Mode Difraksi dalam TEM

Apertures

Condenser aperture

Objective aperture
Selected area aperture
 Guna dari apertures
Condenser aperture:
Membatasi jumlah elektron yang menumbuk sampel
(reducing the intensity), Mempengaruhi diameter dari
discs pada pola difraksi elektron.
Selected area aperture:
Hanya elektron melalui area tertentu pada sampel yang
diizinkan yang dibatasi oleh aperture SAD yang
memberikan kontribusi pada pola difraksi

Objective aperture:
Hanya refleksi tertentu yang diizinkan untuk
mengasilkan bayangan , sehingga dapat
menambah
A.E. Gunnæs
atau meningkatkan
MENA3100 V13
kontras pada image
 Diagram perjalanan berkas
c
b
a

elektron

Si Berkas elektron datang ( Parallel)

3,8 Å
Sampel
1,1 nm
Pow derCell 2.0

Lensa Objective

Objective aperture Bidang Diffraction

(back focal plane)

Selected area Image/bayangan

aperture
Objective aperture: Penguatan Contrast
Si Ag and Pb hole

glue
(light elements)

Tidak menggunakan aperture Sinar central dipilih

Intensitas:
Ketergantungan dari ketebalan dan
kerapatan dari sampel
Mass-thickness contrast
 Sumber sumber dari contrast

Diffraction contrast – beberapa butiran

akan mendifraksi sinar lebih kuat dari
yang lain; defects dapat mempengaruhi
difraksi

Mass-thickness contrast - absorption/

scattering. Area yang tebal atau Z
besar maka bayangan terlihat gelap
Mass-thickness contrast dalam TEM
Hamburan elestis Incoherent
(Rutherford scattering)
Ketregantungan antara t dan Z

Area dengan Z besar dan ketebalan

menghamburkan lebih elektron lebih kuat
(in total).

Variabel TEM variablesyang

mempegaruhi contrast adalah :
- Ukuran dari apertur objective
Williams and Carter, TEM, Part 3
Springer 2009
- Tegangan operasi dari TEM.
Bright field imaging
Hanya sinar utama yang digunakan. Aperture
berada dibelakang bidang focal sehingga dapat
mem-block sinat terdifraksi

Image contrast disebabkan oleh pengurangan

intesitas dari sinar utama dengan difraksi
Dark field imaging
Dark field
menggunakan
sinar
terdifraksi
dengan cara
memindahkan
aperture ke
sinar
terdifraksi
memiringkan
sinar datang
(tilt incident
beam)
 Thickness fringes
bright and dark field images

Sample Sample

BF image DF image
Dark field imaging
Dark field menggunakan sinar terdifraksi
dengan cara memindahkan aperture ke sinar
terdifraksi memiringkan sinar datang
(tilt incident beam)

strain field contrast

Lattice imaging
Menggunakan banyak
sinar terdifraksi

Sedikit off-focus

Diperlukan daerah
dalam sampel yg
sangat tipis

Diperlukan peletakan
sampel yang tepat
Contoh –Contoh

M23X6 (figure at top

left).

L21 type '-Ni2AlTi

(figure at top center).

L12 type twinned '-

Ni3Al (figure at bottom
center).

L10 type twinned NiAl

martensite (figure at
bottom right).
TEM - transmission electron microscopy
Difraksi
Gunakan Hukum Bragg - n  = 2d
sin 

Tetapi sangat kecil yaitu

(0.0251Å pada tegangan 200kV)

2 ≈ sin 2 = R/L

sampel

 = 2d sin  ≈ d
(2)

R/L = /d
image plane
L adalah "camera length"
Rd = L
L adalah "camera constant"
TEM - transmission electron microscopy

Diffraction

Get pattern of spots around transmitted beam from one grain (crystal)
Symmetry dari pola difraksi mencerminkan symmetry
dari kristal disekeliling arah sinar

Contoh :
6-fold in hexagonal, 3-fold in cubic

[111] in cubic [001] in hexagonal

 Difraksi

Cr23C6 - F cubic Ni2AlTi - P cubic

a = 10.659 Å a = 2.92 Å
 Meng-Indek Pola Difraksi
Elektron

Mengukur nilai R untuk 3 cincin refleksi

Meng-Indek Pola Difraksi Elektron
 Meng-Indek Pola Difraksi
Elektron

Index other reflections by vector sums, differences

Next find zone axis from cross product of any two (hkl)s

(202) x (220) ——> [444] ——> [111]

TEM - transmission electron microscopy

Indexing electron diffraction patterns

Find crystal system, lattice parameters, index pattern, find zone axis

ACTF!!! Note symmetry - if cubic, what

direction has this symmetry (mm2)?

Reciprocal lattice unit cell

for cubic lattice is a cube
 Mengapa kita perlu meng-indek
pola difraksi elektron ?

1. Mendeteksi epitaxy
2. Hubungan Orientasi pada grain
boundaries
3. Hubungan orientasi antara matrix &
precipitates
4. Menentukan arah dari penumbuhan
(growth) yang cepat
Daerah Polycrystalline

polycrystalline BaTiO3
spotty Debye rings
 Meng-Indek Pola Difraksi Elektron
Daerah Polycrystalline
Sama seperti sinar-x – cincin paling kecil – paling rendah  - paling besar d

Hafnium ( 铪 )
 Meng-Indek Pola Difraksi Elektron

Membantu kita untuk mendapatkan ide tentang fase apa yang

terdapat dalam sampel

Nilai d- tidak seteliti hasil sinar-x kenapa ?

Ketidak nampakan sistematik dari pusat kisis dan

simetry transalasi lainnya memiliki sifat yang sam
dengan sinar-x

Informasi Intensitas sulit untuk diinterpretasi