MAKALAH

“ Spektofotometri SEM dan TEM“

Disusun oleh :
Kelompok V

1. Vrilly Laturake 5. Syamsudin Kelutur

2. Nadila Arumdani 6. Nabila kurniawati
3. Anisa muges 7. Rani S Yanglera
4. Priskila Y Ritiauw 8. Ika sri wahyuningsih

PROGRAM STUDI FARMASI

SEKOLAH TINGGI ILMU KESEHATAN (STIKes)
MALUKU HUSADA
KAIRATU
2022
 KATA PENGANTAR

Puji syukur penulis panjatkan kehadirat Tuhan Yang Maha Esa, yang telah
memberikan penulis nikmat yang begitu banyak salah satunya nikmatnya berupa nikmat
kesehatan sehingga kami dapat menyelesaikan makalah ini dengan tepat waktu. Tak lupa pula
penulis ucapkan terima kasih kepada Dosen Pembimbing yang telah membimbing penulis
dalam pembuatan makalah ini sehingga dapat selesai sesuai dalam waktu yang telah
ditentukan.
Adapun judul makalah yang penulis buat yaitu “Spektofotometri SEM dan TEM”.
Semoga dengan adanya makalah ini penulis dapat memberikan informasi kepada pembaca,
menambah wawasan ilmu pengetahuan serta membuka wawasan dan menginspirasi kepada
para pembaca untuk senantiasa semangat dalam menjalankan tugas-tugas dan memberikan
motivasi dalam belajar.
Penulis juga sadar bahwa dalam penyusunan makalah ini penulis masih terdapat
banyak kekurangan, oleh karena itu demi kesempurnaan makalah ini, saran dan kritik yang
positif sangat penulis harapakan. Terima kasih.

Penulis
Kelompok V
 DAFTAR ISI

COVER
KATA PENGANTAR
DAFTAR ISI

BAB I PENDAHULUAN
a. Latar belakang …………………………………………………………1.1
b. Rumusan masalah...………………………………………………….…1.2
c. Tujuan…………………………………………………………………..1.3

BAB II ISI
a. Pengertian spektrofotometri...….……...……………………………….2.1
b. Defenisi SEM.…………………….….………………………………..2.2
c. Bagian alat SEM….……..…………...….……………………………..2.3
d. Prinsip kerja SEM.....……………...…………………………………..2.4
e. Fungsi utama SEM.……….…………………………………………...2.5
f. Kelebihan dan kekurangan SEM............................................................2.6
g. Defenisi TEM........................................................................................2.7
h. Bagian alat TEM...................................................................................2.8
i. Prinsip kerja TEM..................................................................................2.9
j. Kelebihan dan kekurangan TEM...........................................................2.10

BAB III PENUTUP

a. Kesimpulan……………………………………………………………..3.1
b. Saran……………………………………………………………………3.2

DAFTAR PUSTAKA
 BAB I
PENDAHULUAN

1.1 Latar belakang

Perkembangan teknologi semakin meningkat dengan penemuan-penemuanbaru untuk
mempermudah hidup manusia. Salah satu kemajuan teknologi yangmasih terus berkembang
pesat hingga saat ini adalah perkembangan bidang nanoelektronik dan material fisika
berskala nano. Nanoelektronik merupakanistilah yang digunakan untuk mendefinisikan
nanoteknologi dalam komponen elektronik. Istilah ini mencakup beragam perangkat dan
beragam bahan dengankarakteristik umum berbeda. Karakteristik umum tersebut memiliki
interaksi interatom serta sifat mekanika kuantum yang perlu dipelajari secara lebih luas dan
diaplikasikan di berbagai aplikasi elektronik.
Mikroskop elektron adalah sebuah mikroskop yang mampu untuk melakukan
pembesaran objek sampai 2 juta kali, yang menggunakan elektron statik dan elektro magnetik
untuk mengontrol pencahayaan dan tampilan gambar serta memiliki kemampuan pembesaran
objek serta resolusi yang jauh lebih bagus daripada mikroskop cahaya. Mikroskop elektron
ini menggunakan jauh lebih banyak energi dan radiasi elektromagnetik yang lebih pendek
dibandingkan mikroskop cahaya.. Kekhususan lain dari mikroskop elektron ini adalah
pengamatan obyek dalam kondisi hampa udara (vacum). Hal ini dilakukan karena sinar
elektron akan terhambat alirannya bila menumbuk molekul-molekul yang ada di udara
normal. Dengan membuat ruang pengamatan obyek berkondisi vacum, tumbukan elektron-
molekul bisa terhindarkan.
Selain itu, kemajuan teknologi nano juga telah menyebabkan perbedaan sifat yang
cukup signifikan pada sistem bahan berskala nano (Tan dan Jali, 2012). Karakterisasi
adalah proses yang digunakandalam identifikasi yang dilakukan untuk mengetahui hasil
senyawa kimia yang ingin diketahui hasilnya baik atau tidak untuk digunakan dalam proses
kimia.Analisa selanjutnya adalah menggunakan SEM dan TEM.
Scanning Electron Microscopy (SEM) merupakan sejenis mikroskop yang
menggunakan elektron sebagai pengganti cahaya untuk melihat bendadengan resolusi tinggi.
Analisis SEM digunakan untuk mengetahui porositas danbentuk retakan dalam ukuran yang
sangat kecil pada benda padat. Berkas sinar elektron dihasilkan dari lampu filamen yang
dipanaskan, disebut electron gun. Pada SEM, berkas elektron ditembakan pada permukaan
sampel, sedangkangambarnya didapatkan dari hasil deteksi elektron berdasarkan elektron
sekunder.Elektron sekunder terdapat dipermukaan sampel serta terdapat energi ya sekitar 550
eV. 
Sedangkan elektron yang deteksi elektron berdasarkan elektron sekunderberasal dari
sampel yang lebih dalam dan memberikan gambaran bentuk sampelkarena elektron yang
lebih berat deteksi elektron berdasarkan elektron sekunder secara lebih kuat dan tampak
lebih terang pada gambar yang dihasilkan (Setiabudidkk, 2012).
Transmission Electron Microscope (TEM) merupakan salah satu jeniskarakterisasi
pada analisa struktur morfologi pada kristal maupun materiallainnya. Dalam penggunaanya
transmission electron microscope hampir damadengan fungsi dan penggunaan scanning
electron microscopy (SEM), tetapi perbedaanya ialah penggunaan  lebih spesifik dalam 
karakterisasi sampel karena tem mengidentifikasi sampel dari internal material yang
diidentifikasi. hasil dari morfologi material yang dikarakterisasi dapat diketahui lebih jelas
karena gambar yang didapatkan dilakukan dengan mengnisfikasi yang lebih besar (Wibisono,
2017).

1.2 Rumusan masalah

1. Apa itu SEM dan TEM?
2. Bagaimana prinsip kerja SEM dan TEM ?
3. Bagaimana Kelebihan dan kekurangan SEM dan TEM?

1.3 Tujuan
1. Untuk memahami apa itu SEM dan TEM
2. Untuk mengetahui bagaimana prinsip kerja SEM dan TEM
3. Untuk mengetahui kelebihan dan kekurangan SEM dan TEM
 BAB II
PEMBAHASAN

2.1 Pengertian Spektofotometri

Spektrofotometri merupakan suatu metode untuk analisis struktur kimia kualitatif dan
kuantitatif dibedakan (Funatik, 2006). Spektrofotometri adalah salah satu analisis
instrumental yang berhubungan dengan segala sesuatu tentang interaksi sinar dengan
molekul. Hasil interaksi tersebut dapat menimbulkan satu atau lebih peristiwa seperti
pemantulan, pembiasan, penyerapan, fluoresensi, fosforesensi dan ionisasi. Dalam analisis
karakterisasi zat kimia dalam bahan, peristiwa penyerapan atau absorbsi merupakan dasar
dari metode spektrofotometri karena proses tersebut bersifat spesifik untuk setiap zat kimia.
Spektroskopi adalah ilmu yang mempelajari materi dan atributnya berdasarkan
cahaya, suara atau partikel yang dipancarkan, diserap atau dipantulkan oleh materi tersebut.
Spektroskopi juga dapat didefinisikan sebagai ilmu yang mempelajari interaksi antara cahaya
dan materi. Dalam catatan sejarah, spektroskopi mengacu kepada cabang ilmu dimana
"cahaya tampak" digunakan dalam teori-teori struktur materi serta analisa kualitatif dan
kuantitatif. Dalam masa modern, definisi spektroskopi berkembang seiring teknik-teknik baru
yang dikembangkan untuk memanfaatkan tidak hanya cahaya tampak, tetapi juga bentuk lain
dari radiasi elektromagnetik dan non-elektromagnetik seperti gelombang mikro, gelombang
radio, elektron, fonon, gelombang suara, sinar x dan lain sebagainya.

2.2 Defenisi spektrofotometri SEM (Scanning electron microscopy)

Scanning Electron Microscopy (SEM) merupakan sejenis mikroskop yang menggunakan
elektron sebagai pengganti cahaya untuk melihat benda dengan resolusi tinggi. Analisis SEM
bermanfaat untuk mengetahui mikrostruktur( termasuk porositas dan bentuk retakan) benda
padat. Berkas sinar elektron dihasilkan dari filamen yang dipanaskan, disebut electron gun.
Mikroskop pemindai elektron (Scanning Electron Microscopy-SEM) merupakan
mikroskop elektron yang digunakan untuk studi detil arsitektur permukaan sel (atau struktur
jasad renik lainnya), dan obyek diamati secara tiga dimensi.
Penemu Mikroskop pemindai elektron (Scanning Electron Microscope atau SEM)
tidak diketahui secara pasti. Publikasi pertama kali yang mendiskripsikan teori SEM
dilakukan oleh fisikawan Jerman Dr. Max Knoll pada 1935, meskipun fisikawan Jerman
lainnya Dr. Manfred von Ardenne mengklaim dirinya telah melakukan penelitian suatu
fenomena yang kemudian disebut SEM hingga tahun 1937. Mungkin karena itu, tidak satu
pun dari keduanya mendapatkan hadiah nobel untuk penemuan itu. 
Pada 1942 tiga orang ilmuwan Amerika yaitu Dr. Vladimir Kosma Zworykin, Dr.
James Hillier, dan Dr. Snijder, benar-benar membangun sebuah mikroskop elektron metode
pemindaian (SEM) dengan resolusi hingga 50 nm atau magnifikasi 8.000 kali. Sebagai
perbandingan SEM modern sekarang ini mempunyai resolusi hingga 1 nm atau pembesaran
400.000 kali. Mikroskop elektron cara ini memfokuskan sinar elektron (electron beam) di
permukaan obyek dan mengambil gambarnya dengan mendeteksi elektron yang muncul dari
permukaan obyek.
Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya hanya mampu
mencapai 200nm sedangkan elektron bisa mencapai resolusi sampai 0,1 – 0,2 nm. Dibawah
ini diberikan perbandingan hasil gambar mikroskop cahaya dengan elektron.
 Disamping itu dengan menggunakan elektron kita juga bisa mendapatkan beberapa jenis
pantulan yang berguna untuk keperluan karakterisasi. 
2.3 Bagian alat SEM
a. Komponen SEM
Pada sebuah mikroskop pemindai elektron (SEM) terdapat beberapa peralatan utama antara
lain:

1. Pistol elektron (Electron Gun), menghasilkan partikel-partikel elektron. Elektron gun

memiliki beberapa komponen penting, yaitu filament, sebuah biasing cicuit, sebuah
Wehnelt cap, dan sebuah ekstraksi anoda. 
2. Lensa untuk elektron, berupa lensa magnetis karena elektron yang bermuatan negatif
dapat dibelokkan oleh medan magnet. 
3. Sistem vakum, karena elektron sangat kecil dan ringan maka jika ada molekul udara
yang lain elektron yang berjalan menuju sasaran akan terpencar oleh tumbukan
sebelum mengenai sasaran sehingga menghilangkan molekul udara menjadi sangat
penting. 
 4. Spesimen stage fungsinya seperti meja pada mikroskop yaitu berfungsi untuk
meletakkan objek / preparat. 

2.4 Prinsip kerja SEM

Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop optik
dan TEM. 

1. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron sekunder) atau
elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan sampel
tersebut dipindai dengan sinar electron yang ditembakan oleh pistol elektron. 
2. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat
sinyalnya dan difokuskan ke sampel oleh lensa magnetik, 
3. Sinar elektron yang terfokus memindai (scan) keseluruhan sampel dengan diarahkan
oleh koil pemindai. 
4. kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar
monitor CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang
sudah diperbesar bisa dilihat.
5. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan, sehingga
bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi. 

2.5 Fungsi utama SEM

Adapun fungsi utama dari SEM antara lain dapat digunakan untuk mengetahui informasi-
informasi mengenai:

1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya.

2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek.
3. Komposisi, yaitu data semi kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek.
4. Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di
dalam objek yang diamati.
2.6 Kelebihan dan Kekurangan SEM
• Kelebihan :
 1. Preparasi sampel cepat dan sederhana 
2. Ukuran sampel relatif besar 
3. Rentang perbesaran yang luas, berkisar 3x - 150,000x

• Kekurangan 

1. Dibandingkan dengan TEM, SEM memiliki resolusi yang lebih rendah 

2. Menggunakan vakum 
3. Hanya dapat mengamati bagian permukaan
4. Memerlukan coating dengan Au (Katoda)

2.7 Defenisi TEM (Transmission Electron Microscopy)

Mikroskop transmisi elektron (Transmission Electron Microscope, TEM) adalah
sebuah mikroskop elektron yang cara kerjanya mirip dengan cara kerja proyektor slide, di
mana elektron ditembuskan ke dalam obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil
tembusannya pada layar. Dalam dunia riset, TEM merupakan salah satu mikroskop yang
penting karena menyediakan resolusi yang lebih tinggi dibandingkan SEM (Sanning Electron
Microscope) dan dapat memudahkan analisis ukuran atom dalam jangkauan nanometer
maupun amstrong.
Mikroskop transmisi elektron (Transmission electron microscope-TEM) adalah
sebuah mikroskop elektron yang cara kerjanya mirip dengan cara kerja proyektor slide, di
mana elektron ditembuskan ke dalam obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil
tembusannya pada layar.
Seorang ilmuwan dari universitas Berlin yaitu Dr. Ernst Ruska menggabungkan
penemuan ini dan membangun mikroskop transmisi elektron (TEM) yang pertama pada tahun
1931. Untuk hasil karyanya ini maka dunia ilmu pengetahuan menganugerahinya hadiah
Penghargaan Nobel dalam fisika pada tahun 1986. Mikroskop yang pertama kali
diciptakannya adalah dengan menggunakan dua lensa medan magnet, namun tiga tahun
kemudian ia menyempurnakan karyanya tersebut dengan menambahkan lensa ketiga dan
mendemonstrasikan kinerjanya yang menghasilkan resolusi hingga 100 nanometer (nm) (dua
kali lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa itu).

2.8 Bagian alat TEM

a. Komponen TEM
Pada sebuah mikroskop transmisi elektron (TEM) terdapat beberapa peralatan utama antara
lain:
1. Pistol Elektron (Electron Gun), menghasilkan partikel-partikel elektron. Elektron gun
memiliki beberapa komponen penting, yaitu filament, sebuah biasing cicuit, sebuah
Wehnelt cap, dan sebuah ekstraksi anoda. Elektron dapat diekstraksi dengan
menghubungkan filamen ke komponen power supply negatif, elektron dipompa dari
pistol elektron ke lempeng anoda dan kolom TEM. Pistol dirancang untuk membuat
berkas elektron keluar dari rangkaian dalam beberapa sudut tertentu, yang dikenal
sebagai semiangle perbedaan pistol. 
2. Lensa elektron, dirancang dengan cara meniru lensa optik, dengan memfokuskan sinar
sejajar pada beberapa costal focal length. Mayoritas lensa elektron untuk TEM
menggunakan kumparan elektromagnetik untuk menghasilkan lensa cembung. 
3. Memliki tiga lensa yaitu, lensa objektif, lensa intermediet, dan lensa proyektor. Lensa
obyektif merupakan lensa utama dari TEM karena batas penyimpanganya membatasi
dari resolusi mikroskop[, lensa intermediet sebagai penguat dari lensa objektif, dan
untuk lensa proyektor gunanya untuk menggambarkan pada layar florescent yang
ditangkap oleh film fotografi atau kamera CCD.
4. Ruang vakum, tempat dimana interaksi elektron terjadi. TEM standar mempunyai
tekanan rendah, yaitu sekitar 104 Pa. Hal ini dimaksudkan untuk mengurangi
perbedaan tegangan antara katoda dan latar belakang, dan juga untuk mengurangi
frekuensi tumbukan elektron dengan atom gas. 
5. Spesimen stage, fungsinya seperti meja preparat di mikroskop, yaitu berfungsi untuk
meletakan objek/preparat. Di dalam TEM, spesimen stage ini berupa jaring-jaring
yang bisa disebut dengan ‘grid’. Grid ini biasanya terbuat dari tembaga, molibdenum,
emas, atau platinum. 
6. Aperture, merupakan lingkaran pelat logam yang terdiri dari sebuah cakram logam
kecil yang cukup tebal. Apertures digunakan untuk mengarahkan elektron agar dapat
berjalan secara aksial. Hal ini dapat menyebabkan efek simultan, dimana aperture
dapat mengurangi berkas intensitas dan menghilangkan elektron yang tersebar di
 berbagai sudut tinggi yang mungkin disebabkan oleh proses-proses yang tidak
diinginkan seperti aberasi, atau karena difraksi dari interaksi dalam sampel. 

2.9 Prinsip kerja TEM

Mikroskop transmisi eletron saat ini telah mengalami peningkatan kinerja hingga
mampu menghasilkan resolusi hingga 0,1 nm (atau 1 angstrom) atau sama dengan
pembesaran sampai satu juta kali. Meskipun banyak bidang-bidang ilmu pengetahuan yang
berkembang pesat dengan bantuan mikroskop transmisi elektron ini. 
Adanya persyaratan bahwa "obyek pengamatan harus setipis mungkin" ini kembali
membuat sebagian peneliti tidak terpuaskan, terutama yang memiliki obyek yang tidak dapat
dengan serta merta dipertipis. Karena itu pengembangan metode baru mikroskop elektron
terus dilakukan.

Prinsip kerja dari TEM secara singkat adalah sinar elektron mengiluminasi spesimen dan
menghasilkan sebuah gambar diatas layar pospor. Gambar dilihat sebagai sebuah proyeksi
dari spesimen. Adapun prinsip kerja dari bagian-bagian TEM adalah sebagai berikut:

1. Electron source : Menghasilkan elektron monokromatik.

2. Condensor ions : Memfokuskan berkas elektron.
3. Condensor aperture : Mengurangi intensitas sinar dengan menyaring elektron dari
beam.
4. Objective lens : Memfokuskan berkas.
5. Objective aperture : Meningkatkan Kontras dengan menghalangi difraksi elektron.
6. Projector lens : Memperbesar gambar.
7. Screen : Melihat hasil gambar.

Cara terbentuknya gambar pada TEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop
optik dan SEM, yaitu :

1. Elektron ditembakan dari pistol eketron. 

2. Elektron melewati dua lensa kondensor yang berguna menguatkan elektron yang
ditembakan. 
3. Elektron diterima oleh spesimen yang dan berinteraksi, karena spesimen tipis maka
elektron yang berinteraksi dengan spesimen diteruskan pada tiga lensa yaitu, lensa
 objektif, lensa intermediet, dan lensa proyektor. Lensa obyektif merupakan lensa
utama dari TEM karena batas penyimpanganya membatasi dari resolusi mikroskop[,
lensa intermediet sebagai penguat dari lensa objektif, dan untuk lensa proyektor
gunanya untuk menggambarkan pada layar florescent yang ditangkap oleh film
fotografi atau kamera CCD. 

2.10 Kelebihan dan Kekurangan TEM

• Kelebihan :

1. Resolusi Superior 0.1~0.2 nm, lebih besar dari SEM (1~3 nm)
2. Mampu mendapatkan informasi komposisi dan kristalografi dari bahan uji dengan
resolusi tinggi 
3. Memungkinkan untuk mendapatkan berbagai signal dari satu lokasi yang sama. 

• Kekurangan : 

1. Hanya meneliti area yang sangat kecil dari sampel 

2. Perlakuan awal dari sampel cukup rumit sampai bisa mendapatkan gambar yang baik.
3. Elektron dapat merusak atau meninggalkan jejak pada sampel yang diuji.
 BAB III
PENUTUP

3.1 Kesimpulan
Berdasarkan pembahasan mengenai Scanning Electron Microscopy (SEM) dan Transmission
Electron Microscopy (TEM), maka dapat disimpulkan, sebagai berikut :

1. Scanning Electron Microscopy (SEM) adalah mikroskop elektron yang memindai

bagian permukaan atau morfologi permukaan objek. Komponen penyusunnya terdiri
dari pistol elektron (electron gun), lensa elektron, sistem vakum, dan spesimen stage. 
2. Transmission Electron Microscopy (TEM) adalah mikroskop elektron yang
mentransmisi anatomi objek. Komponen penyusunnya terdiri dari pistol elektron
(electron gun), lensa elektron, sistem vakum, apertures, dan spesimen stage. 
3. Aplikasi penggunaan SEM dan TEM umumnya berbeda yang mana, SEM digunakan
untuk mengamati morfologi permukaan objek saja, sedangkan TEM digunakan untuk
mengamati anatomi objek. 

3.2 Saran
Disarankan kepada pembaca makalah ini dapat digunakan sebaik – baiknya untuk
memberikan informasi kepada pembaca tentang materi mengenai spektrofotometri SEM dan
TEM, Juga menambah wawasan ilmu pengetahuan serta membuka wawasan dan
menginspirasi kepada para pembaca untuk senantiasa semangat dalam menjalankan tugas-
tugas dan memberikan motivasi dalam belajar.
 DAFTAR PUSTAKA

Colmenares, H. C. 2013. Fast transmission electron microscope (tem) technique for

observing isolated mitochondria of soybean (Glycine max (l.) Merr.) In about six
hours. Adv Pharmacoepidem Drug Safety. Vol. 2: 136.

Dahiya and Yadav., 2014. Scanning Electron Microscopic Characterization and Elemental
Analysis of Hair: A Tool in Identification of Felidae Animals/ Journal Forensic
Research, 4 (1) : 1-6. 

Eleftheriou E. P., Ioannis D. S., Adamakis, Emmanuel P. Dan Maria F. 2015. Chromium-
Induced Ultrastructural Changes and Oxidative Stress in Roots of Arabidopsis
thaliana. Int. J. Mol. Sci. Vol 16 : 15852 – 15871.

http://situs.opi.lipi.go.id/wtem/#:~:text=Mikroskop%20transmisi%20elektron
%20(Transmission%20Electron,mengamati%20hasil%20tembusannya%20pada%20layar.

https://katapengetahuan.wordpress.com/2018/05/14/prinsip-kerja-transmission-electron-
microscopy-tem-dan-perbedaannya-dengan-scanning-electron-microscope-sem/

https://materialcerdas.wordpress.com/teori-dasar/scanning-electron-microscopy/

https://repository.unair.ac.id/25588/13/13.%20Bab%202.pdf

https://uptltsit.unila.ac.id/2016/10/02/scanning-electron-microscope-sem-edx/

Irianto K. 2013. Mikrobiologi Medis. Alfabeta. Bandung.

Nazarudin. 2014.,I n t r o d u c t i o n   t o   S c a n n i n g   E l e k t r o n   M i c r o s c o p y  
a n d   Transmision Electron Microscopy. Jambi: Universitas Jambi

Shipali, and Singh Harkanwal., 2014. Scanning Electron Microscopy (SEM) Studies to
Explore New Taxonomic Features on the Egg of Anopheles (cellia) Annularis van der
wulp/ International Journal of Multidisciplinary Research and Development, 1(6): 1-
3.