Laporan XRD PDF
Laporan XRD PDF
Oleh:
Jurusan Fisika
Surakarta
2012
I. Pendahuluan
Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895.
Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar-X digunakan untuk
tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Disamping
itu, sinar-X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang
dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Pada waktu suatu
material dikenai sinar-X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari
intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga
penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar-X yang
dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada
juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinar -X yang saling
menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merupakan
perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar-X
yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Sinar-X dihasilkan dari
tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam target.
Dari prinsip dasar ini, maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan
prinsip dari Hukum Bragg ini. XRD merupakan salah satu alat yang memanfaatkan
prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan
paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa
kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk
mendapatkan ukuran partikel. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus, homogenized,
dan rata-rata komposisi massal ditentukan
II. Pembahasan
2.1 Pembangkit Sinar-X
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200
eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal dengan
elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki panjang gelombang 10-5 – 10 nm,
berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki energi 103 -106 eV. Panjang gelombang sinar-X
memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber
difraksi kristal.
Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam
target. Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar-X harus terdiri dari
beberapa komponen utama, yaitu :
a. Sumber elektron (katoda)
b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron
c. Logam target (anoda)
Ketiga komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar-X. Skema tabung
sinar-X dapat dilihat pada gambar 2.1.
dengan d merupakn jarak anatara 2 bidang pantul yang berdekatan dan θ sudut antar sinar
datang dan sinar pantul. Dari kedua persamaan diatas dapat disubstitusikan sehingga
diperoleh persamaan
2𝑑(1−𝑐𝑜𝑠 2 𝜃)
V= = 2𝑑 𝑠𝑖𝑛𝜃
𝑠𝑖𝑛𝜃
(d)
Gambar 2.4 Seperangkat alat XRD (a) komputer (b) tabung XRD (c) cooler
(d) difractometer XRD
(a) (b)
Gambar 2.5 (a), (b) Difractometer sinar-X model lama
III. Penutup
Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu metoda
karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik
ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
Kegunaan dan aplikasi :
1. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf
2. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
3. Karakterisasi material Kristal
4. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
5. Penentuan dimensi-dimensi sel satuan
Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:
1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film
Keuntungan dan Kerugian dari XRD untuk sampel kristal dan serbuk
a. Kristal Tunggal:
Keuntungan : Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
Kerugian : Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
b. Bubuk:
Keuntungan : Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk
Kerugian : Sulit untuk menentukan strukturnya
DAFTAR PUSTAKA
Handono, A., Harjana. 2004. Fisika Zat Padat I. Jurusan Fisika UNS: Surakarta.
Irvina, F., Astuti, D.W., Fatimah, Luthfiana, N.H., Maharani, R., Maestuti, N., dan
Widhyastuti, Y . 2009. X-Ray Difractometer (XRD). Jurusan Teknik Kimia UNS:
Surakarta.
I.chorkendroff, J.W. Niemantsverdiet. Concepts of Modern Catalysis and Kinetics.
Wliey-VCH GmbH&Co. New York. 2003. Hal 143 -147.
Masriyanti. 2012. Prinsip-prinsip Spektroskopi.
http://ardiannisworld.blogspot.com/2008/01/difraksi-neutron_31.htm
http://www.chem-is-try.org/
http://labinfo.files.wordpress.com
http://serc.carleton.edu/