7/25/2017

METODE ANALISIS METODE ANALISIS

• Atomic Absorption Spectrometry (AAS)
• X-Ray Fluoresence (XRF)
• X-Ray Difraction (XRD)

METODE ANALISIS AAS

ATOMIC
ABSORPTION
SPECTROSCOPY

1

• Ionisasi dari beberapa atom gas terjadi melalui
penggunaan perbedaan potensial kira-kira
300-400V diantara anoda dan katoda.
• Ion gas memborbardir katoda mengeluarkan
atom-atom logam dari katoda dalam proses
disebut sputtering
7/25/2017
Sistem Optis dan detektor
• Monokromator digunakan untuk memilih
panjang gelombang spesifik dari cahaya-terutama
garis spektral-yang diserap oleh sampel, dan tidak
termasuk panjang gelombang lainnya.
• Pemilihan dari spesifik cahaya memungkinkan
penentuan dari unsur terpilih dari yang ada.
• Cahaya terpilih oleh monokromator diarahkan
langsung kedalam detektor yang secara tipikal
tube fotomultiplier.
• Ini menghasilkan sebuah sinar elektrik
proporsional terhadap intensitas cahaya
2

Preparasi Sampel
• Sampel dapat berupa padat, cair dan gas
• Agar dapat dianalisis dengan AAS, sampel
harus berupa larutan jernih dan homogen
boleh berupa larutan berwarna
• Sampel berupa oli, darah, serum, dll harus
diencerkan dengan pelarut tertentu atau
diabukan kemudian dilarutkan
• Volume minimal 0,5 ml
• Bebas dari matriks pengganggu
XRF (X-ray fluorescence)
• Prinsip kerja analisis XRF adalah mengukur panjang
gelombang atau energi dan intensitas karakteristik foton
sinar-X yang dikeluarkan dari sampel.
• Ini memungkinkan identifikasi dari unsur yang ada di
dalam analit dan menentukan massa atau konsentrasinya.
• Semua informasi untuk analisis disimpan dalam
pengukuran spektrum, dimana semua garis spektrum
dengan semua garis karakteristik ditumpangkan di atas
fluktuasi background tertentu.
• Proses interaksi lainnya, terutama elastis dan nonelastis
tersebar dari radiasi primer pada sampel dan subtrat,
menginduksi background
• Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray
• Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer
• Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan
komposisi unsur suatu material. Karena metode ini
cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih
untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol
material. Tergantung pada penggunaannya, XRF dapat
dihasilkan tidak hanya oleh sinar-X tetapi juga sumber
• Proses deteksi dan analisa emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada
eksitasi primer yang lain seperti partikel alfa, proton
atau sumber elektron dengan energi yang tinggi
(Viklund, 2008).
7/25/2017
Contoh hasil analisis AAS
• XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan
teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk
identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang
ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair.
• XRF untuk mengukur unsur utama, jejak dan tanah
jarang, digunakan pada batuan vulkanik (Mikkola, dkk,
2010), plutonik (Irzon, 2013) dan sedimen (Ishihara,
dkk, 2005)
• XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be)
hingga Uranium pada level trace element, bahkan
dibawah level ppm. Secara umum, XRF spektrometer
mengukur panjang gelombang komponen material
secara individu dari emisi flourosensi yang dihasilkan
sampel saat diradiasi dengan sinar-X (PANalytical,
2009).
Prinsip kerja XRF
atau sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau
dihamburkan oleh material.
energinya pada elektron yang terdapat pada kulit yang lebih dalam
disebut efek fotolistrik. Selama proses ini, bila sinar-X primer memiliki
cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di dalam menimbulkan
kekosongan. Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak
stabil. Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar
pindah ke kulit yang lebih dalam dan proses ini menghasilkan energi
sinar-X yang tertentu dan berbeda antara dua energi ikatan pada kulit
tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan dari proses yang disebut X Ray
Fluorescence (XRF).
umumnya kulit K dan L terlibat pada deteksi XRF. Sehingga sering
terdapat istilah Kα dan Kβ serta Lα dan Lβ pada XRF. Jenis spektrum X
ray dari sampel yang diradiasi akan menggambarkan puncak-puncak
pada intensitas yang berbeda (Viklund, 2008).
3
 7/25/2017

Jenis XRF
• Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-
dispersive X-ray Fluorescence) dimana dispersi sinar-X
didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang
berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang
spesifik memilih panjang gelombang yang sesuai dengan
hukum bragg (PANalytical, 2009).

Dengan menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical,

2009):
• aplikasinya luas dan beragam.
• Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen
dapat diprogram.
• Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.
• Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat
rendah

prinsip kerja WDXRF(Gosseau,2009.) • Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan

mengemisikan radiasi ke segala arah. Radiasi
dengan dengan arah yang spesifik yang dapat
mencapai colimator. Sehingga refleksi sinar
radiasi dari kristal kedetektor akan memberikan
sudut θ. Sudut ini akan terbentuk jika, panjang
gelombang yang diradiasikan sesuai dengan
sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal. Maka hanya
panjang gelombang yang sesuai akan terukur
oleh detektor. Karena sudut refleksi spesifik
bergantung panjang gelombang, maka untuk
pengukuran elemen yang berbeda, perlu
dilakukan pengaturan posisi colimator, kristal
serta detektor (Gosseau, 2009).

prinsip kerja EDXRF (Gosseau, 2009): • EDXRF (Energy-dispersive X-ray Fluorescence)

spektrometri bekerja tanpa menggunakan kristal,
namun menggunakan software yang mengatur seluruh
radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009).
Radiasi Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan
langsung ditangkap oleh detektor. Detektor menangkap
foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi
impuls elektrik. Amplitudo dari impuls elektrik tersebut
bersesuaian dengan energi dari foton – foton yang
diterima detektor. Impuls kemudian menuju sebuah
perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel
Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut.
Sehingga akan terbaca dalam memori komputer
sebagai channel. Channel tersebut yang akan
memberikan nilai spesifik terhadap sampel yang
dianalisa. Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya yang
relatif rendah, namun keakuratan berkurang.
(Gosseau,2009).

4
 7/25/2017

Kelebihan dan kekurangan XRF

Kelebihan dari XRF : Kekurangan dari XRF :
• Cukup mudah, murah dan analisanya cepat • Tidak cocok untuk analisa element yang ringan
• Jangkauan elemen Hasil analisa akurat seperti H dan He
• Membutuhan sedikit sampel pada tahap • Analisa sampel cair membutuhkan volume gas
preparasinya(untuk Trace elemen) helium yang cukup besar
• Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor • Preparasi sampel biasanya membutuhkan
(Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) maupun
tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, waktu yang cukup lama dan membutuhkan
La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) perlakuan yang banyak

Prosedur Analisis XRF pada Sampel

XRF portable Endapan Sungai
• Prosedur analisis dimulai dengan preparasi contoh yaitu sebanyak 5 gr sampel berukuan
200# dan 1 gr polivynil alkohol ditimbang menggunakan cawan timbang. Campuran
bahan kemudian digerus menggunakan mortar agate hingga tercampur. Sebelum
ditekan dengan alat pembuat pelllet selama 10 detik, 2 gr asam borat ditambahkan
dalam otol timbang. Ring pellet kemudian dimasukkan ke dalam oven dan dipanaskan
selama 10 menit. Hasil pemanasan ini yang kemudian diukur dengan XRF. 5 buah
certified reference material (CRM) digunakan, yakni STSD 1, STSD 2, STSD 3, STSD 4,
DAN LKSD 1-4. Sebagai bahankalibrasi, CRM harus mampu digunakan untuk
menentukan overlping line dan background koreki (Irzon, dkk., 2011). Seluruh CRM
dipreparasi dengan rangkaian yang sama dengan contoh. Limit deteksi pada pengukuran
ini terbagi dalam 2 kelompok: 50 ppm untuk kelompok unsur utama dan 10 ppm untuk
unsur jejak.
• Selanjutnya dilakukan analisis Lost of Ignition (LOI) yang dimulai dengan memanaskan
cawan porselen pada suhu 3000C dalam furnace. Selesai pemanasan, cawan didinginkan
dalam desikator untuk kemudian ditimbang guna mendapatkan erat cawan kosong. 1gr
contoh dimasukkan dalam cawan kosong tersebut., kemudian cawan tersebut dibakar
dalam furnace dengan suhu 10000C selama 1 jam. Setelah pendinginan dalam desikator,
cawan kemudian ditimbang untuk mendapatkan cawan+residu
http://www.allproducts.com/manufacture100/skyray/product2.jpg

5
 7/25/2017

Pengolahan Data

Pengambilan Cotoh SS 80#,

40#, dan Grab dengan grid 5
km (Diberi penomoran dan
deskripsi sampel Data Base

Pengeringan sampel
(oven) 80# dan 40#

Penggerusan sampel
80# menjadi berukuran
200#

Pencetakan sampel ke
dalam ring untuk
diproses analisa di
dalam mesin XRF

Pemrosesan analisis
sampel dengan metode
XRF

Keluar unsur kimia yang

ada di dalam sampel
(Tabel unsur kimia)

Pemrosesan data unsur

kimia dengan ARC GIS

Peta Sebaran Unsur Kimia

Album Peta dan Laporan

Publikasi

XRD
• Difraksi serbuk sinar-X (XRD) adalah teknik
analisis primer cepat digunakan untuk
identifikasi fase dari sebuah material kristal
dan dapat memberikan informasi pada
dimensi unit sel.
• Material analisis ditumbuk halus, homogen,
dan komposisi massa ditentukan

• metode difraksi sinar-X digunakan untuk

mendapatkan informasi struktur kristal
material logam maupun paduan, mineral,
senyawa inorganic, polimer, material
organik, superkonduktor (Suharyana,
2012), orientasi kristal, jenis kristal,
ukuran butir, konstanta kisi dan lain-lain.
Pada perusahaan semen dan perusahaan
besar lain, XRD digunakan sebagai alat uji
jaminan mutu suatu bahan.

6
 7/25/2017

Difraksi Cahaya Signifikansi bentuk puncak di XRD

• Difraksi cahaya terjadi ketika seberkas cahaya • Posisi Puncak
melewati sebuah celah yang lebarnya seorde • Lebar Puncak
dengan panjang gelombang cahaya. • Intensitas Puncak

• Yang terjadi adalah penyebaran/hamburan

dan penguatan amplitudo gelombang.

• Syarat difraksi: d dan λ setara

Lebar Puncak-Lebar Penuh pada Maksimum

tengah

Aplikasi XRD
• XRD adalah teknik tidak merusak
• Mengidentifikasi fase kristalin dan orientasi
• Menentukan sifat struktur:
– Parameter kisi-kisi (10-4Å), tegangan, ukuran butir, expitaxy,
komposisi bentuk, orientasi istimewa (Laue) transformasi
orde-disorde, ekspansi panas
• Mengukur ketebalan dari film tipis dan lapisan banyak
• Menentukan susunan atom
• Batas deteksi: ~3% di campuran 2 fase; bisa jadi ~1%
dengan radiasi sinkrotron
• Resolusi spasial: secara normal tidak ada

7
 7/25/2017

XRD X-RAY DIFFRACTION

Karakterisasi Bubuk TiO2 dengan XRD

• XRD merupakan suatu metode karakterisasi
dan identifikasi yang digunakan untuk
menentukan jarak antar atom, bentuk kristal
dan ukuran kristal. Prinsip XRD ini ialah
dengan melihat sudut pantul dari sinar yang di
tembakkan ke sampel. Karena setiap materi
akan memiliki sudut pantul yang spesifik. Pada
XRD digunakan sudut 2θ sebagai suatu
variabel untuk mengukur sudut pantul dari
tiap atom.

8
 7/25/2017

TiO2 fase rutil TiO2 fase anatase

Sampel :
Empat TiO2 komersial yang digunakan dalam
percobaan ini :
• 99,7% anatase, nanopowder
• 99,8% anatase,micropowder,
• 99,5% rutil, nanopowder
• 99,9% rutil, micropowder.

• Dari Gambar 1 dan Gambar 2, menunjukkan bahwa

pola difraksi puncak intensitas TiO2 meningkat
sebanding dengan ukuran partikel meningkat. Hasil
penelitian menunjukkan bahwa serbuk nano-TiO2
terdiri dari polikristalin tidak teratur. Adanya amorf
mengungkapkan adanya pola yang luas dengan
intensitas rendah; Namun, efek dari bahan amorf
pada perluasan dari pola XRD pada nanoTiO2
diabaikan. Pada fase rutil, d-spacing yang didapat
0.301 nm sedangkan anatase d-spacing yang
didapat yaitu 0.313 nm