B. PNP
Pada PNP, terjadi hal sebaliknya ketika arus mengalir pada kaki basis,
maka transistor berlogika 0 (off).Arus akan mengalir apabila kaki basis diberi
sambungan ke ground (-) hal ini akan menginduksi arus pada kaki emitor ke
kolektor, hal yang berbeda dengan NPN, yaitu arus mengalir pada kolektor ke
emitor. Penggunaan transistor jenis ini mulai jarang digunakan. Dibanding dengan
NPN, transistor jenis PNP mulai sulit ditemukan dipasaran
Daerah Aktif
Daerah antara tegangan (knee), VK dan tegangan dadal (breakdown),
VBR serta diatas IB = ICO. Daerah aktif terjadi bila sambungan emitor diberi bias
maju dan sambungan kolektor diberi bias balik. Pada daerah aktif arus kolektor
sebanding dengan arus basis ( IC = IB).
Daerah Cut-Off
Daerah yang terletak di bawah IB = ICO. Daerah cut-off terjadi bila
sambungan kolektor dan emitor sama-sama diberi bias balik. Pada daerah cut-off,
IE = 0 ; IC =ICO = IB.
Daerah Breakdown
Daerah yang terletak di atas batas tegangan maksimum kolektor-emitor
(VCE) suatu transistor. VCE maksimum pada beberapa jeni transistor adalah
berbeda-beda. Pada kurva kolektor diatas terlihat, daerah breakdown terjadi
setelah VCE transistor mencapai diatas ± 10 volt. Transistor tidak boleh bekerja
pada daerah ini, karena transistor dapat menjadi rusak.
Keterangan:
VK = tegangan lutut (knee)
IB = Arus basis
ICO = Arus cut-off
VCE = Tegangan kolektor-emitor
VCE(sat) = Tegangan kolektor-emitor pada daerah saturasi
2. Kurva Basis
Kurva karakteristik basis merelasikan antara arus basis (IB) dan tegangan
basis-emitor (VBE) dengan tegangan kolektor-emitor (VCE) sebagai
parameternya.
Kurva basis diatas dapat terlihat pada alat ukur yang bernama osiloskop dengan
cara menghubung singkatkan kolektor-emitor (VCE = 0) dan emitor diberi bias
maju.
Dengan bertambahnya VCE pada VBE yang konstan (tetap), maka lebar
daerah deplesi di sambungan kolektor bertambah dan mengakibatkan lebar basis
efektif berkurang. Dengan berkurangnya lebar basis, maka arus basis (IB)
rekombinasi juga berkurang.
3. Kurva Beta
Kurva beta menunjukkan bahwa nilai β akan berubah dengan dipengaruhi
oleh suhu (T) dan arus kolektor (IC). Berikut karakteristiknya:
1. Nilai β bertambah jika suhu (T) naik.
2. Nilai β bertambah jika arus kolektor (IC) naik.
3. Nilai β turun jika arus kolektor (IC) naik di luar nilai tertentu.
Gambar 2.9 Kurva beta (β)
2.3 Daftar Komponen dan Alat
1. Modul praktikum Elektronika Dasar.
2. Satu Buah Multimeter Digital.
3. Satu buah variable Power supply
4. Datasheet transistor yang digunakan
2
2.5 Data Hasil Percobaan
2.5.1 Testing kondisi BJT
Dari percobaan testing kondisi BJT di dapat hasi sebagai berikut:
Pada testing kondisi BJT tipe NPN (BC547) yang kami periksa adalah
kondisi transistor, dengan cara memeriksa hambatan (resistansi) pada emitter dan
kolektor dari transistor tersebut. Pada percobaan yang kami lakukan, alat yang
digunakan untuk testing kondisi BJT adalah multimeter digital dimana probe pada
multimeter digital diletakan pada kaki emitter dan kolektor untuk probe bermuatan
positif diletakan pada kaki emitter dan probe negative diletakan pada kaki kolektor
Dari hasil percobaan didapat nilai hambatan pada kaki emitter dan kolektor
ketika testing kondisi BJT tipe NPN (BC457) didapat 0,643 Ω untuk basis emitter
dan 0,640 Ω untuk basis kolektor. Seperti yang telah dikatakan pada teori
sebelumnya jika transistor dalam keadaan baik maka nilai hambatan bernilai nol
dan bila dalam keadaan buruk nilai hambatan dapat dihitung. Dari hasil percobaan
kami didapat transistor BJT yang digunakan memiliki nilai hambatan yang kecil
yaitu sebesar 0,643 Ω pada basis emitter dan 0,640 Ω pada basis kolektor, dari
hasi tersebut dapat dikatakan transistor dalam keadaan baik dan dapat
disimpulkan percobaan yang kami lakukan sudah sesuai teori.
Selanjutnya percobaan testing kondisi BJT tipe PNP (BC547) yang
diperiksa adalah kondisi transistor, dengan cara memerikasa hambatan
(resistansi) pada kaki emitter dan kaki kolektor dari transistor tersebut. Pada
percobaan yang kami lakukan hanya menggunakan alat ukur multimeter digital
yang dimana probe pada multimeter digital diletakan pada kaki emitter dan
kolektor. Untuk probe bermuatan positif diletakkan pada kaki emitter dan probe
negative pada kaki kolektor.
Dari hasil percobaan didapatkan nilai hambatan pada kaki emitter dan
kolektor ketika testing BJT type PNP (BC557) yaitu 0,635 Ω pada emitter dan 0,640
Ω pada kolektor. Dapat kami simpulkan bahwa transistor tersebut dalam keadaan
baik Karena menurut teori dikatakan bahwa transistor dalam kondisi baik maka
nilai hambatannya adalah nol. Dari hasi percobaan yang kami lakukan sudah
sesuai dengan teori
Berdasarkan rangkaian gambar 2.7 tersebut pada BJT PNP (BC 557) dan
BJT NPN (BC547), dengan input DC yang dilakukan saat percobaan maka
kapasitor diganti dengan rangkaian terbuka (open circuit). Dalam perhitungan
secara teori dapat menggunakan persamaan 2.1 , 2.2 , dan 2.3 berikut
𝑉𝐶𝐶
𝐼𝐵 = …………………..……………………2.1
𝑅𝐵
𝑉𝐶𝐶
𝐼𝐶 = ……………..……………………..…2.2
𝑅𝐶
𝐼𝐶
𝛽= …………………………………………2.3
𝐼𝐵
Berdasarkan rangkaian pada gambar 2.8 yaitu BJT PNP (BC557) dan BJT
NPN (BC547),dengan input DC yang dilakukan saat percobaan maka kapasitor
diganti dengan rangkaian terbuka (open circuit). Dalam perhitungan secara teori
dapat menggunakan persamaan 2.1, 2.2, 2.3, dan 2.4 berikut
𝑅𝐵 = 𝑅𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑅1 + 𝑅2………….………..2.4
1. Pada NPN BC 557
Untuk mencari RB menggunakan persamaan 2.4
R1 X R2 10000 X 3300
RB = = = 2481,2 Ω
R1+R2 10000+3300
3. A.Bias Tetap
Titik Q point terjadi saat Ic saturasi mencapai maximum dan berpotongan
dengan Vce saturasi.
B. Bias Emiter Terstabilkan
Titik Q point terjadi pada perpotongan garis Ibo dan garis yang
menghubungkan Vcc dan Vcc / Rc+Re.
C. Bias Pembagi Tegangan
Titik Q point terjadi pada pertemuan garis dari k dan Vge.
7. asd
8. Bias ada dua macam yaitu Forward bias (bias maju) adalah hubungan
yang dihasilkan oleh pusat sumber negatif dihubungkan dengan beban tipe-n dan
pusat positif dihubungkan dengan beban tipe-p. Reverse Bias adalah hubungan
yang terjadi saat pusat negative baterai dihubungkan pada sisi-dan pusat positif
baterai dihubungkan dengan sisi-n.
9. Jika hasil yang didapat setelah percobaan tak sesuai dengan teori, dapat
dikarenakan oleh karena rusaknya transistor. Kerusakan ini diakibatkan oleh
kurangnya perawatan yang baik atau mungkin kerusakan ini disebabkan oleh
faktor umur alat yang sudah lama. Kerusakan transistor bisa saja terjadi karena
transistor telah melewati daerah breakdown.
10. Hasil dari pengukuran yang telah dilakukan pada saat percobaan
memberikan hasil yang berbeda dari hasil perhitungan berdasarkan teori yang
ada. Hal ini kemungkinan disebabkan oleh kesalahan didalam pembacaaan skala
pada alat ukur multimeter.