Anda di halaman 1dari 8

ANALISA XRD ( X-Ray Difraction )

Pada karakterisasi material dengan menggunakan XRD memiliki tujuan untuk mengidentifikasi fasa Kristal serta untuk mengetahui ukuran partikel dari suatu material. Dari suatu data hasil difraksi sinar X diperoleh grafik dengan menggunakan softwere Search-Match diketahui bahwa material tersebut merupakan Yttrium Zirconium Oxide yang pada saat pengujian difraksi sinar X memiliki dua system Kristal yaitu system Kristal Tetragonal dan system Kristal kubik.

Sistem Kristal Tetragonal

Puncak tertinggi 1 3 2

Jarak Antar Bidang


dhkl =ah2+k2+l2a2c2 =3.61112+02+12x3.61125.16752 =2.959928

Sudut Difraksi 2dhkl Sin = n n = 1, = 1.54056

2 x 2.959928 Sin 1.54056 = Sin = 1.540565.1919856 Sin = 0.260236 = 15.084 0 Diameter Kristal
B=FWHM180x3.14 =0.1481180x 3.14 =2.5835 x 10-3 D=0.9 B Cos
0

=0.9x1.540562.5835 x 10-3 Cos 15.084

= 555.8274 Sistem Kristal Cubic

Puncak tertinggi 1

Puncak tertinggi 2

Puncak tertinggi 3

Jarak Antar Bidang


dhkl =ah2+k2+l2 =5.13912+12+12 =2.9670

Sudut Difraksi n = 1, = 1.54056

2dhkl Sin = n

2 x 2.9670 Sin = 1.54056 Sin = 1.540565.9340 Sin = 0.2596 = 15.0463 0

Diameter Kristal
B=FWHM180x3.14

=0.1995180x 3.14 =3.48017 x 10-3 D=0.9 B Cos


0

=0.9x1.540563.48017 x 10-3 Cos 15.084

= 412.61783

Perbandingan Intensitas Fasa ZrO2 kubik dengan fasa ZrO2 tetragonal


Intensitas CubicIntensitas Tetragonal=X100% 664.91000=x100%

0.6649 = x100% X = 66.49 %