................................................................. 40

ii
 PENDAHULUAN

Sejalan dengan kebijakan nasional tentang perluasan tugas yang ditandai dengan
berubahnya IKIP menjadi Universitas menimbulkan makna lain yaitu menghasilkan tenaga ahli
di bidangnya yang juga dapat berperan sebagai guru. Unimed sebagai salah satu institusi yang
ikut mengalami perubahan tersebut telah melakukan berbagai upaya dan kegiatan perluasan dan
peningkatan mutu pendidikan mutu pendidikan mulai dari penyusunan Kurikulum Berbasis
Kompetensi sampai kepada pengembangan pembelajaran berbasis web.
Upaya-upaya itu semua tidak terlepas dari peran serta laboratorium dalam
menyelenggarakan pembelajaran yang bersifat aplikatif untuk mengembangkan dan
meningkatkan ketrampilan mahasiswa pada bidang studi yang diikuti. Sehingga demi kelancaran
dan keteraturan penyelenggaraan pembelajaran praktek di laboratorium diperlukan adanya
tuntunan dan panduan dalam pelaksanaannya. Panduan praktikum tidak hanya berfungsi sebagai
pedoman pelaksanaan praktek tetapi juga sebagai bahan literatur yang bersifat sederhana dan
comprehensif sehingga memudahkan mahasiswa dalam merangkum mata kuliah yang diikuti.
Saat ini elektronika telah menguasai hampir di setiap aspek kehidupan manusia. Mulai
dari kalangan rumah tangga sampai pengusaha membutuhakn perangkat elektronika. Bahkan
bidang listrik ketenagaan sendiri sebagai bidang kelistrikan yang membutuhkan daya yang tinggi
saat ini telah bergeser dari penggunaan alat mekanis sebagai pengendali telah menggunakan
kontrol elektronika pada sistem jaringannya. Oleh sebab itu penguasaan elektronika merupakan
syarat mutlak bagi pihak yang menekuni bidang kelistrikan.
Kemampuan elektronika mulai dilatih kepada mahasiswa pada mata kuliah elektronika
dasar. Sebagai mata kuliah fundamen adalah sangat penting dalam pembelajaran elektronika
untuk melatih kombinasi antara kemampuan teori maupun praktis sebagai satu kesatuan yang
tidak dapat dipisahkan. Maka dalam penyusunan panduan praktek perlu dipertimbangkan
ketercapaian kemampuan praktis terbut sekaligus sebagai penunjang kemampuan teori.
Pada buku panduan praktek ini, materi yang disajikan mengikuti urutan materi pada teori
yang umum diberiksan oleh dosen. Sehingga pelaksanaan praktek dapat dilakukan begitu satu
materi teori selesai diajarkan. Diharapkan sub-sub kompetensi dapat tercapai sesuai dengan
jadwal yang telah direncanakan pada SAP maupun GBPP.
Materi praktek terdiri 6 pokok bahasan yang merupakan pelatihan komponen-komponen
dasar elektronika yaitu dioda dan penyearah, transistor, JFET, Op-Amp, SCR dan Osilator.

iii
Pelaksanaan praktek dimulai dari penjelasan tujuan dan teori singkat sebagai rangkuman dari
materi teori, selajutnya dilaksanakan percobaan sesuai dengan prosedur yang ada dan pencatatan
data hasil percobaan sesuai dengan tabel-tabel data yang ada. Analisa percobaan dilakukan
dengan menjawab berbagai pertanyaan-pertanyaan yang ada pada tiap bab. Akhirnya mahasiswa
ditugaskan untuk membuat laporan praktek berdasarkan berbagai kegiatan yang dilakukan pada
tiap percobaan sehingga didapat kesimpulan dari hasil jalannya percobaan.

iv
 PERCOBAAN I
DIODA

1.1. Percobaan karakteristik Dioda

Tujuan
Untuk menunjukkan hubungan antara tegangan forward, arus forward, dan nilai tahanan
dari sebuah dioda. Juga tegangan reverse, arus reverse, dan nilai tahanannya.

Teori Singkat
Bila tegangan bias maju pada dioda meningkat, maka arus maju juga bertambah. Hal ini
tidak seperti sebuah transistor yang dalam hal ini tahanan sambungan semikonduktornya
menurun dengan adanya peningkatan arus akibat meningkatnya jumlah perbandingan hole-
elektron. Tahanan bias maju dapat dicari dengan Hukum Ohm, yaitu Rf = Vf / If. Tegangan yang
melalui keseluruhan rangkaian dapat meningkat sampai beberapa volt, sementara tahanan beban
( RL ) biasanya ikut menentukan besarnya arus yang mengalir pada rangakain. Pada keadaan
dibias mundur (reverse), arus yang mengalir sangat kecil (dalam orde µA) dan oleh karenanya
tahanan reverse-nya sangat besar. Tahanan reverse dapat dicari dengan Hukum Ohm, yaitu RR =
VR / IR.

Peralatan
 Catu daya
 DC Voltmeter
 DC Milliamperemeter
 Beberapa buah dioda (dioda penyearah, dioda xener, LED)
 Tahanan 1 kΩ, 0,5 W

1
Rangkaian Percobaan

(a) (b)

Prosedur Percobaan
1) Buat rangkaian seperti gambar (a).
2) Atur catu daya selangkah sesuai dengan data percobaan yang diberikan.
3) Pada setiap langkah catat harga I (IF atau IR).
4) Turunkan tegangan catu daya sampai 0 volt.
5) Ulangi langkah 1) sampai 4) di atas untuk jenis dioda yang lain.
6) Percobaan selesai.

Data Percobaan
Forward Bias Reverse Bias
VF IF (mA) RF =VF/IF VF IF (mA) RF =VF/IF
0 0 α 0 0 α
0.1 -2
0.2 -5
0.3 -7
0.4 -10
0.5 -12
0.6 -15
0.7 -18
0.8 -20

2
1.2. Percobaan Penyearah Setengah Gelombang

Tujuan
Untuk menentukan cara kerja dioda dalam menyearahkan tegangan bolak-balik serta
melihat bentuk gelombangnya.

Peralatan
o Osiloskop
o Trafo step-down
o Dioda 1N4001 atau yang sejunis
o Tahanan 1 kΩ
o Elco10 µF, 50 V.

Rangkaian Percobaan

Prosedur Percobaan
(1) Buatlah rangkaian seperti gambar rangkaian percobaan di atas.
(2) VS dinaikkan selangkah demi selangkah dari 0 – 12 dengan kenaikan 1,5 V.
(3) Catat VDC1 setiap kenaikan input VS.
(4) Amati bentuk gelombang output pada osiloskop.
(5) Turunkan tegangan catu daya sampai 0 volt.
(6) Hubungkan kapasitor secara parallel dengan tahanan RL.
(7) Ulangi langkah (1) sampai (6) di atas untuk setiap nilai input VS tanpa kapasitor dan dengan
kapasitor.
(8) Catat hasil pengamatannya.
3
Data Percobaan
No.
VS (volt)
VDC1 (volt)

Keterangan :
Jika
VDC1 = tegangan output rata-rata penyearah hasil pengukuran, dan
VDC2 = tegangan output rata-rata penyearah hasil perhitungan,
maka
1,41Veff  VF
VDC 2 
1
1
2 fR L C
V DC
VR 
fR L C

VS
rf 
VDC1
dengan
VF  0,6 untuk dioda silicon
Vr  ripple tegangan

1.3. Percobaan Penyearah Gelombang Penuh dengan Jembatan

Tujuan
Untuk mengetahui kemampuan dioda menyearahkan arus dan untuk melihat bentuk
gelombang yang dihasilkan dioda yang dihubungkan secara jembatan.

Peralatan
 Osiloskop
 Catu daya

4
  Trafo Step-down
 Dioda IN4001
 Tahanan beban 10kΩ, 0,5W
 Kapasitor

Rangkaian Percobaan

Prosedur Percobaan
(1) Buatlah rangkaian seperti gambar rangkaian percobaan di atas.
(2) Naikkan VS setahap demi setahap sesuai dengan data percobaan yang diberikan.
(3) Amati bentuk gelombang output pada osiloskop.
(4) Turunkan tegangan catu daya, kemudian pasang kapasitor (C) secara parallel dengan tahanan
RL. Catat tegangan output dan bentuk gelombang yang dihasilkan.
(5) Ulangi langkah (1) sampai (4) untuk beberapa harga C.
(6) Percobaan selesai.

Data Percobaan
No.
VS (volt)
VDC1 (volt)

Keterangan:
Jika
VS : tegangan input efektif bolak-balik,
VDC1 : tegangan output rata-rata penyerah hasil pengukuran, dan
VDC2 : tegangan output rata-rata penyearah hasil perhitungan,

5
Maka
1,41Veff  2VF
VDC 2 
1
1
4 fRL C
VDC
VR 
2 fRL C

VS
rf 
VDC1

Pertanyaan

a. Karakteristik Dioda
1. Tentukan harga dari tahanan forward dan tahanan reverse dari hasil pengukuran tegangan dan
arus untuk untuk dioda yang dicoba.
2. Jelaskan beberapa jenis dioda serta kegunaannya.
3. Jelaskan pengertian cut-in voltage dan PIV dari sebuah dioda?

b. Penyearah Setengah Gelombang

1. Hitung tegangan output searah VDC2 berdasarkan rumus.
2. Tentukan ripple factor sesungguhnya gelombang output dari hasil pengukuran VS dan VDC1.
3. Berikan penjelasan bila ada perbedaan antara VDC1 hasil pengukuran dengan VDC2 hasil
perhitungan.
4. Mengapa setiap penyearah harus menggunakan filter?
5. Dalam menempatkan sebuah dioda dalam suatu rangkaian penyearah, batas-batas apa yang
harus dipertimbangkan?
6. Hitung ripple tegangan dari hasil pengukuran untuk penyearah yang memakai kapasitor
(elco).

c. Penyearah Gelombang Penuh dengan Jembatan

1. Hitung tegangan output VDC2 berdasarkan rumus.
2. Tentukan ripple factor sesungguhnya gelombang output dari pengukuran VS dan VDC1.

6
3. Berikan penjelasan bila ada perbedaan antara VDC1 hasil pengukuran dengan VDC2 hasil
perhitungan.
4. Hitung ripple tegangan dari hasil pengukuran untuk penyearah yang memakai kapsitor (elco).

7
 PERCOBAAN II
TRANSISTOR BIPOLAR

2.1. Percobaan Pengetesan Transistor Bipolar

Tujuan
Untuk menunjukkan metode praktis pengujian transistor bipolar dengan menggunakan
ohmmeter.

Teori Singkat
Untuk tujuan pengujian dengan ohmmeter, sebuah transistor NPN sama dengan dua buah
dioda yang saling membelakangi seperti pada Gambar (b). Ada dua sambungan (function) PN,
basis-emiter dan basis-kolektor. Jika masing-masing sambungan ini dibias maju oleh ohmmeter,
yaitu kawat positif ke bahan P dan kawat negatif ke bahan N (Gambar(c)), akan terbaca suatu
tahanan yang rendah. Sebaliknya akan terbaca suatu tahanan yang tinggi jika sambungan-
sambungan ini dibias balik (reverse), yaitu kawat positif ke bahan N dan kawat negatif ke bahan
P (Gambar(d)).
Transistor PNP dapat diuji dengan metode yang sama, kecuali bahwa dioda dihubungkan
saling berhadapan seperti ditunjukkan dalam Gambar (e). Pengujian yang sederhana ini
menentukan apakah transistor terhubung singkat atau terbuka.

(a) (b) (c)

8
Peralatan
 Ohmmeter
 Beberapa BJT, baik tipe NPN maupun PNPE

Rangkaian Percobaan

(d) (e) (f) (g)

Prosedur Percobaan
1. Set ohmmeter pada skala pertengahan.
2. Lakukan pengukuran antara kaki-kaki transistor seperti pada gambar.
3. Catat tahanan yang terbaca pada tabel.

Data Percobaan
Kode transistor :…………………………. Tipe :……………

E + -
B - +
C

9
2.2. Percobaan Karakteristik Input

Tujuan
Untuk mempelajari karakteristik input dari transistor.

Teori Singkat
Percobaan ini dilakukan untuk mendapatkan grafik karakteristik input dari sebuah
transistor, yaitu grafik VBE VS IB. Mula-mula tegangan catu daya VCC diatur sehingga nilainya
mencapai harga yang tertentu yang sama dengan harga VCE yang telah ditetapkan. Kemudian
harga VCE diatur sehingga diperoleh harga IB yang tertentu. Untuk setiap harga IB, harga VBE
yang diperoleh dicatat. Nilai VBE’ diperoleh dari :
VBE’ = VBE – IB . RµA
dengan RµA = tahanan ammeter.

Peralatan
 Voltmeter
 Ammeter
 Catu daya
 Tahanan RB = 10 kΩ
 Transistor
 Kabel

Rangkaian Percobaan

10
Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar rangkaian percobaan.
(2) Atur posisi VCC = ………….volt untuk VCE = …………volt.
(3) Atur VBB sehingga di dapat harga IB yang diberikan.
(4) Catat VBE untuk setiap harga IB.
(5) Setelah semua harga VBE untuk harga IB yang telah ditentukan didapat, tentukan VBB sampai
nol.

Data Percobaan
VCE = ………..V VCE = VCC

No.
IB(µA)
VBE(volt)
VBE’(volt)

2.3. Percobaan Karakteristik Output

Tujuan
Untuk menujukkan bagaimana IB mempunyai pengaruh yang lebih besar terhadap IC
dibandingkan tegangan kolektor-emiter (VCE), dan juga untuk menggambarkan kurva
karakteristik output untuk lebih memahami cara kerja transistor bipolar.

Teori Singkat
Percobaan ini memerlukan dua buah ammeter dan sebuah voltmeter untuk memperoleh,
sebanyak mungkin, pembacaan yang teliti dan mempermudah pengumpulan data. Pertam sekali,
IB diset ke suatu nilai yang diberikan, kemudian VCE dinaikkan dalam langkah 2V sementara IC
diukur dan direkam dalam table data. Prosedur ini diulang untuk berbagai nilai IB sampai table
data lengkap. Data kemudian digambar pada grafik untuk memberikan gambaran hubungan
antara IB dan VCE terhadap IC.
11
Peralatan
 Catu daya
 2 buah ammeter
 Voltmeter
 Transistor
 Tahanan

Rangkaian Percobaan

Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti pada gambar.
(2) Atur VBB untuk pembacaan IB = 5 µA.
(3) Atur VCC untuk pembacaan VCE = 2 V.
(4) Ukur IC dan catat dalam table data.
(5) Naikkan VCE menjadi 4 V.
(6) Ukur IC dan catat nilainya dalam table data.
(7) Ulangi langkah (5) dan (6) untuk nilai-nilai VCE yang diberikan dalam table data sampai 15 V.
(8) Atur VBB untuk pembacaan IB = 10µA.
(9) Ulangi langkah (3) sampai (7) untuk melengkapi pembacaan untuk IC.

12
Data Percobaan
VCE (volt)
IB(µA)
+2 +4 +6 +8 +10 +12 +15
5
10
20
30
40
50
60

2.4. Percobaan Transistor Bipolar sebagai Saklar

Tujuan
Untuk menunjukkan bagaimana mengetahui apakah transistor bipolar konduksi atau tidak
konduksi bila digunakan sebagai saklar.

Teori Singkat
Dengan mengacu pada gambar berikut, jika saklar S1 dalam posisi A, sambungkan emiter-
basis dibias reverse (VB = 0 V), transistor tidak konduksi (off), dan tegangan rangkaian
keseluruhan (+VCC) akan muncul pada kolektor (VC, atau antara kolektor dan emiter). Jika S1
dalam posisi B, sambungan emiter-basis dibias maju (VB  0,7 V), transistor konduksi (on), dan
tegangan kolektor akan mendekati potensial ground (VC  0,2 V). Dalam kondisi ini transistor
menjadi jenuh (saturasi).

13
Peralatan
 Catu daya
 Ammeter
 Transistor
 Resistor
 Relay
 LDR
 Buzzer

Rangkaian Percobaan
a. Menggunakan Saklar b. Menggunakan LDR

Prosedur Percobaan
(1) Rangkaian disusun seperti gambar.
(2) Berikan tegangan catu daya VCC = 6 V.
(3) Untuk rangkaian dengan saklar, buka saklar S, dan catat pembacaan IB dan IC. Kemudian
tutup saklar S, dan catat pula pembacaan IB dan IC.
(4) Untuk rangkaian dengan LDR, berikan cahaya pada LDR, dan catat pembacaan IB dan IC.
Kemudian tutup LDR (tidak dikenai cahaya), dan catat pula pembacaan IB dan IC.

14
Pertanyaan

(1) Gambarkan hasil percobaan karakteristik input dan output transistor bipolar pada kertas
millimeter.
(2) Jelaskan pengertian ac current gain dan dc current gain dari sebuah transistor.
(3) Buktikanlah
Βdc = α /.(1-α)
(4) Gambarkanlah suatu rangkaian penguat transistor dalam konfigurasi
a. Common emitter,
b. Common collector, dan
c. Common base.
(5) Gambarkanlah rangkaian ekivalen transistor dengan menggunakan parameter h.
(6) Tuliskanlah rumus-rumus pada transistor bagi penguatan arus, penguatan tegangan,
impedansi input, dan impedansi output.
(7) Buatlah contoh aplikasi rangkaian transistor yang berfungsi sebagai saklar.

15
 PERCOBAAN III
JUNCTION FIELD-EFFECT TRANSISTOR (JFET)

3.1. Percobaan Pengetesan JFET

Tujuan

Untuk menunjukkan suatu metode praktis pengetesan JFET dengan menggunakan

ohmmeter.

Teori Singkat
Untuk tujuan pengetesan dengan ohmmeter. JFET kanal-N sama dengan dioda yang
katodanya dihubungkan kepertengahan dari tahanan, seperti ditunjukkan pada gambar Tahanan
dari kanal kira-kira sama tanpa memandang polaritas hubungan kawat ohmmeter dari source ke
drain. Dengan kawat positif pada gate, akan terbaca suatu tahanan yang rendah jika kawat negatif
ditempatkan pada source atau dram. Tahanan akan terbaca tak terhingga bila kawat negatif pada
gate dan kawat positif ditempatkan pada source atau drain. Prosedur yang sama digunakan untuk
JFET kanal-P, kecuali bahwa dioda dihubungkan ke tahanan dan polaritas ohmmeter dibalik.

Peralatan
 Multitester analog
 JFET kanal N tipe 2N3819

16
Prosedur Percobaan
(1) Set ohmmeter pada skala pertengahan.
(2) Lakukan pengukuran seperti gambar (a).
(3) Lakukan pengukuran seperti gambar (b).

Data Percobaan
G D R G S R D S R
+ - + - + -
- + - + - +

3.2. Percobaan Cara Kerja JFET

Tujuan
Untuk menunjukkan bagaimana membuat JFET bekerja atau tidak bekerja dan bagaimana
mengetahui kondisi ini dengan tegangan yang ada pada drain.

Teori Singkat
Dengan mengacu pada gambar rangkaian percobaan, jika saklar S1 dalam posisi A, VGS =
0 V dan JFET akan bekerja (dalam kondisi on atau konduksi). Tegangan pada drain akan sangat
rendah. Jika saklar ditempatkan pada posisi B, VGS = -3V dan JFET tidak bekerja (dalam kondisi
off atau tidak konduksi). Tegangan pada drain akan sama dengan +VDD.

Peralatan
 Catu daya
 Voltmeter
 Resistor 10 kΩ dan 1 M
 JFET tipe 2N3819 atau sejenisnya
 Saklar SPDT

17
Rangkaian Percobaan

Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar
(2) Buat saklar S1 pada posisi A
(3) Ukur VG dan catat pada tabel data
(4) Ukur VD dan cata pada tabel data
(5) Tuliskan kondisi JFET dalam tabel apakah on atau off
(6) Pindahkan S1 keposisi B
(7) Ukur VG dan catat pada tabel data
(8) Ukur VD dan cata pada tabel data
(9) Tuliskan kondisi JFET dalam tabel apakah on atau off
(10) Hitunglah ID pendekatan dengan rumus
ID = VRD / RD = ( +VDD – VD(on) ) / RD

Data Percobaan
Posisi saklar VG VD Kondisi JFET (on atau off)
A
B

18
3.3. Percobaan Karakteristik Arus dan Tegangan JFET

Tujuan
Untuk menunjukkan bagaimana VGS memiliki pengaruh yang lebih besar terhadap ID
dibandingkan tegangan pada drain-source (VDS), dan untuk membuat grafik kurva karakteristik
output untuk lebih memahami cara kerja JFET.

Teori Singkat
Percobaan ini memerlukn tegangan positif variable untuk VDS dan tegangan negatif untuk
VGS. Pertama sekali, VGS diset pada nilai yang diberikan, kemudian VDS dinaikkan sesuai dengan
data input percobaan, sementara ID diukur dan dicatat. Prosedur ini diulangi untuk beberapa nilai
VGS sampai tabel data lengkap. Data kemudian digambarkan pada grafik yang menunjukkan
hubungan VGS dan VDS terhadap ID.

Peralatan
 Catu daya ganda  20 V
 Voltmeter
 Ammeter
 JFET tipe 2N3819 atau sejenisnya
 Potensiometer 10 kΩ

Rangkaian Percobaan

19
Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar
(2) Atur RG untuk pembacaan VGS = 0 V
(3) Atur catu daya positif untuk VDS = 1 V
(4) Ukur ID dan catat nilainya pada tabel
(5) Naikkan VDS ke nilai berikutnya dalam tabel data
(6) Ukur ID dan catat nilainya pada tabel
(7) Ulangi langkah (5) dan (6) untuk nilai VDS yang diberikan dalam tabel data +20 V
(8) Atur catu daya positif yang variable ke 0 V
(9) Atur RG intuk nilai VGS berikutnya yang diberikan dalam tabel
(10) Ulangi langkah (3) sampai (8) untuk melengkapi pembacaan ID
(11) Lanjutkan prosedur menaikkan VGS dan VDS sambil mengukur dan mencatat ID untuk
nilai=nilai yang diberikan dalam tabel.
(12) Gunakan data yang diperoleh untuk membuat kurva karakteristik I-V.

Data Percobaan
VDS
VGS
0 1 2 3 4 5 10 15 20
0
-0.5
-1.0
-1.5
-2.0
-2.5
-3.0

Pertanyaan dan Tugas

1. Buatlah grafik ID vs VDS untuk masing-masing VGS yang diberikan
2. Bila tegangan VGS dinaikkan, maka ID = …………
3. Bila VGS dinaikkan, bagaimana pengaruhnya terhadap arus ID ?
4. Tegangan mempunyai pengaruh yang lebih besar terhadap …………dibanding………….
5. Dari grafik, jika VGS = -1,5 V dan VDS +10 V, maka ID = …………………….mA.
20
3.4. Percobaan Common-Source Amplifier

Tujuan
Untuk menunjukkan bagaimana JFET digunakan dalam suatu konfigurasi penguat
common-source, dan untuk memahami beberapa karakteristiknya.

Teori Singkat
Rangkaian inimenerima input dari gate dan outputnya diambil dari drain. Dalam
persinyalannya, source dihubungkan ke input dan outputnya. Rangkaian ini miripi dengan
rangkaian penguat common-emitter pada transistor bipolar. Rangkaian ini terutama dipakai
sebagai penguat tegangan atau saklar.

Peralatan
 Catu daya
 Voltmeter
 Osiloskop
 Generator Sinyal
 JFET 2N3819
 Beberapa resistor dan kapasitor

Rangkaian Percobaan

21
Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar.
(2) Sebelum menghubungkan generator sinyal, ukur tegangan kerja DC, antara lain VD , VG, VS,
dan VGS dan catat hasilnya.
(3) Hubungkan generator sinyal ke input dan set untuk 1 kHz dengan amplitudo 0.5 V p-p
(4) Gunakan osiloskop pada input (gate ke ground) untuk mengukur tegangan input
(5) Gambar sinyal input
(6) Dengan osiloskop, ukur tegangan output (Vout) pada CD ke ground
(7) Gambar sinyal output
(8) Hitung penguatan tegangan dari penguat dari rumus Av = vout / vm

Pertanyaan dan Tugas

(1) Sebutkan beberapa karakteristik dari penguat common-source
(2) Jelaskan hubungan fasa sinyal input dengan fase sinyal output

3.5. Percobaan Common-Drain (Source-Follower) Amplifier

Tujuan
Untuk menunjukkan bagaimana JFET digunakan dalam suatu konfigurasi penguat
common-drain, dan untuk memahami beberapa karakteristiknya.

Teori Singkat
Pada penguat common-drain, drain dihubungkan langsung ke VDD. Sinyal input adalah
basis dan sinyal output diambil dari source. Cara kerjanya sama dengan penguat common-
collector transistor bipolar dan penguatannya kurang dari 1.

22
Peralatan
 Catau daya 12 V
 Voltmeter
 Osiloskop
 Generator sinyal
 JFET 2N3819
 Beberapa resistor dan kapasitor

Rangkaian Percobaan

Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar.
(2) Sebelum menghubungkan generator sinyal, ukur tegangan kerja DC, antara lain VD , VG, VS,
dan VGS dan catat hasilnya.
(3) Hubungkan generator sinyal ke input dan set untuk 1 kHz dengan amplitudo 0.5 V p-p
(4) Gunakan osiloskop pada input (gate ke ground) untuk mengukur tegangan input
(5) Gambar sinyal input
(6) Dengan osiloskop, ukur tegangan output (Vout) pada CD ke ground
(7) Gambar sinyal output
(8) Hitung penguatan tegangan dari penguat dari rumus Av = vout / vm

Pertanyaan dan Tugas

(1) Sebutkan beberapa karakteristik dari penguat common-drain.
(2) Jelaskan hubungan fasa sinyal input dengan fase sinyal output.
(3) Sebutkan penggunaan dari peguat common-drain.
23
 PERCOBAAN IV
OPERATIONAL AMPLIFIER (OP-AMP)

4.1. Percobaan Basic Op-Amp Operation

Tujuan
Untuk menunjukkan prinsip kerja op amp dan memahami rangkaian komparator.

Teori Singkat
Polaritas tegangan pada output dari op amp bergantung pada hubungan polaritas antara
tegangan-tegangan pada inputnya. Jika inverting input (-) lebih positif dibandingkan noninverting
input (+), output akan negatif dan jika input (-) lebih negative dibandingkan input (+), output
akan positif tanpa lintasan umpan balik (feedback), output akan berharga +Vsat atau -Vsat.

Peralatan
 Catu daya ganda 12 V
 Voltmeter
 Op amp 741
 Resistor 10 kΩ

Rangkaian Percobaan

24
Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar
(2) Set tegangan input V1 dan V2 sesuai dengan table data yang ditentukan
(3) Catat Vout dalam table data, dengan menunjukkan polaritasnya
(4) Ulangi langkah (2) dan (3) untuk berbagai nilai V1 dan V2

Data Percobaan
V1 (V)
V1 (V)
Vout (V)

4.2. Percobaan Op-Amp Inverting Amplifier

Tujuan
Untuk menunjukkan cara kerja op-amp inverting amplifier dengan tegangan DC dan AC
dan dapat menghitung penguatan dari rangkaian.

Teori Singkat
Inverting amplifier seperti dalam gambar rangkaian percobaan berikut terutama terdiri
dari resistor Rm , RF , Rn ,dan RL. penguatan rangkaian dapat dihitung dengan rumus Av = - RF /
Rm (dengan tanda minus hanya menunjukkan bahwa polaritas tegangan output berlawanan
dengan polaritas tegangan input) atau dapat dicari dengan Av = - Vout / Vin. Resistor Rn digunkan
untuk mengurangi arus bias offset dan sama dengan nilai Rin dan RF secara parallel. Junction
antara Rin dan RF pada input (-) kira-kira sama tegangannya dengan input (+) dan disebut virtual
ground. Impedansi input biasanya sama dengan Rin.
Jika inverting amplifier digunakan untuyk sinyal-sinyal AC, kapasitor digunakan untuk
menghalangi tegangan DC dari rangkaian yang dapat menyebabkan distorsi. Respons frekuensi

25
rangkaian op-amp bergantung pada penguatannya. Makin rendah penguatan, makin lebar respons
frekuensi.

Peralatan
 Catu daya polaritas ganda 12 V
 Voltmeter
 Osiloskop
 Generator sinyal AC
 Op-amp 741
 Resistor 4.7 kΩ, 6.8 kΩ, 10 kΩ, 22kΩ, 47 kΩ, 100 kΩ
 Kapasitor 1 μF, 25 V

Rangkaian Percobaan

(a)

(b)

26
Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar ( a ) dengan menggunakan nilai Rm dan RF sesuai dengan
tabel data percobaan.
(2) Dengan voltmeter, set Vm sesuai dengan tabel data.
(3) Dengan voltmeter, ukur dan catat Vout dalam tabel data.
(4) Hitung penguatan rangkaian dari rumus Av = -RF Rm dan catat dalam tabel data.
(5) Hitung penguatan rangkaian dari rumus Av = -Vout Vm dan catat dalam tabel data.
(6) Ulangi langkah ( 2 ) sampai ( 5 ) untuk semua nilai Rm dan RF yang diberikan dalam tabel
data.
(7) Buat rangkaian seperti gambar ( b ) dengan menggunakan RF = 100 kΩ
(8) Dengan osiloskop, set generator sinyal untuk Vm ke frekuensi yang diberikan dalam tabel
data ( dengan mempertahankan tegangan input pada 1 V p-p ).
(9) Dengan osiloskop, ukur dan catat vout dalam tabel data.
(10) Hitung penguatan dengan menggunakan rumus Av = vout / vm.
(11) Ulangi langkah ( 9 ) sampai ( 10 ) untuk berbagai frekuensi vm yang diberikan dalam tabel
data.
(12) Ganti RF menjadi 47 kΩ dan ulangi langkah ( 8 ) sampai ( 11 ).
(13) Dengan menggunakan hasil-hasil dari tabel data, gambarkanlah kurva respons frekunsi
untuk kedua rangkaian penguat.

Data Percobaan
Rin (kΩ) RF (kΩ) Vin Vout Av = -RF/Rin A = -Vout/Vin
10 47 +1
10 100 +1
10 22 +1
4.7 47 -1
22 47 -1
10 47 -1

27
 Vin = 1 V p-p RF = 100 kΩ RF = 47 kΩ
fin (Hz) vout (V p-p) Av = vout / vin vout (V p-p) Av = vout / vin
10 47 +1
10 100 +1
10 22 +1
4.7 47 -1
22 47 -1
10 47 -1

4.3. Percobaan Op-Amp Noninverting Amplifier

Tujuan
Untuk menunjukkan cara kerja op-amp noninverting amplifier dengan tegangan AC dan
DC, dan untuk mempelajari cara menghitung penguatan dari rangkaian.

Teori Singkat
Noninverting amplifier seperti dalam gambar rangkaian percobaan berikut terutama terdiri
dari resistor Rm , RF , Rn , dan RL. Penguatan rangkaian dapat dihitung dengan rumus
Av = RF / Rm + 1 atau Av = Vout / Vm
Jika noninverting amplifier digunakan untuk menghalangi tegangan DC dari rangkaian
yang dapat menyebabkan distorsi. Meskipun tegangan input berubah, penguatan dari penguat ini
tetap sama. Noninverting amplifier digunakan untuk impedansi input yang tinggi, dengan Rm
tidak dapat dibuat lebih besar, sebab mempengaruhi penguatan rangkaian dan mengakibatkan
noise yang lebih banyak.

Peralatan
Sama dengan pada Percobaan Op-Amp Inverting Amplifier.

28
Rangkaian Percobaan

(a)

(b)

Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar ( a ) dengan menggunakan nilai Rm dan RF sesuai dengan
tabel data percobaan.
(2) Dengan voltmeter, set Vm sesuai dengan tabel data.
(3) Dengan voltmeter, ukur dan catat Vout dalam tabel data.
(4) Hitung penguatan rangkaian dari rumus Av = -RF /Rin +1 dan catat dalam tabel data.
(5) Hitung penguatan rangkaian dari rumus Av = -Vout / Vm dan catat dalam tabel data.
(6) Ulangi langkah ( 2 ) sampai ( 5 ) untuk semua nilai Rm dan RF yang diberikan dalam tabel
data.
(7) Buat rangkaian seperti gambar ( b ).
(8) Hitung penguatan dengan menggunakan rumus Av = -RF /Rin +1 dan catat dalam tabel data.

29
(9) Dengan osiloskop, set generator sinyal untuk vm (V p-p) ke frekuensi yang diberikan dalam
tabel data.
(10) Dengan osiloskop, ukur dan catat vout dalam tabel data.
(11) Hitung vout dengan rumus vout = Av . vm dan catat dalam tabel data.
(12) Ulangi langkah ( 10 ) sampai ( 11 ) untuk berbagai amplitudo dari vm yang diberikan dalam
tabel data.

Data Percobaan
Rin (kΩ) RF (kΩ) Vin Vout Av = -RF/Rin A = -Vout/Vin
10 47 +1
10 100 +1
10 22 +1
4.7 47 -1
22 47 -1
10 47 -1

vin (V p-p) vout (diukur) vout (dihitung)

0.1
0.2
0.5
1.0
1.5

Pertanyaan dan Tugas

(1) Jelaskan beberapa karakteristik op-amp 741.
(2) Buatlah rangkaian sederhana aplikasi op-amp sebagai (summing amplifier, voltage-level
detector, dan square-wave generator.

30
4.4. Percobaan Filter Aktif

Tujuan
Untuk memahami penggunaan op-amp sebagai filter aktif.

Teori Singkat
Salah satu pengguna dari op-amp adalah sebagai filter aktif. Rangkaian filter adalah
rangkaian yang tugas utamanya adalah menyaring sinyal dengan frekuensi yang diiginkan. Pada
percobaan ini akan dicoba dua jenis filter aktif, yaitu low-pass filter dan high-pass filter.

Peralatan
 Catu daya polaritas ganda  15 V
 Voltmeter
 Generator sinyal AC
 Osiloskop
 Op-Amp 741
 Beberapa resistor dan kapasitor

Rangkaian Percobaan

(a)

31
 (b)

Prosedur percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar (a).
(2) Dengan osiloskop, set tegangan input vin pada I V p-p.
(3) Atur frekuensi sinyal input sesuai dengan tabel data percobaan, kemudian ukur tegangan
output vout dengan osiloskop dengan mempertahankan amplitudo sinyal input tetap 1 V p-p.
(4) Hitung penguatan tegangan dengan rumus Av = vout / vin.
(5) Ulangi langkah (3) dan (4) untuk semua input dat percobaan.
(6) Buat rangkaian seperti gambar (b).
(7) Ulangi langkah (2) sampai (5).

Data Percobaan
a. High-Pass Filter
vin = 1 V p-p
Fin (Hz) Vout (V) A = vout / vin
100
1k
10 k
100 k
200 k
1M

32
b. Low-Pass Filter
vin = 1 V p-p
Fin (Hz) Vout (V) A = vout / vin
100
1k
10 k
100 k
200 k
1M

Pertanyaan dan Tugas

(1) Jelaskan pengertian high-pass filter, low-pass filter, dan band-pass filter.
(2) Apakah yang dimaksud dengan frekuensi cut-off?
(3) Buatlah grafik penguatan tegangan Av terhadap frekuensi fin untuk high-pass filter dan low-
pass filter dalam kertas semilog.

33
 PERCOBAAN V
SILICON-CONTROLLED RECTIFIER (SCR)

5.1. Percobaan Pengetesan SCR dengan Ohmmeter

Tujuan
Untuk menunjukkan suatu metode praktis pengetesan SCR dengan ohmmeter.

Teori Singkat
PN junction dari gate ke katoda dari SCR dapat dites dengan ohmmeter seperti pada dioda
yang biasa. Namun, pengetesan dari anoda ke gate tidak akan menunjukkan apakah SCR bekerja
dengan baik, karena salah satu PN junction-nya akan selalu dibias reverse. SCR dapat dites
dengan ohmmeter dengan menempatkan kawat positif pada anoda dan kawat negatif pada katoda
dengan gate dibiarkan terbuka. Ohmmeter akan membaca tahanan yang tinggi atau tak terhingga.
Dengan memasang kabel penghubung dari anoda atau kawat positif dari ohmmeter ke gate akan
men-trigger SCR dan ohmmeter akan menunjukkan tahanan yang rendah jika catu daya cukup
untuk menghasilkan arus holding yang dihubungkan.

Peralatan
 Ohmmeter
 Satu atau beberapa SCR
 Kabel penghubung

34
Rangkaian Percobaan

(a) (b) (c)

Prosedur Percobaan
(1) Set ohmmeter ke skala pertengahan.
(2) Hubungkan kabel penghubung seperti gambar (a), dan catat hasil pembacaannya.
(3) Hubungkan kabel penghubung seperti gambar (b), dan catat hasil pembacaannya.
(4) Hubungkan kabel penghubung seperti gambar (c), dan catat hasil pembacaannya.

5.2. Percobaan Karakteristik SCR dengan Sumber Tegangan Searah

Tujuan
Untuk menunjukkan metode bekerja (turn-on) dan tidak bekerjanya (turn-off) untuk SCR.

Teori Singkat
Agar konduksi, SCR harus memiliki anoda yang lebih positif daripada katoda. Jika
tegangan gate dibuat lebih positif daripada katodanya, SCR akan bekerja atau menyala dan arus
mengalir dari anoda ke katoda. Bila tegangan gate dibuat sama dengan atau lebih
negatif’daripada katoda, arus akan terus mengalir melalui SCR. SCR dapat dibuat tidak bekerja
atau di-reset dengan cara mengurangi arus yang mengalir melaluinya di bawah arus holding.

35
Peralatan
o Catu daya AC 12 V
o Ammeter
o Osiloskop
o SCR
o Potensiometer
o Dioda
o Beberapa resistor

Rangkaian Percobaan

Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar.
(2) Mula-mula atur tegangan catu daya ke harga minimum.
(3) Buat saklar S1 dalam keadaan terbuka.
(4) Tutup saklar S1 dan atur IG untuk harga yang ditentukan.
(5) Amati bentuk gelombang yang dihasilkan pada osiloskop dan catat tegangan anoda-katoda
(VAK).
(6) Naikkan harga tegangan catu daya sampai terjadi konduksi pada SCR.
(7) Turunkan tegangan catu daya, sampai tercapai arus minimum pada saat SCr masih konduksi,
dan catat arus holding (IH) dan tegangannya (VH).
(8) Untuk memutuskan konduksi yang terjadi, bukalah saklar S1.

36
5.3. Percobaan Karakteristik SCR dengan Sumber Tegangan Bolak-Balik

Tujuan
Untuk sumber tegangan bolak-balik, SCR akan bekerja bergantung pada sudut penyalaan
yang mempunyai batas 00 sampai 900. Sudut ini diperoleh denganb mengatur arus Ia yang
mengalir pada gate.

Teori Singkat
Dengan sumber tegangan bolak balik, SCR akan bekerj bergantung pada sudut penyalaan
yang mempunyai batas dari 00 sampai 900. Sudut ini diperoleh dengan mengatur arus IG yang
mengalir pada gate.

Peralatan
o Catu daya AC 12 V
o Ammeter
o Osiloskop
o SCR
o Potensiometer
o Dioda
o Beberapa resistor

Rangkaian Percobaan

37
Prosedur Percobaan
(1) Buat rangkaian seperti gambar.
(2) Atur tegangan gate dengan mengatur potensiometer untuk mendapatkan satu sudut
penyalaan.
(3) Baca arus gate (Ia) dan tegangan anoda-katoda (VAK).
(4) Amati bentuk gelombang yang dihasilkan pada osiloskop.

5.4. Percobaan Aplikasi SCR

Tujuan
Untuk memahami salah satu aplikasi SCR sebagai saklar pengendali peralatan.

Peralatan
 Catu daya
 SCR
 Potensiometer 1kΩ
 Resistor 100 Ω, 470 Ω, dan 1,5 kΩ
 LED
 Saklar on-off

Rangkaian Percobaan

38
Prosedur Percobaan
(1) Tutup saklar S1 dan S2.
(2) Perhatikanlah apakah LED menyala.
(3) Ubah-ubah besar tahanan potensiometer VR sampai LED menyala dengan terang.
(4) Buka saklar S2, dan perhatikanlah apakah LED masih menyala.
(5) Tutup saklar S3, dan perhatikanlah apakah LED masih menyala.
(6) Buka saklar S3, dan perhatikanlah apakah LED masih menyala.

39
 PERCOBAAN VI
OSILATOR

6.1. Osilator Colpitts

Tujuan
Untuk mengetahui prinsip kerja dan kegunaan dari osilator Colpitts.

Teori Singkat
Osilator adalah suatu rangkaian yang mengembalikan sebagian dari outputnya. Output
dari osilator memiliki fasa yang sama dengan inputnya. Besar penguatan tegangannya adalah A =
vout / vin . Sebagian besar outputnya dikembalikan ke input melalui rangkaian feedback.
Syarat terjadinya osilasi adalah sebagai berikut:
 Harus ada tegangan awal.
 Harus ada tegangan output ke input.
 Tegangan yang dikembalikan ke input harus sefasa dengan tegangan awal.
Pada osilator Colpitts, rangakaian resonansi yang menyebakan terjadinya osilasi terdiri
dari rangkaian LC dan frekuensi resonansi yang dihasilkan adalah:
1
f 
2 LC

Peralatan Percobaan
 Catu daya 12 V
 Osiloskop
 Transistor
 Potensiometer
 Resistor
 Tiga buah induktor
 Dua buah kapasitor

40
Rangkaian Percobaan

41