ANALISA PENYIMPANGAN DAN

CAPABILITY PROCESS (CP)

Analisa Penyimpangan
• Dalam diagram kendali dimungkinkan terjadi
penyimpangan, antara lain:
1. Proses Terkendali, terjadi variasi karena
penyebab acak yang normal. Tidak diperlukan
tindakan apa-apa.
2. Proses Tak Terkendali, terjadi variasi karena
penyebab yang tidak normal. Diperlukan
tindakan penyelidikan.
Run Test
• Merupakan alat bantu yang dapat digunakan oleh manajer operasi
dalam mengidentifikasi jenis ketidaknormalan suatu proses.
• Disamping karena adanya titik yang berada di luar batas bagan kendali
dinilai sebagai indikasi adanya variasi buatan atau variasi tidak acak,
kesimpulan serupa juga berlaku jika terdapat 5 titik berada di atas
atau di bawah target atau garis tengah.
• Beberapa pola grafik memberikan gambaran tentang indikasi
terjadinya penyimpangan tak terkendali dalam proses, antara lain:
1. Terdapat titik di luar garis batas (atas/UCL atau bawah/LCL).
2. Terdapat dua titik didekat garis batas kendali.
3. Terdapat larinya (run) 5 titik di atas atau di bawah garis tengah
(CL).
4. Kecenderungan (trend) 5 titik terus naik atau turun.
5. Perubahan tak menentu.
6. Perubahan tiba-tiba.
• Terdapat 10 pola penyimpangan yang dapat terjadi dalam
diagram kendali, yaitu:
Process Capability / CP (Kemampuan Proses)
• Kemampuan proses adalah suatu perhitungan
melalui perbandingan antara output produk
dengan spesifikasi disain.
• Jika peralatan mempunyai kemampuan secara
konsisten memenuhi batas rentang kualitas yang
diharapkan, maka kualitas dan biaya produksi
dapat optimal.
• Jika mesin tidak mampu secara konsisten
memenuhi tingkat kualitas yang diharapkan,
maka biaya akan menjadi tinggi karena produk
cacat (reject) dan pengerjaan ulang (rework).
• Penggunaan SPC (Statistical Process Control) bertujuan untuk
memelihara suatu proses agar tetap berada dalam batas-batas
bagan kendali, yaitu memelihara variasi alamiah serta mencegah
terjadinya variasi buatan.
• Hal ini juga berarti bahwa variasi alamiah proses harus cukup kecil
(sempit) untuk dapat menghasilkan produk yang memenuhi
standar. Dari sisi lain, suatu produk dapat berada dalam kendali
statistik tetapi tidak memenuhi Spesifikasi Desain.
• Kemampuan suatu proses untuk memenuhi spesifikasi desain
disebut sebagai Kemampuan Proses atau Process Capability. Jadi
walaupun suatu proses terkendali secara statistik (stabil), output
proses tersebut mungkin tidak sesuai dengan spesifikasi.
• Dikenal adanya dua cara pengukuran kuantitatif untuk
menyimpulkan apakah suatu proses mampu memenuhi spesifikasi
desain, yaitu Rasio Kemampuan Proses (Process Capability Ratio)
dengan notasi Cp dan Indeks Kemampuan Proses (Process
Capability Index) dengan notasi Cpk.
• Penggunaan analisa kemampuan proses, antara lain:
1. Memperkirakan variasi output dari proses.
2. Mempermudah pemilihan proses produksi.
3. Menentukan pemilihan mesin.
4. Membantu program pengendalian kualitas.
• Apabila proses berada dalam pengendalian statistikal
(proses stabil), hitung indeks kapabilitas proses (Cp),
dan indeks performansi Kane (Cpk), sebagai berikut:
• Jika rata-rata proses = pertengahan batas spesifikasi,
dan proses terdistribusi normal, maka 99,73% output
proses tersebut akan berada dalam rentang.
• Rumus di atas hanya menunjukkan kemampuan proses,
tetapi tidak menunjukkan apakah proses tersebut
mampu memenuhi batas spesifikasi yang diharapkan.
• Hubungan antara kemampuan proses (6σ) dengan
batas spesifikasi dapat dinyatakan dengan rasio
kemampuan (capability ratio, Cp).
• Untuk kriteria penilaian dari Cp, adalah sebagai
berikut:
1. Jika Cp >1.33, maka kapabilitas proses sangat baik.
2. Jika 1.00 ≤ Cp ≤ 1.33, maka kapabilitas proses baik,
namun perlu pengendalian ketat apabila Cp
mendekati 1.00.
3. Jika Cp <1.00, maka kapabilitas proses rendah,
sehingga perlu ditingkatkan performansinya melalui
perbaikan proses.
• Catatan: Indeks kapabilitas proses baru layak
untuk dihitung apabila proses berada dalam
pengendalian statistikal.
• Suatu proses yang mampu harus memiliki Cp
paling sedikit 1,0 dan jika kurang dari 1,0,maka
proses disimpulkan berada di luar batas
toleransi. Dengan Cp=1,0, hanya terdapat 2,7
komponen dari 1.000 yang dihasilkan berada “di
luar batas spesifikasi”. Semakin tinggi nilai Cp,
semakain besar kemungkinan proses berada
dalam spesifikasi desain Jika Cp=1,33 digunakan
sebagai target untuk mengurangi variabilitas
proses, hal itu berarti akan terdapat 64
komponen dari 1 juta yang dihasilkan akan
berada di luar batas spesifikasi.
• Dalam Contoh: diketahui bahwa waktu untuk proses
penagihan asuransi mempunyai rata2 atau X-Bar = 210,0
menit dan deviasi standar σ = 0,516 menit. Jika batas
spesifikasi desain yang dipersyaratkan adalah 210 ±3 menit,
maka batas spesifikasi atas = 213 menit dan batas spesifikasi
bawah = 207 menit.
• Angka rasio kemampuan proses dapat dihitung sebagai
berikut :
213 - 207
Cp = ------------------------ = 1,938
(6)(0,516)
• Karena rasio minimum = 1,0, maka dapat disimpulkan bahwa
proses berada dalam batas spesifikasi sebesar 99,73%. Proses
disimpulkan sangat mampu dengan ketidaksesuaian kurang
dari 4 keluhan dari setiap 1 juta.
• Standar kualitas dengan konsep Six Sigma, mengambil
nilai Cp = 2,0, berarti hanya terdapat 3,4 kecacatan
(produk cacat) dari 1 juta yang diperiksa/dihasilkan,
berarti sangat dekat dengan Zero Defect (konsep
Taguchi). Sedang dengan menggunakan konsep Three
Sigma yang mengambil nilai Cp = 1,0, akan terdapat
2,7 komponen atau produk cacat dari setiap 1.000
komponen yang diperiksa atau dihasilkan.
• Intinya, Cp berkaitan dengan penyebaran output
proses relatif terhadap toleransinya, berarti tidak
melihat pada seberapa baik rata2 suatu proses
berada di tengah nilai target.
• Penggunaan Cp dalam menilai
kemampuan proses berdasarkan asumsi
bahwa rata-rata proses tepat berada di
pertengahan batas spesifikasi.
• Dalam kenyataan, hal ini jarang tercapai.
Untuk memperbaiki kelemahan diatas,
digunakan rasio Cpk, yang menyatakan
posisi rata-rata proses dibandingkan
dengan batas spesifikasi.
 • Makin tinggi nilai Cpk makin kecil presentasi produk
yang terletak di luar batas spesifikasi. Rumusnya:

(Batas Spesifikasi Atas – Xbar) (Xbar – Batas Spesifikasi Bawah)

Cpk = minimum --------------------------------------, ------------------------------------------
3σ 3σ

Dalam hal ini, Xbar = rata2 proses, sedang σ = standar deviasi populasi proses.
• Terkait dengan nilai Cpk, terdapat beberapa analisa
sebagai berikut:
1. Nilai Cpk negatif menunjukkan bahwa rata-rata
proses terletak di luar batas spesifikasi.
2. Nilai Cpk sama dengan nol menunjukkan rata-rata
proses sama dengan salah satu batas spesifikasi.
3. Nilai Cpk diantara nol dan satu menunjukkan rata-
rata proses terletak dalam batas spesifikasi tetapi
beberapa bagian dari variasi proses terletak di luar
batas spesifikasi.
4. Nilai Cpk yang lebih besar dari satu menunjukkan
seluruh variasi proses berada dalam batas
spesifikasi.
5. Nilai Cpk sama dengan nilai Cp menunjukkan bahwa
rata-rata proses terletak tepat ditengah-tengah
spesifikasi.
• Besaran CPL dan CPU dapat juga dibandingkan
terhadap kriteria berikut:
1.Kriteria penilaian CPL
a. Jika CPL > 1.33, proses akan mampu memenuhi
batas spesifikasi bawah (LSL/LCL).
b. Jika 1.00 ≤ CPL ≤ 1.33, proses masih mampu
memenuhi batas spesifikasi bawah (LSL/LCL),
namun perlu pengendalian ketat apabila CPL telah
mendekati 1.00.
c. Jika CPL <1.00, proses tidak mampu memenuhi batas
spsifikasi bawah (LSL/LCL).
2. Kriteria penilaian CPU
a. Jika CPU > 1.33, proses akan mampu
memenuhi batas spesifikasi atas
(USL/UCL).
b. Jika 1.00 ≤ CPU ≤ 1.33, proses masih
mampu memenuhi batas spesifikasi atas
(USL/UCL), namun perlu pengendalian
ketat apabila CPU telah mendekati 1.00.
c. Jika CPU < 1.00, proses tidak mampu
memenuhi batas spesifikasi atas
(USL/UCL).
Contoh Soal:
• Jika batas spefikasi atas 815 dan batas spesifikasi bawah 788
serta rata-rata proses sebesar 800. Tentukan Cp dan Cpk dari
sebuah proses dengan standar deviasi sebesar 1.
• Contoh menampilkan rencana perusahaan sbb.:
Maksimum kecacatan sebanyak 3,4 per 1 juta produk
Ketebalan sol (bagian dalam) sepatu olah raga, Xbar = 0,250
inci. Batas penyimpangan dari Xbar ke atas dan ke bawah
maks. 0,001 inci. Berarti batas spesifikasi atas = 0,251 inci dan
bawah = 0,249 inci. Rata2 proses baru, Xbar = 0,250 inci dan
deviasi standar proses baru, σ = 0,0005 inci
Pertanyaan : Apakah akan mengganti mesin yang ada sekarang
dengan Cpk = 1,0 dengan mesin baru yang ditargetkan akan
menghasilkan Cpk = 2,0 agar tercapai rencana produk cacat 3,4
komponen per 1 juta

(0,251 – 0,250) (0,250 – 0,249) 0,001

Cpk = minimum -------------------- , ---------------------- = --------- = 0,67
(3)(0,0005) (3)(0,0005) 0,0015

Kesimpulan : Karena mesin baru menghasilkan Cpk = 0,67, maka mesin lama
(Cpk = 1,0) tidak perlu diganti dengan mesin baru ( Cpk = 0,67)
 Contoh 1 - X bar dan R Chart
CV XYZ adalah perusahaan pembuat produk industri berupa barang. Ditetapkan spesifikasi
adalah : 2.40 ± 0,05 mm. Untuk mengetahui kemampuan proses dan mengendalikan
proses itu bagian pengendalian PT XYZ telah melakukan pengukuran terhadap 20 sampel
subgroup. Masing-masing berukuran 5 unit (n=5).

Diminta
Tentukan nilai CL, UCL dan LCL untuk membuat X bar dan R Chart
Tentukan nilai CPk
Jawaban Soal :
1. Nilai CL, UCL dan LCL X bar Chart dan R Chart
Menentukan nilai Rata-rata X dan Range untuk setiap subgroup
Rata-rata X dicari dengan cara:

Range dicari dengan cara :

Hasil perhitungan rata-rata X dan Range untuk setiap subgroup adalah sbb:
Nilai Cl, UCL dan LCL untuk Peta Kendali X bar (X bar Chart)
Menentukan nilai rata-rata dari X bar:

= 47.78 / 20 = 2.39

Menentukan nilai rata-rata R (range) :

= 1.19 / 20 = 0.06
Menentukan Nilai tengah (CL) untuk X bar Chart dan R Chart

= 2.39

CL - R Chart
= 0.06
Menentukan Batas Atas Kendali (UCL), dan
Batas Bawah Kendali (LCL) untuk Peta Kendali X bar

= 2.39+ 0.577*0,06 = 2.42

= 2.39 – (0.577*0.06) = 2.36

Catatan: Nilai A2 dapat dilihat di Tabel Nilai A2, d2, D3, D4

 Menentukan Batas Atas Kendali (UCL), dan Batas Bawah Kendali (LCL)
untuk Peta Kendali X bar:

= 2.115 * 0.06 = 0.12

= 0 * 0.06 = 0
Catatan: Nilai D3 dan D4 dapat dilihat di Tabel Nilai A2, d2, D3, D4

Selanjutnya membuat X bar dan R Chart dan semua data diplotkan ke Chart tersebut.

Dari hasil Plotting diketahui bahwa ada data yang out of control yaitu data
sampel 15, maka data pada sampel tersebut dibuang dan dilakukan Revisi
dengan menghitung ulang Cl, UCL dan LCL tanpa menggunakan data-data
yang out of control
Berikut perhitungan X bar dan Range setelah data dengan nilai X
bar yang out of control dihilangkan:
Selanjutnya dihitung ulang  nilai X bara rata-rata dan  R rata-rata :

= 45.34 / 19 = 2.386

= 1.15 / 19 = 0.0605

Kemudian nilai ini menjadi :

Nilai CL yang baru untuk X bar Chart dan R Chart

UCL dan LCL Peta Kendali X bar Revisi

= 2.386 + (0.577*0.0605) = 2.4209

= 2.386 – (0.577*0.0605) = 2.3511

Nilai UCL dan LCL Peta Kendali R Revisi

= 2.114 * 0.0605 = 0.1280
= 0 * 0.06 = 0
 Karena sudah tidak ada data yang out of control,  maka
langkah selanjutnya adalah menghitung kapabilitas proses.

2. Perhitungan Kapabilitas Proses :

Menentukan nilai S

atau 

= 0.0605/2.326 = 0.026
Catatan: Nilai d2 dapat dilihat di
Tabel Nilai A2 Untuk X bar Chart, Nilai d2 untuk Sigma Estimasi dan Nilai D
3, D4 untuk R Chart

Menentukan nilai Cp
Menentukan nilai UCL atau CPU

Menentukan nilai LCL atau CPL

Menentukan nilai Indeks Kapabilitas Proses

Kesimpulan terkait  kapabilitas proses adalah

Nilai Cp sebesar 0.6410  ternyata kurang dari 1, hal ini menunjukkan kapabilitas proses
untuk memenuhi spesifikasi yang ditentukan rendah.

Nilai Cpk sebesar 0.4615 yang diambil dari nilai CPL menunjukkan bahwa proses
cenderung mendekati  batas spesifikasi bawah.