MAKALAH XRD

TUGAS METODE EKSPLORASI MINERAL

DAN BATUBARA

DOSEN PENGAMPU : M. El. Hakim. S.T., M.T

Disusun Oleh : Gazza Muhamad Alfha Rezza
NIM : F1D121055

TEKNIK PERTAMBANGAN
SAINS DAN TEKNOLOGI
UNIVERSITASA JAMBI
2023/2024

1
 KATA PENGANTAR

Puji syukur alhamdulillah kami panjatkan ke hadirat Tuhan Yang Maha Esa,
karena telah melimpahkan rahmat-Nya berupa kesempatan dan pengetahuan
sehingga makalah ini bisa selesai pada waktunya.

Terima kasih juga kami ucapkan kepada teman-teman yang telah berkontribusi
dengan memberikan ide-idenya sehingga makalah ini bisa disusun dengan baik
dan rapi.

Kami berharap semoga makalah ini bisa menambah pengetahuan para

pembaca. Namun terlepas dari itu, kami memahami bahwa makalah ini masih jauh
dari kata sempurna, sehingga kami sangat mengharapkan kritik serta saran yang
bersifat membangun demi terciptanya makalah selanjutnya yang lebih baik lagi.

Jambi, 12 Maret 2023

Gazza Muhamad Alfha Rezza

2
 DAFTAR ISI

Halaman

KATA PENGANTAR ..................................................................................... 2

DAFTAR ISI .................................................................................................... 3
BAB 1 PENDAHULUAN .............................................................................. 4
BAB 2 PEMBAHASAN .................................................................................. 6
BAB 3 PENUTUP............................................................................................ 19
DAFTAR PUSTAKA ...................................................................................... 20

3
 BAB I

PENDAHULUAN

1.1 Latar belakang

Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun
1895. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar-X
digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun
manusia. Disamping itu, sinar-X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola
difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif
material. Pada waktu suatu material dikenai sinar-X, maka intensitas sinar yang
ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan
adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam
material tersebut. Berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut ada yang saling
menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan
karena fasanya sama. Berkas sinar -X yang saling menguatkan itulah yang disebut
sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang
persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut
merupakan berkas difraksi. Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron
kecepatan tinggi dengan logam target.
Dari prinsip dasar ini, maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan
prinsip dari Hukum Bragg ini. XRD merupakan salah satu alat yang
memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi
material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik ini
digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara
menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
Bahan yang dianalisa adalah tanah halus, homogenized, dan rata-rata komposisi
massal ditentukan.
1.2 Rumusan Masalah
1.2.1 Bagaimana Sejarah Penemuan X-RD (X-Ray Diffraction)?
1.2.2 Apa yang di maksud dengan X-Ray Diffraction (XRD)?
1.2.3 Apa yang dimaksud dengan Difraksi sinar -X?
1.2.4 Bagaimana Komponen Dasar X-RD?
1.2.5 Bagaimana bunyi Hukum Bragg?

4
 1.2.6 Bagaimana proses Pembangkitan Sinar-X?
1.2.7 Apa saja Karakteristik Sinar-X?
1.2.8 Bagaimana Skema dan Prinsip Kerja Alat Difraksi Sinar-X (X-RD)?
1.2.9 Apa saja Aplikasi-nya?
1.2.10 Bagaimana Contoh Pola Difraksi pada suatu Bahan itu?
1.2.11 Apa saja Kegunaan XRD?
1.3 Tujuan
1.3.1 Mahasiswa dapat mengetahui Sejarah Penemuan X-RD (X-Ray
Diffraction)
1.3.2 Mahasiswa dapat mengetahui X-Ray Diffraction (XRD)
1.3.3 Mahasiswa dapat mengetahui Difraksi sinar -X
1.3.4 Mahasiswa dapat mengetahui Komponen Dasar X-RD
1.3.5 Mahasiswa dapat mengetahui bunyi Hukum Bragg
1.3.6 Mahasiswa dapat mengetahui proses Pembangkitan Sinar-X
1.3.7 Mahasiswa dapat mengetahui Karakteristik Sinar-X
1.3.8 Mahasiswa dapat mengetahui Skema Prinsip Kerja Alat Difraksi Sinar-
X (X-RD)
1.3.9 Mahasiswa dapat mengetahui Apa saja Aplikasi-nya
1.3.10 Mahasiswa dapat mengetahui Contoh Pola Difraksi pada suatu Bahan
itu
1.3.11 Mahasiswa dapat mengetahui Kegunaan XRD

5
 BAB II

PEMBAHASAN

2.1 Sejarah Penemuan X-RD (X-Ray Diffractions)

Di akhir tahun 1895, Roentgen (Wilhelm Conrad Roentgen, Jerman, 1845-
1923), seorang profesor fisika dan rektor Universitas Wuerzburg di Jerman
dengan sungguh-sungguh melakukan penelitian tabung sinar katoda. Ia
membungkus tabung dengan suatu kertas hitam agar tidak terjadi kebocoran
fotoluminesensi dari dalam tabung ke luar.
Lalu ia membuat ruang penelitian menjadi gelap. Pada saat membangkitkan
sinar katoda, ia mengamati sesuatu yang di luar dugaan. Pelat fotoluminesensi
yang ada di atas meja mulai berpendar di dalam kegelapan. Walaupun dijauhkan
dari tabung, pelat tersebut tetap berpendar. Dijauhkan sampai lebih 1 m dari
tabung, pelat masih tetap berpendar. Roentgen berpikir pasti ada jenis radiasi baru
yang belum diketahui terjadi di dalam tabung sinar katoda dan membuat pelat
fotoluminesensi berpendar. Radiasi ini disebut sinar-X yang maksudnya adalah
radiasi yang belum diketahui.
Ia menerima Hadiah Nobel Fisika tahun 1914 untuk penemuan difraksi sinar-
X pada kristal. Penemuan ini ketika ia membahas permasalahan yang terkait
dengan perjalanan gelombang cahaya melalui periodik, susunan kristalin partikel.
Ide kemudian datang bahwa sinar elektromagnetik yang jauh lebih pendek dari
sinar-X seharusnya akan menyebabkan semacam fenomena difraksi atau
interferensi dan bahwa kristal akan memberikan semacam media. Meski
Sommerfeld, W. Wien keberatan terhadap ide Friedrich, asisten Sommerfeld dan
Knipping bereksperimen dan setelah beberapa kegagalan, akhirnya berhasil
membuktikan itu benar.
Pada 1946 ia ke Gittingen menjabat Direktur Institut Max Planck dan Titular
Profesor di Universitas. Pada 1951 menjadi Direktur Institut Fritz Haber untuk
Kimia Fisika di Berlin-Dahlem bidang Optik sinar-X bekerja sama dengan
Borrmann. Tahun 1958 ia pensiun dan pada ulang tahun ke-80 di Berlin-Dahlem
dia masih aktif bekerja. Awal kariernya ia sangat gembira oleh teori relativitas
Eintein dan antara 1907-1911 ia menerbitkan 8 makalah tentang penerapan teori

6
ini. Pada 1911 ia menerbitkan buku tentang teori terbatas dan 1921 pada teori
umum, kedua buku menjadi beberapa edisi.
Max Theodor Felix von Laue yang lahir 9 Oktober 1879 di Pfaffendorf, dekat
Koblenz adalah fisikawan Kekaisaran Jerman yang pertama kali mendapatkan
difraksi sinar X dari sebuah kristal pada 1912. Atas prestasi ini, ia dianugerahi
Hadiah Nobel dalam Fisika 1914. Ia adalah putra Julius von Laue, seorang pejabat
di pemerintahan militer Jerman, yang dibesarkan keturunan bangsawan tahun
1913 dan sering dikirim ke berbagai kota, sehingga von Laue menghabiskan masa
mudanya di Brandenburg, Altona, Posen, Berlin dan Strassburg. Di sekolah
Protestan di Strassburg ia di bawah pengaruh Profesor Goering yang
memperkenalkannya pada lmu eksakta. Pada tahun 1898 ia meninggalkan sekolah
dan selama satu tahun melakukan dinas militer.
2.2 Pengertian X-Ray Diffraction (XRD)
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi
sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas
elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki
panjang gelombang 10-5 – 10 nm, berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki
energi 103 -106 eV. Panjang gelombang sinar-X memiliki orde yang sama dengan
jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.
Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan
logam target. Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar-X harus
terdiri dari beberapa komponen utama, yaitu : a. Sumber elektron (katoda) b.
Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron c. Logam target (anoda) Ketiga
komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar-X. Skema
tabung sinar-X dapat dilihat pada gambar 2.1.

Gambar 2.1. Skema tabung sinar-X

7
 Sinar-X mempunyai panjang gelombang dalam orde angstrom (Å),
panjang gelombang tersebut sama ordenya dengan konstanta kisi kristal sehingga
sinar-X sangat berguna untuk menganalisa struktur kristal

Gambar 2.2. Pembangkit Sinar-X

Skema pembangkit sinar-X seperti ditunjukkan dalam gambar 2.2.
elektron di emisikan dari katode dalam tabung vakum dan dipercepat oleh beda
potensial tinggi yang ditimbulkan oleh anode dan katode, sehingga elektron
memperoleh energi kinetik. Ketika A K elektron menegenai target, maka sinar
akan diemisikan dari target tersebut. Target yang terpasang pada anode berupa
logam Mo, Fe, Ni, atau Cu.
Emisi radiasi sinar-X mempunyai spektrum kontinu disebabkan emisi
radiasi dari interaksi elektron dengan elektron luar atom-atom dalam target
akibatnya gerak elektron ketika menumbuk target mengalami perlambatan.
Peristiwa tersebut disebut peristiwa „bremstrahlung‟, sedangkan spektrum diskrit
disebabkan emisi setelah atom-atom dalam target tereksitasi karena elektron yang
datang. Frekuensi maksimum vo dari spectrum kontinu berhubungan dengan
potensial pemercepat eV = hvo , sebab energi maksimum foton tidak dapat
melebihi energi kinetik dari elektron yang datang. Hiubungan antara potensial
dengan panjang gelombang minimum λo adalah
12.3
𝜆𝑜 = Å
V

dengan V = tegangan dalam kilovolt.

8
 Ketika sinar-X melewati medium material, maka sebagian sinar-X tersebut
diserap oleh material. Intensitas dari sinar akan berkurang sesuai dengan formula:
𝐼 = 𝐼𝑜 exp⁡(−𝛼𝑥)
dengan Io adalah intensitas awal pada permukaan medium, x jarak lintasan
sinar dan α merupakan koefisien serapan. Berkurangnya intensitas dalam
persamaan diatas disebabkan karena peristiwa hamburan dan serapan sinar oleh
atom medium.
2.3 Difraksi sinar -X
Apabila suatu bahan dikenai sinar-X maka intensitas sinar-X yang
ditransmisikan lebih kecil dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya
penyerapan oleh bahan dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material
tersebut. Berkas sinar yang dihantarkan tersebut ada yang saling menghilangkan
karena fasenya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasenya
sama.Berkas sinar-X yang saling menguatkan disebut sebagai berkas difraksi.
Persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan
merupakan berkas difraksi dikenal sebagai Hukum Bragg. Hukum Bragg
menyatakan bahwa perbedaan lintasan berkas difrasi sinar-X harus merupakan
kelipatan panjang gelombang, secara matematis dirumuskan:
nλ = dsinθ (2.7)
dengan n bilangan bulat 1, 2, 3 ...... adalah panjang gelombang sinar-X
adalah jarak antar bidang, dan θ adalah sudut difraksi. Keadaan ini membentuk
pola interferensi yang saling menguatkan untuk sudut-sudut yang memenuhi
hukum Brag. Gejala ini dapat diamati pada grafik hubungan antara intensitas
spektrum karakteristik sebagai fungsi sudut 2θ. Untuk menentukan sudut θ dalam
kristal/anoda adalah sistem kristal/atom dan parameter atau arah difraksi
ditentukan oleh bentuk dan ukuran sel satuannya.
Dengan mengukut sudut θ maka jarak antar bidang kristal/atom kubik
yaitu θ dapat ditentukan dari persamaan: Dengan a jarak atom, d jarak antar
bidang, dan hkl adalah indeks Miller dari suatu bidang pada kristal kubik
pemusatan sisi berlaku hubungan antara jarak antara bidang dan jarak antar atom
sebagaimana persamaan (2.8) jika θ dan indek bidang (h, k, l) yang
mendifraksikan sinar-X diketahui, maka konstansta kekisiannya dapat diketahui

9
juga dengan menggunakan persamaan (2.8) Sementara itu dari persamaan (2.7)
dapat dinyatakan dengan : (2.9)Yang dapat dipahami bahwa semakin besar sudut
difraksi, maka jarak antar bidang (h, k, l) semakin kecil.z

2.4 Komponen Dasar X-RD

Tiga komponen dasar dari X-RD yaitu; sumber sinar-X (X-Ray source),
material contoh yang diuji (specimen), detektor sinar-X (X-ray detector)
(Sartono,2006).

Gambar 1. X-Ray Diffractometer

2.5 Hukum Bragg
Ketika sinar-X monokromatik datang pda permukaan Kristal, sinar tersebut
akan dipantulkan. Akan tetapi pemantulan terjadi hanya ketika sudut datang
mempunyai harga tertentu. Besarny asudut datang tersebut bergantung dari
panjang gelombang dan konstanta kisi Kristal. Sehingga peristiwa tersebut dapat
digunakan sebagai salah satu model untuk menjelaskan pemantulan dan
interferensi. Model tersebut ditunjukkan dalam gambar 2.3., ketika kristal
digambarkan sebagai bidang parallel sesuai dengan bidang orientasi atomnya.
Sinar datang dipantulkan sebagian pada masing-masing bidangnya, dimana bidang
tersebut berfungsi seolah-olah sebagai cermin, dan pantulan sinar-sinar kemudian
terkumpul pada detektor. Karena kumpulan pantulan sinar-sinar tersebut
merupakan sinar-sinar yang koheren dan ada selisih lintasan dari masing-masing
pantulan bidang Kristal maka akan terjadi peristiwa interferensi ketika diterima
oleh detektor. Interferensi konstruktif terjadi jika selisih antar dua sunar berturutan
merupakan kelipatan dari panjang gelombang (λ).

10
 Gambar 2.3 Pantulan sinar-X pada bidang kristal
Berdasarkan gambar 2.3 jarak selisih lintasan sinar pantul 1 dan 2 adalah
V = AB + BD – AE
𝑑 𝑐𝑜𝑠 2 𝜃
Dengan 𝐴𝐵 = 𝐵𝐷 = dan 𝐴𝐸 = 𝐴𝐷. 𝑐𝑜𝑠𝜃 = = 2d
sin 𝜃 sin 𝜃
dengan d merupakn jarak anatara 2 bidang pantul yang berdekatan
dan θ sudut antar sinar datang dan sinar pantul. Dari kedua persamaan
diatas dapat disubstitusikan sehingga diperoleh persamaan
(1−𝑐𝑜𝑠 2𝜃)
V= 2𝑑 = = 2𝑑 𝑠𝑖𝑛𝜃
𝑠𝑖𝑛𝜃
Sehingga interfernsi konstruktif terjadi jika 𝑛𝜆 = 2𝑑 𝑠𝑖𝑛𝜃
dengan n = 1,2,3, … berturut-turut menunjukkan orde pertama,
kedua, ketiga, dst. Persamaan diatas pada umumnya disebut sebagai
Hukum Bragg.
Jika panjang gelombang sinar-X (λ) dapat ditentukan dari macam
target tabung generator sinar-X dan θ dapat diukur dari percobaan (sudut θ
merupakan setengah sudut antara sinar datang dan difraksi). Menurut
persamaan bragg, peristiwa difraksi terjadi apabila λ.
2.6 Pembangkitan Sinar-X
Sinar-X dihasilkan dari penembakan target (logam anoda) oleh elektron
berenergi tinggi yang berasal dari hasil pemanasan filamen dari tabung sinar-X
(Rontgen). Tabung sinar-X tersebut terdiri atas empat komponen utama, yakni

11
filamen (katoda) yang berperan sebagai sumber elektron, ruang vakum sebagai
pembebas hambatan, target sebagai anoda, dan sumber tegangan listrik.

Gambar 3. Skema tabung sinar-X

Untuk dapat menghasilkan sinar-X dengan baik, maka logam yang digunakan
sebagai target harus memiliki titik leleh tinggi dengan nomor atom (Z) yang tinggi
agar tumbukan lebih efektif. Logam yang biasa digunakan sebagai target (anoda)
adalah Cu, Cr, Fe, Co, Mo dan Ag.

2.7 Karakteristik Sinar-X

Sinar-X dapat pula terbentuk melalui proses perpindahan elektron suatu atom
dari tingkat energi yang lebih tinggi ke tingkat energi yang lebih rendah. Adanya
tingkat-tingkat energi dalam atom dapat digunakan untuk menerangkan terjadinya
spektrum sinar-X dari suatu atom (Gambar 4). Sinar-X yang terbentuk melalui
proses ini mempunyai energi yang sama dengan selisih energi antara kedua
tingkat energi elektron tersebut. Karena setiap jenis atom memiliki tingkat-tingkat
energi elektron yang berbeda-beda maka sinar-X yang terbentuk dari proses ini
disebut karakteristik Sinar-X.

12
 Gambar 4. Ilustrasi transisi elektron dalam sebuah atom
Karakteristik Sinar-X terjadi karena elektron yang berada pada kulit K
terionisasi sehingga terpental keluar. Kekosongan kulit K ini segera diisi oleh
elektron dari kulit diluarnya. Jika kekosongan pada kulit K diisi oleh elektron dari
kulit L, maka akan dipancarkan karakteristik sinar-X Kα.Jika kekosongan itu diisi
oleh elektron dari kulit M, maka akan dipancarkan karakteristik Sinar-X Kβ dan
seterusnya.
 Material Uji (spesimen)
Sartono (2006), mengemukakan bahwa material uji
(spesimen) dapat digunakan bubuk (powder) biasanya 1 mg.
 Detektor
Sebelum sinar-X sampai ke detektor melalui proses optik.
Sinar-X yang panjang gelombangnya λ dengan intensitas I
mengalami refleksi dan menghasilkan sudut difraksi 2θ (Sartono,
2006). Jalannya sinar-X diperlihatkan oleh gambar 5 berturut-turut
sebagai berikut : (1) Sumber sinar-X (2) Celah soller (3) Celah
penyebar (4) Spesimen (5) Celah anti menyebar (6) Celah
penerima (7) Celah soller dan (8) Detektor.

Gambar 5. Difraktometer
2.8 Skema dan Prinsip Kerja Alat Difraksi Sinar-X (X-RD)
Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur suatu padatan
kristalin adalah metode difraksi sinar-X serbuk (X- ray powder diffraction) seperti
terlihat pada Gambar 6. Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki
ukuran kecil dengan diameter butiran kristalnya sekitar 10-7 – 10-4 m

13
ditempatkan pada suatu plat kaca. Sinar-X diperoleh dari elektron yang keluar dari
filamen panas dalam keadaan.

vakum pada tegangan tinggi, dengan kecepatan tinggi menumbuk

permukaan logam, biasanya tembaga (Cu).
Sinar-X tersebut menembak sampel padatan kristalin, kemudian
mendifraksikan sinar ke segala arah dengan memenuhi Hukum Bragg. Detektor
bergerak dengan kecepatan sudut yang konstan untuk mendeteksi berkas sinar-X
yang didifraksikan oleh sampel. Sampel serbuk atau padatan kristalin memiliki
bidang-bidang kisi yang tersusun secara acak dengan berbagai kemungkinan
orientasi, begitu pula partikel-partikel kristal yang terdapat di dalamnya. Setiap
kumpulan bidang kisi tersebut memiliki beberapa sudut orientasi sudut tertentu,
sehingga difraksi sinar-X memenuhi Hukum Bragg :
n λ = 2 d sin θ
dengan ; n : orde difraksi ( 1,2,3,…)
λ : Panjang sinar-X
d : Jarak kisi θ : Sudut difraksi

Bentuk keluaran dari difraktometer dapat berupa data analog atau digital.
Rekaman data analog berupa grafik garis-garis yang terekam per menit sinkron,
dengan detektor dalam sudut 2θ per menit, sehingga sumbu-x setara dengan sudut
2θ. Sedangkan rekaman digital menginformasikan intensitas sinar-X terhadap
jumlah intensitas cahaya per detik. Pola difraktogram yang dihasilkan berupa
deretan puncak-puncak difraksi dengan intensitas relatif bervariasi sepanjang nilai

14
2θ tertentu. Besarnya intensitas relatif dari deretan puncak-puncak tersebut
bergantung pada jumlah atom atau ion yang ada, dan distribusinya di dalam sel
satuan material tersebut. Pola difraksi setiap padatan kristalin sangat khas, yang
bergantung pada kisi kristal, unit parameter dan panjang gelombang sinar-X yang
digunakan. Dengan demikian, sangat kecil kemungkinan dihasilkan pola difraksi
yang sama untuk suatu padatan kristalin yang berbeda.
2.9 Aplikasi
Difraksi sinar-X adalah metode yang sangat penting untuk mengkarakterisasi
struktur kristal material. Teknik ini biasanya dapat digunakan untuk analisis
parameter kisi kristal tunggal, atau tahap tersebut, tekstur atau bahkan stres
analisis bahan polikristalin (seperti serbuk). Teknik ini banyak digunakan dalam
penelitian dan pengembangan aplikasi dan penggunaannya untuk produksi atau
masalah pengendalian mutu juga tumbuh, manfaat dari perkembangan hardware
dan software untuk kemampuan throughput tinggi.
Pada saat penemuan difraksi sinar-X, pengetahuan tentang struktur logam
terbatas pada apa yang bisa diungkapkan oleh optik mikroskop. diakui bahwa
struktur dari logam pada dasarnya kristal. tapi sebenarnya terjadi karena adanya
pengaturan atom, meskipun teori geometri ruang- kelompok dan ruang-kisi telah
ditetapkan jauh sebelum rincian pengaturan atom dapat ditentukan. Prinsip-prinsip
umum diagram fasa logam telah dibangun oleh Roozeboom dan lain, dan
pekerjaan eksperimental Heycock dan Neville (1897) telah menunjukkan
bagaimana batas-batas bidang fase yang berbeda dapat ditentukan dengan tingkat
akurasi yang tinggi, bahkan dalam sistem yang sangat rumit. Pada waktu yang
sama Sekolah Jerman di bawah Tammann telah menghasilkan dengan cepat
sejumlah ekuilibrium metalik - diagram. Penerapan metode optik untuk studi baja
telah mengakibatkan pengakuan dari ' jumlah 'konstituen,' tetapi sering ada
kebingungan mengenai apakah ini adalah tahap yang berbeda dengan struktur
kristal tertentu, atau campuran fase pada skala terlalu halus untuk diselesaikan
oleh metode optik. Posisi umum, oleh karena itu, di mana lebih jauh kemajuan
tergantung pada beberapa metode penemuan yang lebih rinci. susunan atom dalam
logam bisa diungkapkan.

15
 Pentingnya penemuan difraksi X-sinar oleh kristal telah diakui dari awal,
namun aplikasinya tertunda selama beberapa tahun akibat Perang Dunia Pertama.
Davey, Hull, dan lain-lain bekerja sama dalam penentuan struktur kristal dari
banyak logam yang lebih umum dan kemudian mendapatkan kristal tunggal
logam. Debye-Scherrer, melakukan metode analisis kristal khusus yang memang
menarik, itu ditemukan oleh AW Hull dan hampir bersamaan dengan Scherrer
Debye untuk tujuan penentuan struktur logam. Penemuan asli metode ini dibuat
tahun 1916, dan dari 1920 dan seterusnya, aplikasinya banyak menghasilkan
kemajuan yang spektakuler pada dekade 1920-1930. Mereka menetapkan bahwa
mayoritas logam mengkristal di salah satu tiga struktur logam khas yang
ditunjukkan dalam Gambar. 12-2 (1). Ini adalah kubik berpusat muka, dekat-
dikemas heksagonal, dan badan berpusat kubik struktur Allotropy umum,
khususnya antara transisi logam, dan dalam hampir semua kasus seperti ini,
berpusat kubik modifikasi.
2.10 Contoh Pola Difraksi pada suatu Bahan
2.1 Karakterisasi lapisan tipis FeAg menggunakan metode difraksi
sinar - X (XR-D) memperlihatkan pola difraksi struktur kristalnya
yang memuat harga intensitas (cacahan perdetik) dengan sudut
difraksi 2Ө (dalam derajat).
2.2 penelitian mengenai pengaruh substrat Cu dan Indium Tin Oxide
(ITO) oleh Jannah, Fatkul, E pada pertumbuhan kristal dengan
judul “ Karakterisasi Lapisan Tipis Alloy Nife Hasil
Elektrodeposisi Pada Substrat Cu dan ITO” Sedangkan pada
substrat ITO lapisan tipis NiFe yang terbentuk mempunyai bidang
hkl (111) dan (200). “ Karakterisasi Lapisan Tipis Alloy Nife Hasil
Elektrodeposisi Pada Substrat Cu dan ITO”. Penumbuhan lapisan
tipis NiFe dilakukan dengan menggunakan metode elektrodeposisi.
Analisis struktur kristal dilakukan dengan X-ray diffraction (XRD).
Dari speltrum XRD menunjukan bahwa substrat berpengaruh pada
struktur kristal. Lapisan yang terbentuk merupakan polikristal yang
terdiri dari NiFe berstruktur fcc (face center cubic) dengan arah
pertumbuhan (111), (200) dan (220) pada substrat Cu.

16
 2.3 Sebagian besar aplikasi diffractometry X-ray membutuhkan balok
dengan baik didefinisikan karakteristik spasial dan spektral. X-ray
optik adalah komponen penting untuk mendapatkan spesifikasi
berkas yang dibutuhkan pada sampel. Multilayer X-ray optik saat
ini sudah banyak digunakan dalam difraksi sinar-X karena kinerja
yang seimbang mereka dalam hal perbedaan, kemurnianspektral,
dan fluks. Xenocs telah menetapkan standar dengan kinerja tinggi
pengenalan refleksi tunggal dua-dimensi multilayer optik sinar-X
yang memberikan nilai tambah yang signifikan dalam sejumlah
aplikasi difraksi sinar-X.
2.11 Kegunaan XRD
Metode difraksi sinar X adalah salah satu cara untuk mempelajari
keteraturan atom atau molekul dalam suatu struktur tertentu. Hal ini karena
difraksi sinar X memberikan ilustrasi bahwa secara prinsip sifat-sifat gelombang
sinar X dan interaksinya dengan material dapat dimanfaatkan untuk
mengeksplorasi keadaan mikroskopik material-material yang memiliki keteraturan
susunan atom. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan
ukuran partikel. Keuntungan utama penggunaan sinar X dalam karakterisasi
material adalah kemampuan penetrasinya, sebab sinar X memiliki energi sangat
tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek.
Difraksi sinar X dapat memberikan informasi tentang struktur polimer,
termasuk tentang keadaan amorf dan kristalin polimer. Pola hamburan sinar X
juga dapat memberikan informasi tentang konfigurasi rantai dalam kristalit,
perkiraan ukuran kristalit, dan perbandingan daerah kristalin dengan daerah amorf
dalam sampel polimer. Sinar X juga digunakan dalam bidang kedokteran untuk
mendeteksi keadaan organ-organ dalam tubuh karena memiliki daya tembus yang
cukup besar. XRD dapat juga digunakan untuk mengukur macam-macam
keacakan dan penyimpangan kristal, karakterisasi material kristal, identifikasi
mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat, dan penentuan dimensi-
dimensi sel satuan. Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan

17
untuk menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement,
analisis kuantitatif dari mineral, dan karakteristik sampel film.

18
 BAB III

PENUTUP

3.1 Kesimpulan
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi
sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas
elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki
panjang gelombang 10-5 – 10 nm, berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki
energi 103 -106 eV. Panjang gelombang sinar-X memiliki orde yang sama dengan
jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.
Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan
logam target. Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar-X harus
terdiri dari beberapa komponen utama, yaitu : a. Sumber elektron (katoda) b.
Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron c. Logam target (anoda) Ketiga
komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar-X.
3.2 Saran
Dengan mempelajari instrumen X-Ray Difraction (XRD) diharapkan kita
sebagai mahasiswa dapat mengetahui prinsip kerja dari instrumen tersebut dan
mengetahui cara interpretasi datanya. Mahasiswa disarankan untuk melihat secara
langsung instrumen XRD-nya dan semoga tidak puas dengan hanya membaca
makalah ini, sehingga akan mencari informasi-informasi tambahan untuk lebih
memahami kontennya.
Dalam pembuatan makalah ini tentunya saya tidak luput dari kesalahan,
oleh karena itu, saya mohon kritik dan saran agar menjadi perbaikan di masa yang
akan datang. Syukran jazaakumullahu / jazaakunnallahu khoiir.

19
 DAFTAR PUSTAKA

Alderton, D., 2021. X-Ray Diffraction (XRD). Second ed. London: Academic
Press.
Gokce, H. S., 2019. High Temperature Resistance Of Boron Active Belite Cement
Mortars Containing Fly Ash. Journal Of Cleane Production, Volume 211,
Pp. 992-1000.
Graha, D. S., 2011. Batuan dan Mineral. Bandung: Nova.
Massinai, M.A., 2015. Geomorfologi Teknik. Yogyakarta: Pustaka Ilmu.

20